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XOR 논리를 이용한 n 비트 순환 중복 검사 생성 방법및 이를 이용한 병렬 순환 중복 검사 생성기

  • 기술번호 : KST2015146441
  • 담당센터 : 경기기술혁신센터
  • 전화번호 : 031-8006-1570
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 XOR 논리를 이용한 n(n은 2 이상의 자연수) 비트 순환 중복 검사(CRC) 데이터 생성 방법으로서, (a) 1이상 n 이하의 값을 가지는 변수 i, j에 대하여, 종래 CRC 생성을 위한 선형 피드백 쉬프트 레지스터(LFSR)의 i번째 레지스터 Fi 값을 Xj(Xj는 입력 데이터의 j번째 비트인 Dj와 상기 CRC 데이터의 j번째 비트의 초기값 Cj의 XOR 논리 연산값임)의 XOR 연산값으로 표시하여, n×n 행렬 를 gij는 상기 Fi가 Xj의 XOR 연산을 통하여 생성되는 경우 '1'이고 그렇지 않은 경우는 '0'으로 정의되도록 생성하는 단계와, (b) 행렬 G에 대해서 '1'의 개수가 가장 많은 열을 검색하여 이 열을 A열로 설정하는 단계와, (c) A열과 행렬 G의 나머지 다른 모든 열을 비교하여 그 중 A열과 공통으로 '1'을 포함하고 있는 같은 행의 개수가 가장 많은 열을 검색하여 이 열을 B열로 설정하는 단계와, (d) A열과 B열에서 같은 행에 공통으로 포함되어 있는 '1'을 A열 및 B 열 모두에서 '0'으로 변경하여 행렬 G를 다시 저장하는 단계와, (e) B열의 '1'의 개수가 0인지 검사하여 0이면 종료하고 0이 아니면 그렇지 않은 경우 B열의 '1'의 개수가 0이 될 때까지 단계 (b) 내지 단계 (d)를 반복하는 단계를 포함하는 XOR 논리를 이용한 n 비트 순환 중복 검사 데이터 생성 방법에 관한 것이다. 본 발명에 따르면, 입력 데이터와 CRC 내부 신호를 두 개 단위로 그룹화하여 각 플립플롭의 결과를 위한 XOR 게이트의 개수를 최소화하며 논리레벨을 줄여줌으로써 고속 데이터 시스템의 CRC 계산시 적은 면적으로 고속의 계산이 가능하도록 하고, 이로써 고속의 데이터 통신 시스템에서 수신 데이터 오류 검출 방법에 유용하게 사용될 수 있다. CRC, 병렬, XOR 논리, 유사코드, 논리 레벨, 도달 시간, 셀 면적
Int. CL G06F 11/10 (2006.01) G06F 11/00 (2006.01)
CPC G06F 11/1004(2013.01)
출원번호/일자 1020040104027 (2004.12.10)
출원인 전자부품연구원
등록번호/일자 10-0578721-0000 (2006.05.04)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20060512) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2004.12.10)
심사청구항수 14

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자기술연구원 대한민국 경기도 성남시 분당구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 민병우 대한민국 경기 성남시 분당구
2 박성주 대한민국 경기 안산시 상록구
3 박창원 대한민국 경기 수원시 팔달구
4 이형수 대한민국 서울 송파구
5 전기만 대한민국 경기 성남시 분당구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인(유한) 다래 대한민국 서울 강남구 테헤란로 ***, **층(역삼동, 한독타워)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 전자부품연구원 대한민국 경기도 성남시 분당구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2004.12.10 수리 (Accepted) 1-1-2004-0582185-52
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2005.04.15 수리 (Accepted) 4-1-2005-5036534-08
3 등록결정서
Decision to grant
2006.04.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2006-0249595-17
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.04.17 수리 (Accepted) 4-1-2013-0013766-37
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.08.24 수리 (Accepted) 4-1-2020-5189497-57
