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정 진폭 이진 직교 변조 방식에서 오류 정정을 위한 블록합 검사 방법

  • 기술번호 : KST2015146340
  • 담당센터 : 경기기술혁신센터
  • 전화번호 : 031-8006-1570
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 정 진폭 이진 직교 변조 방식에서 오류 정정을 위한 블록 합 검사 방법에 관한 것으로, 보다 자세하게는 블록 합 검사를 통해 오류를 정정하여 성능을 개선하는 방법에 관한 것이다. 본 발명의 정 진폭 이진 직교 변조 방식에서 오류 정정을 위한 블록 합 검사 방법은 데이터 신호를 검출하고 상기 검출된 신호 중 정보 비트를 이용하여 잉여 비트를 재생성 및 비교하는 단계 및 상기 단계 후 패리티 비트를 재생성 및 비교하는 단계로 이루어짐에 기술적 특징이 있다. 따라서, 본 발명의 정 진폭 이진 직교 변조 방식에서 오류 정정을 위한 블록 합 검사 방법은 정 진폭을 만들기 위해서 추가한 잉여 비트와 새롭게 추가한 패리티 비트를 이용하여 격자 형태로 부호를 구성함으로써, 수신 비트에 대하여 오류를 검출하거나 정정할 수 있는 장점이 있고, 성능을 개선하는 효과가 있다. 코드분할 다중접속, 정 진폭 이진 직교, 패리티 검사, 블록 합
Int. CL H04L 1/00 (2006.01)
CPC H04L 1/0061(2013.01) H04L 1/0061(2013.01)
출원번호/일자 1020030086913 (2003.12.02)
출원인 전자부품연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2005-0053424 (2005.06.08) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 거절
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2003.12.02)
심사청구항수 5

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자기술연구원 대한민국 경기도 성남시 분당구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 홍인기 대한민국 경기도성남시분당구
2 조진웅 대한민국 경기도용인시구
3 강성진 대한민국 경기도성남시분당구
4 전선도 대한민국 서울특별시양천구
5 이장연 대한민국 경기도성남시분당구
6 주세준 대한민국 경기도성남시분당구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 서천석 대한민국 서울특별시 서초구 서초중앙로**길 **, *층 (서초동, 서초다우빌딩)(특허법인세하)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application		 2003.12.02 수리 (Accepted) 1-1-2003-0460791-48
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2005.04.15 수리 (Accepted) 4-1-2005-5036534-08
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2005.07.13 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2005.08.17 수리 (Accepted) 9-1-2005-0051451-81
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2005.10.04 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2005-0497845-97
6 의견서
Written Opinion		 2005.11.25 수리 (Accepted) 1-1-2005-0685028-75
7 거절결정서
Decision to Refuse a Patent		 2005.12.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2005-0660575-44
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2013.04.17 수리 (Accepted) 4-1-2013-0013766-37
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2020.08.24 수리 (Accepted) 4-1-2020-5189497-57
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
정 진폭 이진 직교 변조 방식에서 오류 정정을 위한 블록 합 검사 방법에 있어서, 데이터 신호를 검출하고 상기 검출된 신호 중 정보 비트를 이용하여 잉여 비트를 재생성 및 비교하는 단계; 및 상기 단계 후 패리티 비트를 재생성 및 비교하는 단계 를 포함하여 이루어짐을 특징으로 하는 정 진폭 이진 직교 변조 방식에서 오류 정정을 위한 블록 합 검사 방법
2 2
제 1항에 있어서, 상기 잉여 비트를 비교하는 단계는 수신된 잉여 비트와 계산된 잉여 비트를 비교하여 일치하지 않을 경우 오류열을 검출하는 것을 특징으로 하는 정 진폭 이진 직교 변조 방식에서 오류 정정을 위한 블록 합 검사 방법
3 3
제 1항에 있어서, 상기 패리티 비트를 비교하는 단계는 수신된 패리티 비트와 계산된 패리티 비트를 비교하여 일치하지 않을 경우 오류 위치를 검출하는 것을 특징으로 하는 정 진폭 이진 직교 변조 방식에서 오류 정정을 위한 블록 합 검사 방법
4 4
제 1항에 있어서, 상기 데이터 신호는 정보 비트, 잉여 비트 및 패리티 비트를 포함하는 것을 특징으로 하는 정 진폭 이진 직교 변조 방식에서 오류 정정을 위한 블록 합 검사 방법
5 5
제 4항에 있어서, 상기 데이터 신호는 이진 직교 부호를 사용하여 검출하는 것을 특징으로 하는 정 진폭 이진 직교 변조 방식에서 오류 정정을 위한 블록 합 검사 방법
6 5
제 4항에 있어서, 상기 데이터 신호는 이진 직교 부호를 사용하여 검출하는 것을 특징으로 하는 정 진폭 이진 직교 변조 방식에서 오류 정정을 위한 블록 합 검사 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.