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선형표시장치용테스트장치및테스트방법

  • 기술번호 : KST2015146455
  • 담당센터 : 경기기술혁신센터
  • 전화번호 : 031-8006-1570
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명에 따른 선형 표시 장치의 테스트 장치는 스캐너에 연결되어 거울의 변위를 측정하는 센서와, 상기 센서로부터의 출력 신호를 입력 받아 상기 스캐너의 공진 주파수를 측정하고 거울의 비선형 변화에 의한 화상의 왜곡을 조정하기 위한 가변 클럭 신호를 생성하는 패턴 발생기를 포함한다. 이러한, 선형 표시 장치의 테스트 장치는 임의의 스캐너의 공진 주파수를 측정하고, 가변 클럭 신호를 생성하여 거울의 비선형 변화에 의한 화면 왜곡을 조정할 수 있다.
Int. CL G09G 3/00 (2006.01.01) G01H 13/00 (2006.01.01)
CPC G09G 3/006(2013.01) G09G 3/006(2013.01)
출원번호/일자 1019980003076 (1998.02.04)
출원인 한국전자기술연구원
등록번호/일자 10-0274975-0000 (2000.09.18)
공개번호/일자 10-1999-0069057 (1999.09.06) 문서열기
공고번호/일자 (20001215) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (1998.02.04)
심사청구항수 4

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자기술연구원 대한민국 경기도 성남시 분당구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 문현찬 대한민국 경기도 군포시

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 송만호 대한민국 서울(특허법인 퇴사후 사무소변경 미신고)
2 장성구 대한민국 서울특별시 서초구 마방로 ** (양재동, 동원F&B빌딩)(제일특허법인(유))
3 유미특허법인 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 서림빌딩 **층 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 전자부품연구원 대한민국 경기도 평택시
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
1998.02.04 수리 (Accepted) 1-1-1998-0009813-77
2 대리인선임신고서
Notification of assignment of agent
1998.02.04 수리 (Accepted) 1-1-1998-0009814-12
3 출원심사청구서
Request for Examination
1998.02.04 수리 (Accepted) 1-1-1998-0009815-68
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
1999.01.14 수리 (Accepted) 4-1-1999-0005793-30
5 출원인명의변경신고서
Applicant change Notification
1999.02.23 수리 (Accepted) 1-1-1999-5084190-96
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2000.03.31 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2000-0068976-35
7 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.
2000.05.30 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2000-5156617-49
8 의견서
Written Opinion
2000.05.30 수리 (Accepted) 1-1-2000-5156589-58
9 등록사정서
Decision to grant
2000.08.21 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2000-0204730-79
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2005.04.15 수리 (Accepted) 4-1-2005-5036534-08
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.04.17 수리 (Accepted) 4-1-2013-0013766-37
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.08.24 수리 (Accepted) 4-1-2020-5189497-57
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1

1차원의 화상을 생성하는 발광 다이오드 어레이와, 상기 발광 다이오드 어레이로부터의 1차원 화상 신호를 투시창으로 반사시키는 거울과, 상기 거울을 좌우로 진동시켜 상기 1차원 화상 신호가 2차원 화상 신호로 되도록 하는 스캐너로 이루어지는 선형 표시 장치의 테스트 장치에 있어서,

상기 스캐너에 연결되어 거울의 비선형 변화에 의해 최대 변위시에 펄스를 발생시키는 포토 인터럽트인 센서와,

테스트하고자 하는 선형 표시 장치의 정보를 외부에서 입력하는 키입력부, 상기 선형 표시 장치의 사양에 맞는 표준 화상을 저장하는 메모리, 상기 발광 다이오드 어레이를 구동시키는 발광 다이오드 어레이 드라이버, 상기 센서로부터의 출력 신호와 상기 키 입력부의 입력 신호를 입력받아 상기 메모리와 상기 발광 다이오드 어레이 드라이버를 제어하는 CPU를 포함하는 패턴 발생기를 포함하는 선형 표시 장치용 테스트 장치

2 2

제1항에서,

상기 CPU에 의해 제어되며, 각각의 구간별로 다른 주파수의 클럭 신호를 생성하는 프로그램 가능한 클럭 발생기를 더 포함하는 선형 표시 장치용 테스트 장치

3 3

제2항에서,

상기 CPU는 거울의 초기 각도, 거울의 최대 회전각, 거울의 회전축, 스캐너의 중심축을 고려하여 프로그램 가능한 클럭 발생기의 클럭신호를 제어하는 선형 표시 장치용 테스트 장치

4 4

1차원의 화상을 생성하는 발광 다이오드 어레이와, 상기 발광 다이오드 어레이로부터의 1차원 화상 신호를 투시창으로 반사시키는 거울과, 상기 거울을 좌우로 진동시켜 상기 1차원 화상 신호가 2차원 화상 신호로 되도록 하는 스캐너로 이루어지는 선형 표시 장치의 테스트 방법에 있어서,

상기 거울의 진동으로 인한 상기 거울의 최대 변위시에 펄스를 발생시키는 단계와,

상기 펄스를 소정 시간 동안 측정하여 그 편차가 일정값 이하인지를 확인하는 단계와,

상기 편차가 일정값 이하인 경우, 거울의 진동이 안정되었다고 판단하여 스캐닝 주파수를 측정하는 단계와,

상기 스캐닝 주파수와 선형 표시 장치의 해상도를 고려하여 상기 발광 다이오드 어레이의 발광 주기를 구하는 단계와,

각각의 구간별로 다른 주파수를 가지는 가변 클럭 신호에 동기하여 상기 발광 다이오드 어레이를 발광시키는 단계를 포함하는 선형 표시 장치의 테스트 방법

지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.