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
XOR 논리를 이용한 n(n은 2 이상의 자연수) 비트 순환 중복 검사(CRC) 데이터 생성 방법으로서, (a) 1이상 n 이하의 값을 가지는 변수 i, j에 대하여, 종래 CRC 생성을 위한 선형 피드백 쉬프트 레지스터(LFSR)의 i번째 레지스터 Fi 값을 Xj(Xj는 입력 데이터의 j번째 비트인 Dj와 상기 CRC 데이터의 j번째 비트의 초기값 Cj의 XOR 논리 연산값임)의 XOR 연산값으로 표시하여, n×n 행렬 를 gij는 상기 Fi가 Xj의 XOR 연산을 통하여 생성되는 경우 '1'이고 그렇지 않은 경우는 '0'으로 정의되도록 생성하는 단계와, (b) 행렬 G에 대해서 '1'의 개수가 가장 많은 열을 검색하여 이 열을 A열로 설정하는 단계와, (c) A열과 행렬 G의 나머지 다른 모든 열을 비교하여 그 중 A열과 공통으로 '1'을 포함하고 있는 같은 행의 개수가 가장 많은 열을 검색하여 이 열을 B열로 설정하는 단계와, (d) A열과 B열에서 같은 행에 공통으로 포함되어 있는 '1'을 A열 및 B 열 모두에서 '0'으로 변경하여 행렬 G를 다시 저장하는 단계와, (e) B열의 '1'의 개수가 0인지 검사하여 0이면 종료하고 0이 아니면 그렇지 않은 경우 B열의 '1'의 개수가 0이 될 때까지 단계 (b) 내지 단계 (d)를 반복하는 단계 를 포함하는 XOR 논리를 이용한 n 비트 순환 중복 검사 데이터 생성 방법
2 2
제1항에 있어서, 상기 단계 (b)는 행렬 G에 대해서 '1'의 개수가 가장 많은 열이 2 이상인 경우 j값이 가장 낮은 열을 A열로 설정하는 단계를 포함하는 것인 XOR 논리를 이용한 n 비트 순환 중복 검사 데이터 생성 방법
3 3
제1항에 있어서, 상기 단계 (c)는 A열과 공통으로 '1'을 포함하고 있는 같은 행의 개수가 가장 많은 열이 2 이상인 경우 j값이 가장 낮은 열을 B열로 설정하는 단계를 포함하는 것인 XOR 논리를 이용한 n 비트 순환 중복 검사 데이터 생성 방법
4 4
제1항에 있어서, 상기 행렬 G는 ITU TSS 표준에 따라 다항식 P(x) = x16 + x12 + x5 + 1을 사용하여 생성되고, n=16인 것인 XOR 논리를 이용한 n 비트 순환 중복 검사 데이터 생성 방법
5 5
제1항에 있어서, 상기 행렬 G는 HDLC 표준에 따라 다항식 P(X)=X16+X15+X2+1을 사용하여 생성되고, n=16인 것인 XOR 논리를 이용한 n 비트 순환 중복 검사 데이터 생성 방법
6 6
제1항에 있어서, 상기 행렬 G는 이더넷 표준에 따라 다항식 P(X)=X32+X26+X23+X22+X16+X12+X11+X10+X9+X7+X5+X4+X2+X1+1을 사용하여 생성되고, n=32인 것인 XOR 논리를 이용한 n 비트 순환 중복 검사 데이터 생성 방법
7 7
XOR 논리를 이용한 n(n은 2 이상의 자연수) 비트 병렬 순환 중복 검사(CRC) 생성기로서, 입력되는 데이터와 상기 CRC 생성기에 저장된 n 비트 데이터의 초기값을 비트별로 각각 XOR 연산하여 n비트의 X값을 생성하고 상기 n비트의 X값 중에서 CRC 데이터의 i(i는 1이상 n이하의 정수)번째 비트값의 생성을 위해서 공통으로 XOR 연산되는 값들을 그룹화하여 m(1이상 n 이하의 정수) 비트 데이터인 Y로 설정하고 공통되지 않은 값을 k(1이상 n이하의 정수) 비트 데이터인 W로 설정하는 제1 XOR 논리와, 상기 제1 XOR 논리의 출력값인 Y와 W를 각 표준에 따른 다항식에 의해서 생성되는 CRC 논리 연산 방법에 따라 미리 정해진 방식으로 비트별로 XOR 연산하여 n비트 CRC 데이터를 생성하는 제2 XOR 논리와, 상기 생성된 n비트 CRC 데이터를 저장하며 인에이블 신호 및 클럭에 따라서 저장된 CRC 데이터를 출력하는 CRC 레지스터 를 포함하는 XOR 논리를 이용한 n 비트 병렬 순환 중복 검사 생성기
8 8
제7항에 있어서, 상기 표준에 따른 다항식은, ITU TSS 표준에 따른 다항식 P(x) = x16 + x12 + x5 + 1이고, n=16인 것인 XOR 논리를 이용한 n 비트 병렬 순환 중복 검사 생성기
9 9
제7항에 있어서, 상기 표준에 따른 다항식은, HDLC 표준에 따른 다항식 P(X)=X16+X15+X2+1이고, n=16인 것인 XOR 논리를 이용한 n 비트 병렬 순환 중복 검사 생성기
10 10
제7항에 있어서, 상기 표준에 따른 다항식은, 이더넷 표준에 따른 다항식 P(X)=X32+X26+X23+ X22+X16+X12+X11+X10+X9+X7+X5+X4+X2+X1+1이고, n=32인 것인 XOR 논리를 이용한 n 비트 병렬 순환 중복 검사 생성기
11 11
