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고감도 이미지 센서 및 그 제조방법

  • 기술번호 : KST2015146516
  • 담당센터 : 경기기술혁신센터
  • 전화번호 : 031-8006-1570
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 SOI(Silicon On Insulator, 이하 SOI) 기판 상에 형성된 게이트 및 LBT(Lateral Bipolar transistor, 이하 LBT) 현상을 효과적으로 조절하여 빛에 의해 여기된 전자(Electron)를 SOIMOSFET(Silicon On Insulator Metal Oxide Semiconductor Field Effect transistor, 이하 SOIMOSFET)의 부유 바디(Floating Body)에 축적되도록 함으로써 FET의 바디 포텐셜(Body Potential)을 광여기 캐리어에 선형적으로 증가시켜 결국, FET의 문턱 전압을 조절하여 광응답을 전류가 증대시킴으로써 광전변환 효율의 증가와 동시에 고감도, 고집적 이미지센서에 응용할 수 있는 단위 화소 구조의 최적화에 관한 것이다. 본 발명의 고감도 이미지센서 및 그 제조방법은 SOI 기판 상에 마스크를 이용하여 소정 영역의 활성 실리콘 및 매몰 산화막을 식각하여 P 형의 하부 실리콘 기판을 노출시키는 단계; 상기 노출된 P 형 기판에 N 형의 이온을 주입하여 N 형 영역을 형성하는 단계; 상기 하부 실리콘 기판을 노출시키는 단계에서 식각되지 않은 활성 실리콘을 패턴하여 십자형 활성 실리콘을 형성하는 단계; 상기 십자형 활성 실리콘의 마주보는 두 영역의 소정 부분에 N 형 이온을 주입하여 N 형 영역을 형성하는 단계; 상기 십자형 활성 실리콘의 상기 N 형 영역이 형성된 영역을 제외한 마주보는 두 영역의 소정 부분에 P 형 이온을 주입하여 P 형 영역을 형성하는 단계; 상기 십자형 활성 실리콘의 상부에 게이트 산화막 및 게이트를 형성하는 단계; 및 상기 십자형 활성 실리콘의 P 형 영역과 상기 포토 다이오드의 N 형 영역을 연결하는 연결부를 형성하는 단계를 포함하여 이루어짐에 기술적 특징이 있다. 따라서, 본 발명의 고감도 이미지센서 및 그 제조방법은 SOI 기판을 이용함으로써 암 전류를 낮출 수 있고, 단위 소자의 크기를 줄 일수 있을 뿐만 아니라, 기생적인 부유 캐패시턴스를 줄일 수 있어 고속 동작이 가능하며 빛에 민감하게 반응할 수 있는 효과가 있다. 이미지 센서, CMOS, 고감도
Int. CL H01L 27/146 (2006.01)
CPC H01L 27/14616(2013.01)
출원번호/일자 1020030087293 (2003.12.03)
출원인 전자부품연구원
등록번호/일자 10-0531236-0000 (2005.11.21)
공개번호/일자 10-2005-0054018 (2005.06.10) 문서열기
공고번호/일자 (20051128) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2003.12.03)
심사청구항수 13

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자기술연구원 대한민국 경기도 성남시 분당구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김훈 대한민국 경기도용인시수지읍

