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열경화성 수지 조성물 및 이를 이용한 프린트 기판

  • 기술번호 : KST2015146588
  • 담당센터 : 경기기술혁신센터
  • 전화번호 : 031-8006-1570
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 열 경화성 수지 조성물에 관한 것으로, 특히 고주파 대역에서도 저유전율 저손실 낮은 열팽창계수의 특성을 지니는 열경화성 수지 조성물에 대한 것이다. 본 발명에 따른 저유전율, 저손실, 낮은 열팽창계수를 가지는 열경화성 수지 조성물은, 고상의 단일 시클로 올레핀 폴리머로 이루어진 모수지; 상기 모수지를 용해하는 유기 용매; 모수지에 대하여 5% 내지 20%의 중량비율에 해당하는 양의 가교제; 상기 가교제의 반응 촉매로 작용하는 개시제; 및 실리카 원료를 포함하여 이루어지되, 상기 실리카 원료의 배합에 의하여 수지 조성물의 열팽창 계수가 낮아지는 것을 특징으로 한다. COP, 시클로 올레핀 폴리머, 인쇄회로기판, 칩 내장형 기판
Int. CL C08K 3/36 (2006.01) C08L 23/00 (2006.01) C08F 10/00 (2006.01)
CPC C08L 23/00(2013.01) C08L 23/00(2013.01) C08L 23/00(2013.01) C08L 23/00(2013.01) C08L 23/00(2013.01)
출원번호/일자 1020080083341 (2008.08.26)
출원인 전자부품연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2010-0024668 (2010.03.08) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 거절
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2008.08.26)
심사청구항수 10

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전자기술연구원 대한민국 경기도 성남시 분당구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 유명재 대한민국 서울특별시 광진구
2 이우성 대한민국 경기 성남시 분당구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인지명 대한민국 서울특별시 강남구 남부순환로**** 차우빌딩*층

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2008.08.26 수리 (Accepted) 1-1-2008-0607516-41
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2009.03.10 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2009.04.10 수리 (Accepted) 9-1-2009-0021018-25
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2010.02.16 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2010-0065138-22
5 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2010.04.15 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2010-0241043-21
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2010.04.15 수리 (Accepted) 1-1-2010-0241045-12
7 최후의견제출통지서
Notification of reason for final refusal
2010.08.03 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2010-0337031-04
8 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2010.10.04 수리 (Accepted) 1-1-2010-0640225-37
9 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2010.10.04 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2010-0640184-53
10 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2011.02.01 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0062919-94
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.04.17 수리 (Accepted) 4-1-2013-0013766-37
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.08.24 수리 (Accepted) 4-1-2020-5189497-57
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
고상의 단일 시클로 올레핀 폴리머로 이루어진 모수지; 상기 모수지를 용해하는 유기 용매; 모수지에 대하여 5% 내지 20%의 중량비율에 해당하는 양의 가교제; 상기 가교제의 반응 촉매로 작용하는 개시제; 및 실리카 원료를 포함하여 이루어지되, 상기 실리카 원료의 배합에 의하여 수지 조성물의 열팽창 계수가 낮아지는 것을 특징으로 하는 저유전율, 저손실 및 낮은 열팽창계수를 가지는 열경화성 수지 조성물
2 2
제1항에 있어서, 상기 실리카 원료는 10㎚ 내지 90㎛의 평균 입도를 가지는 것 을 특징으로 하는 저유전율, 저손실 및 낮은 열팽창계수를 가지는 열경화성 수지 조성물
3 3
제1항에 있어서, 상기 실리카 원료는 10㎡/g 내지 1000㎡/g의 비표면적 특성을 가지는 것 을 특징으로 하는 저유전율, 저손실 및 낮은 열팽창계수를 가지는 열경화성 수지 조성물
4 4
제1항에 있어서, 상기 유기 용매는 끓는 점이 150℃ 이하인 것 을 특징으로 하는 저유전율, 저손실 및 낮은 열팽창계수를 가지는 열경화성 수지 조성물
5 5
제1항에 있어서, 상기 개시제는 퍼옥시 에스테르(peroxy ester)계 개시제 또는 디알킬(dialkyl)계 개시제인 것 을 특징으로 하는 저유전율, 저손실 및 낮은 열팽창계수를 가지는 열경화성 수지 조성물
6 6
제1항에 있어서, 상기 가교제는 열가교성 수지로써, N,N~-M-PHENYLENEDIMALEIMIDE계 가교제인 것 을 특징으로 하는 저유전율, 저손실 및 낮은 열팽창계수를 가지는 열경화성 수지 조성물
7 7
제1항에 있어서, 상기 개시제는 상기 가교제에 대하여 1/20 내지 1/5의 중량비율에 해당하는 양으로 포함되는 것 을 특징으로 하는 저유전율, 저손실 및 낮은 열팽창계수를 가지는 열경화성 수지 조성물
8 8
제1항에 있어서, 상기 열경화성 수지 조성물은 경화 후에 1㎓ 내지 20㎓의 고주파 대역에서 유전율이 3
9 9
제1항 내지 제8항 중 어느 한 항에 기재된 열경화성 수지 조성물을 이용하여 형성된 수지층을 1층 이상 포함하는 적층체를 회로 가공하여 이루어진 칩 내장형 기판
10 10
시클로 올레핀 폴리머로 이루어진 모수지를 유기 용매를 이용하여 용해하는 단계; 상기 용해된 모수지에, 상기 모수지를 가교시키는 가교제 및 상기 가교제의 반응을 촉진시키는 개시제를 가교 결합하여 열경화성 수지 조성물을 생성하는 단계; 상기 생성된 열경화성 수지 조성물에 실리카 원료를 혼합하여 필름 조성물을 제작하는 단계; 상기 필름 조성물을 적층하는 단계; 상기 적층된 필름 조성물의 최상단과 최하단에 금속박을 배치하는 단계; 및 상기 적층된 필름 조성물 및 금속박을 100℃ 내지 300℃의 범위로 열가압을 하는 단계 를 포함하는 것을 특징으로 하는 프린트 배선용 기판의 제작 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 지식경제부 전자부품연구원 핵심기반기술개발사업 칩 내장 기판형 (CiS) 반도체 패키지 기술개발