제7항에 있어서, 상기 제1 XOR 논리는, (a) 1이상 n 이하의 값을 가지는 변수 i, j에 대하여, 종래 CRC 생성을 위한 선형 피드백 쉬프트 레지스터(LFSR)의 i번째 레지스터 Fi 값을 Xj(Xj는 입력 데이터의 j번째 비트인 Dj와 상기 CRC 데이터의 j번째 비트의 초기값 Cj의 XOR 논리 연산값임)의 XOR 연산값으로 표시하여, n×n 행렬 를 gij는 상기 Fi가 Xj의 XOR 연산을 통하여 생성되는 경우 '1'이고 그렇지 않은 경우는 '0'으로 정의되도록 생성하는 수단과, (b) 행렬 G에 대해서 '1'의 개수가 가장 많은 열을 검색하여 이 열을 A열로 설정하는 수단과, (c) A열과 행렬 G의 나머지 다른 모든 열을 비교하여 그 중 A열과 공통으로 '1'을 포함하고 있는 같은 행의 개수가 가장 많은 열을 검색하여 이 열을 B열로 설정하는 수단과, (d) A열과 B열에서 같은 행에 공통으로 포함되어 있는 '1'을 A열 및 B 열 모두에서 '0'으로 변경하여 행렬 G를 다시 저장하는 수단과, (e) B열의 '1'의 개수가 0인지 검사하여 0이면 종료하고 그렇지 않은 경우 B열의 '1'의 개수가 0이 될 때까지 수단 (b) 내지 수단 (d)를 반복하는 수단 을 통하여 Y 및 W를 생성하는 것인 XOR 논리를 이용한 n 비트 병렬 순환 중복 검사 생성기
12 12
제11항에 있어서, 상기 수단 (b)는 행렬 G에 대해서 '1'의 개수가 가장 많은 열이 2 이상인 경우 j값이 가장 낮은 열을 A열로 설정하는 수단을 포함하는 것인 XOR 논리를 이용한 n 비트 병렬 순환 중복 검사 생성기
13 13
제11항에 있어서, 상기 수단 (c)는 A열과 공통으로 '1'을 포함하고 있는 같은 행의 개수가 가장 많은 열이 2 이상인 경우 j값이 가장 낮은 열을 B열로 설정하는 수단을 포함하는 것인 XOR 논리를 이용한 n 비트 병렬 순환 중복 검사 생성기
14 14
(a) 1이상 n 이하의 값을 가지는 변수 i, j에 대하여, 종래 CRC 생성을 위한 선형 피드백 쉬프트 레지스터(LFSR)의 i번째 레지스터 Fi 값을 Xj(Xj는 입력 데이터의 j번째 비트인 Dj와 상기 CRC 데이터의 j번째 비트의 초기값 Cj의 XOR 논리 연산값임)의 XOR 연산값으로 표시하여, n×n 행렬 (n은 2 이상의 자연수) 를 gij는 상기 Fi가 Xj의 XOR 연산을 통하여 생성되는 경우 '1'이고 그렇지 않은 경우는 '0'으로 정의되도록 생성하는 기능 블록과, (b) 행렬 G에 대해서 '1'의 개수가 가장 많은 열을 검색하여 이 열을 A열로 설정하는 기능 블록과, (c) A열과 행렬 G의 나머지 다른 모든 열을 비교하여 그 중 A열과 공통으로 '1'을 포함하고 있는 같은 행의 개수가 가장 많은 열을 검색하여 이 열을 B열로 설정하는 기능 블록과, (d) A열과 B열에서 같은 행에 공통으로 포함되어 있는 '1'을 A열 및 B 열 모두에서 '0'으로 변경하여 행렬 G를 다시 저장하는 기능 블록과, (e) B열의 '1'의 개수가 0인지 검사하여 0이면 종료하고 그렇지 않은 경우 B열의 '1'의 개수가 0이 될 때까지 기능 블록 (b) 내지 기능 블록 (d)를 반복하는 기능 블록 을 포함하는 프로그램을 기록한 컴퓨터로 판독할 수 있는 기록매체
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(a) 1이상 n 이하의 값을 가지는 변수 i, j에 대하여, 종래 CRC 생성을 위한 선형 피드백 쉬프트 레지스터(LFSR)의 i번째 레지스터 Fi 값을 Xj(Xj는 입력 데이터의 j번째 비트인 Dj와 상기 CRC 데이터의 j번째 비트의 초기값 Cj의 XOR 논리 연산값임)의 XOR 연산값으로 표시하여, n×n 행렬 (n은 2 이상의 자연수) 를 gij는 상기 Fi가 Xj의 XOR 연산을 통하여 생성되는 경우 '1'이고 그렇지 않은 경우는 '0'으로 정의되도록 생성하는 기능 블록과, (b) 행렬 G에 대해서 '1'의 개수가 가장 많은 열을 검색하여 이 열을 A열로 설정하는 기능 블록과, (c) A열과 행렬 G의 나머지 다른 모든 열을 비교하여 그 중 A열과 공통으로 '1'을 포함하고 있는 같은 행의 개수가 가장 많은 열을 검색하여 이 열을 B열로 설정하는 기능 블록과, (d) A열과 B열에서 같은 행에 공통으로 포함되어 있는 '1'을 A열 및 B 열 모두에서 '0'으로 변경하여 행렬 G를 다시 저장하는 기능 블록과, (e) B열의 '1'의 개수가 0인지 검사하여 0이면 종료하고 그렇지 않은 경우 B열의 '1'의 개수가 0이 될 때까지 기능 블록 (b) 내지 기능 블록 (d)를 반복하는 기능 블록 을 포함하는 프로그램을 기록한 컴퓨터로 판독할 수 있는 기록매체
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