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 서천석 대한민국 서울특별시 서초구 서초중앙로**길 **, *층 (서초동, 서초다우빌딩)(특허법인세하)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 전자부품연구원 대한민국 경기도 성남시 분당구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2003.12.03 수리 (Accepted) 1-1-2003-0462404-41
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2005.04.15 수리 (Accepted) 4-1-2005-5036534-08
3 선행기술조사의뢰서(내부)
Request for Prior Art Search (Inside)
2005.05.25 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2005.08.16 수리 (Accepted) 9-1-2005-0049342-10
5 등록결정서
Decision to grant
2005.08.22 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2005-0401513-72
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.04.17 수리 (Accepted) 4-1-2013-0013766-37
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.08.24 수리 (Accepted) 4-1-2020-5189497-57
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번호 청구항
1 1
SOI 기판 상에 마스크를 이용하여 소정 영역의 활성 실리콘 및 매몰 산화막을 식각하여 P 형의 하부 실리콘 기판을 노출시키는 단계; 상기 노출된 P 형 기판에 N 형의 이온을 주입하여 N 형 영역을 형성하는 단계; 상기 하부 실리콘 기판을 노출시키는 단계에서 식각되지 않은 활성 실리콘을 패턴하여 십자형 활성 실리콘을 형성하는 단계; 상기 십자형 활성 실리콘의 마주보는 두 영역의 소정 부분에 N 형 이온을 주입하여 N 형 영역을 형성하는 단계; 상기 십자형 활성 실리콘의 상기 N 형 영역이 형성된 영역을 제외한 마주보는 두 영역의 소정 부분에 P 형 이온을 주입하여 P 형 영역을 형성하는 단계; 상기 십자형 활성 실리콘의 상부에 게이트 산화막 및 게이트를 형성하는 단계; 및 상기 십자형 활성 실리콘의 P 형 영역과 상기 포토 다이오드의 N 형 영역을 연결하는 연결부를 형성하는 단계 를 포함하여 이루어짐을 특징으로 하는 고감도 이미지센서의 제조방법
2 2
제 1항에 있어서, 상기 연결부를 형성하는 단계 이후 십자형 활성 실리콘 및 게이트 상부에 차광막을 형성하는 단계를 더 포함함을 특징으로 하는 고감도 이미지센서의 제조방법
3 3
제 2항에 있어서, 상기 차광막의 재질은 알루미늄임을 특징으로 하는 고감도 이미지센서의 제조방법
4 4
제 1항 또는 제 2항에 있어서, 상기 십자형 활성 실리콘의 P 형 영역은 소오스 및 드레인임을 특징으로 하는 고감도 이미지센서의 제조방법
5 5
제 1항 또는 제 2항에 있어서, 상기 십자형 활성 실리콘의 소정 부분은 마주보는 두 영역의 양 끝단임을 특징으로 하는 고감도 이미지센서의 제조방법
6 6
제 1항 또는 제 2항에 있어서, 상기 게이트를 형성하는 단계는 게이트 산화막 및 실리콘을 순차적으로 증착하고, 패턴 및 식각 공정하여 십자형 활성 실리콘의 중앙 상부에 형성됨을 특징으로 하는 고감도 이미지센서의 제조방법
7 7
P 형의 하부 기판의 표면부에 N 형 영역이 형성되어 하부 기판과 PN 접합을 이루고 있는 포토 다이오드영역; 상기 포토 다이오드 영역과 이격되어 십자형으로 형성된 활성 실리콘 단결정; 상기 십자형 활성 실리콘 단결정의 일측의 양끝단에 소오스 및 드레인 영역; 상기 소오스 및 드레인 영역의 타측의 양끝단에 형성된 불순물 주입 영역; 상기 소오스와 드레인 영역 사이의 채널 영역; 상기 채널 영역 상부에 형성된 게이트 산화막 및 게이트 산화막 상부에 형성된 게이트; 및 상기 불순물 주입 영역과 상기 포토 다이오드의 N 형 영역을 연결하는 연결부 로 이루어짐을 특징으로 하는 고감도 이미지센서
8 8
제 7항에 있어서, 상기 십자형 활성 실리콘 및 게이트 상부에 형성된 차광막을 더 포함함을 특징으로 하는 고감도 이미지센서
9 9
제 8항에 있어서, 상기 차광막의 재질은 알루미늄임을 특징으로 하는 고감도 이미지센서
10 10
제 7항 또는 제 8항에 있어서, 상기 십자형 활성 실리콘 단결정의 소오스 및 드레인 영역이 N 형으로 도핑되어 있음을 특징으로 하는 고감도 이미지센서
11 11
제 7항 또는 제 8항에 있어서, 상기 십자형 활성 실리콘 단결정의 소오스 및 드레인 영역을 제외한 두 끝단의 가장자리가 P 형으로 도핑되어 있음을 특징으로 하는 고감도 이미지 센서
12 12
제 7항 또는 제 8항에 있어서, 상기 십자형 활성 실리콘은 포토 다이오드의 정공이 이동하여 축적되어짐으로써 LBT를 형성함을 특징으로 하는 고감도 이미지센서
13 13
제 7항 또는 제 8항에 있어서, 상기 포토 다이오드는 매립형 포토 다이오드임을 특징으로 하는 고감도 이미지센서
14 13
제 7항 또는 제 8항에 있어서, 상기 포토 다이오드는 매립형 포토 다이오드임을 특징으로 하는 고감도 이미지센서
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.