맞춤기술찾기

홈으로 가기
맞춤기술찾기
이전대상기술
프린트하기

이전대상기술

표준 입자 이미지 필름을 이용한 입자크기 측정기의검정방법

  • 기술번호 : KST2015147066
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
상담신청 PDF 받기
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 회절 현상을 이용하여 입자의 크기를 측정하는 장치에서 표준입자를 사용해서 시스템을 검정하는 방법에 관한 것이다.회절현상을 이용한 입자 크기분포를 측정하는 기존의 방법에서는 표준 입자 시료를 별도로 사용하여 장비에 대한 검정을 사전에 한 후 실제 대상물질에 대한 측정을 해야 하는 번거로움이 있다.본 발명은 상기한 입자 크기 측정기를 손쉽게 검정하는 장치에 관한 것으로서, 표준입자 시료를 실제로 사용하지 않고, 그래픽으로 표준 입자가 각인된 이미지 필름을 만들어서 이를 이용하여 회절이용 입자크기 측정 장치를 간편하게 검정하도록 하는 방법이 제시된다. 즉, 본 발명은 입자에 빛이 조사될 때 생기는 회절각이 회절을 일으키는 물질의 크기에만 의존한다는 원리를 이용하는 것으로서, 본 발명에서는 컴퓨터를 이용하여 표준입자들에 대한 이미지 필름을 만들어 사용하는 방법이 제시된다.본 발명에 의하면 상기 이미지 필름을 반영구적으로 사용할 수 있고, 이를 이용하여 회절이용 입자크기 측정 장치를 간편하게 검정할 수 있는 효과가 있다.회절, 입자크기, 회절판, 표준입자, 검정
Int. CL G01N 15/02 (2006.01)
CPC G01N 15/0211(2013.01) G01N 15/0211(2013.01)
출원번호/일자 1020010016401 (2001.03.29)
출원인 한국원자력연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2002-0076511 (2002.10.11) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 거절
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2001.03.29)
심사청구항수 3

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 한국원자력연구원 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 발명자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 차형기 대한민국 대전광역시유성구
2 송규석 대한민국 대전광역시유성구
3 이종민 대한민국 대전광역시유성구
4 김덕현 대한민국 대전광역시유성구

대리인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 대리인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 이종일 대한민국 서울특별시 영등포구 당산로**길 **(당산동*가) 진양빌딩 *층(대일국제특허법률사무소)

최종권리자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 최종권리자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
최종권리자 정보가 없습니다
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application		 2001.03.29 수리 (Accepted) 1-1-2001-0070409-61
2 대리인사임신고서
Notification of resignation of agent		 2002.03.13 수리 (Accepted) 1-1-2002-5064739-00
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2003.02.17 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2003.03.19 수리 (Accepted) 9-1-2003-0011334-41
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2003.04.03 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2003-0122904-29
6 거절결정서
Decision to Refuse a Patent		 2003.06.09 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2003-0214749-28
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2007.05.14 수리 (Accepted) 4-1-2007-5073714-01
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2007.06.01 수리 (Accepted) 4-1-2007-5085193-38
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2007.07.26 수리 (Accepted) 4-1-2007-5117973-29
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2007.07.26 수리 (Accepted) 4-1-2007-5117707-02
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2012.06.22 수리 (Accepted) 4-1-2012-5134067-95
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2014.09.16 수리 (Accepted) 4-1-2014-5109542-64
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1

표준입자를 사용해서 시스템을 검정(calibration)하는 과정을 포함하는 회절현상을 이용하여 입자의 크기 분포를 측정하는 방법에 있어서,

상기 표준입자는 실물의 표준입자를 사용하지 않고, 컴퓨터를 이용하여 그려진 원형의 혹은 임의의 모양을 지닌 형상으로 구성된 필름상의 회절판을 사용하는 것을 특징으로 하는 표준입자 이미지 필름을 이용한 입자크기 측정기의 검정 방법

2 2

청구항 1에 있어서, 상기 표준입자 이미지 필름은,

컴퓨터를 이용하여 표준입자를 컴퓨터상에서 임의의 단위면적에 임의의 크기분포로 제작하는 단계(S10)와,

상기 제작된 표준입자를 컴퓨터를 이용하여 프린터 영상을 출력하는 단계(S20)와,

카메라를 이용하여 고분해능 필름에 상기 프린터 영상을 새기는 단계(S30)와,

현미경을 이용하여 실제크기와 제작과정에서 가정한 크기를 확인하는 단계(S40)를 포함하여 제작되는 것을 특징으로 하는 표준입자 이미지 필름을 이용한 입자크기 측정기의 검정 방법

3 3

청구항 1에 있어서, 상기 시스템을 검정하는 과정은,

전체 광학계가 고정된 상태에서 표준입자 이미지 필름을 넣어 회절무늬를 얻는 단계와,

상기 회절무늬를 역산하여 크기분포를 구하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 표준입자 이미지 필름을 이용한 입자크기 측정기의 검정 방법

지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.