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동시에 감마선과 중성자를 분리하여 측정할 수 있는 방사선 검출부(100); 및상기 방사선 검출부(100)에 전압을 인가하고 측정된 감마선과 중성자를 분리하여 표시하는 신호 처리 회로(200);를 포함하고,상기 방사선 검출부(100)는,내부에 기체가 충진되어 방사선 검출부(100)에 입사된 감마선이 검출되는 외부 챔버(110);상기 외부 챔버(110) 내부에 배치되며 중성자와 반응하는 중성자 검출 반응 박막(120);상기 중성자 검출 반응 박막(120)의 상면과 하면에 각각 접합되어 상기 중성자 검출 반응 박막(120)에 전압을 인가하는 한 쌍의 제1 중성자 검출 전극(130);상기 제1 중성자 검출 전극(130)에 접합되어 입사되는 방사선을 측정하는 한 쌍의 반도체 검출부(140); 및상기 반도체 검출부(140)에 접합되어 상기 반도체 검출부(140)에 전압을 인가하는 한 쌍의 제2 중성자 검출 전극(150);을 포함하며,상기 신호 처리 회로(200)는,상기 외부 챔버(110)와 전기적으로 연결되어 상기 외부 챔버(110)에 전압을 인가하는 제1 전압 인가부(210);검출된 감마선 신호를 증폭하는 감마선 신호 증폭부(220);상기 감마선 신호 증폭부(220)에서 증폭된 감마선 신호를 방사선량으로 변환하는 감마선 신호 선량 전환부(230);상기 제2 중성자 검출 전극(150)과 전기적으로 연결되어 전압을 인가하는 제2 전압 인가부(240);상기 제1 중성자 검출 전극(130)과 전기적으로 연결되어 상기 중성자 검출 반응 박막(120)으로부터 검출된 중성자 신호를 증폭하는 중성자 신호 증폭부(250);상기 중성자 신호 증폭부(250)에서 증폭된 중성자 신호를 방사선량으로 변환하는 중성자 신호 선량 전환부(260);상기 제1 중성자 검출 전극(150)과 전기적으로 연결되어 전압을 인가하는 제3 전압 인가부(270); 및상기 감마선 신호 선량 전환부(230) 및 중성자 신호 선량 전환부(260)와 연결되어 상기 방사선 검출부(100)에서 검출된 감마선 선량 및 중성자 선량을 구분하여 표시하는 방사선 표시부(280);를 포함하는 것을 특징으로 하는 감마선 및 중성자를 구분하여 측정할 수 있는 방사선 검출 장치
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청구항 1에 있어서,상기 외부 챔버(110)의 내부에는 기체가 충진되며 상기 제1 전압 인가부(210)를 통하여 전압이 인가되고, 감마선이 상기 외부 챔버(110)의 내부에 입사되면 전하 신호가 생성되고 이를 수집하여 상기 감마선 신호 증폭부(220)로 전달하는 것을 특징으로 하는 감마선 및 중성자를 구분하여 측정할 수 있는 방사선 검출 장치
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청구항 1에 있어서,상기 외부 챔버(110)의 내부에 충진되는 기체는 불활성 기체 또는 혼합기체인 것을 특징으로 하는 감마선 및 중성자를 구분하여 측정할 수 있는 방사선 검출 장치
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6
청구항 1에 있어서,상기 중성자 검출 반응 박막(120)은 Li-6, B-10, Gd 및 이들을 포함하는 화합물 중 어느 하나이며, 중성자와 반응하여 전하 신호를 발생하는 것을 특징으로 하는 감마선 및 중성자를 구분하여 측정할 수 있는 방사선 검출 장치
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7
청구항 6에 있어서,상기 전하 신호는 알파선, 베타선 및 이온 중 어느 하나 이상인 것을 특징으로 하는 감마선 및 중성자를 구분하여 측정할 수 있는 방사선 검출 장치
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8
청구항 1에 있어서,상기 제1 중성자 검출 전극(130)은 상기 제3 전압 인가부(270)와 전기적으로 연결되어 상기 중성자 검출 반응 박막(120)에 전압을 인가하며, 상기 중성자 검출 반응 박막(120)에서 발생한 전하 신호를 수집하여 상기 중성자 신호 증폭부(250)로 전달하는 것을 특징으로 하는 감마선 및 중성자를 구분하여 측정할 수 있는 방사선 검출 장치
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청구항 1에 있어서,상기 반도체 검출부(140)는 다이오드 구조로 형성되며, 입사된 방사선에 의해 변환된 전자-양전자를 통하여 방사선을 측정하되, 중성자 측정시에는 상기 중성자 검출 반응 박막(120)에서 중성자와 반응하여 하전 이온이 발생되고 상기 하전 이온이 상기 반도체 검출부(140)에 입사되는 간접 방식에 의해 중성자를 측정하는 것을 특징으로 하는 감마선 및 중성자를 구분하여 측정할 수 있는 방사선 검출 장치
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청구항 1에 있어서,상기 제2 중성자 검출 전극(150)은 상기 반도체 검출부(140)에 접합되어 상기 상기 반도체 검출부(140)에 전압을 인가하며, 상기 반도체 검출부(140)에 인가된 방사선에 의해 변환된 전자-양전자 신호를 수집하는 것을 특징으로 하는 감마선 및 중성자를 구분하여 측정할 수 있는 방사선 검출 장치
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청구항 1에 있어서,상기 제2 전압 인가부(240)는 상기 제2 중성자 검출 전극(150)과 전기적으로 연결되며, 감마선 및 중성자 측정을 위하여 상기 제2 중성자 검출 전극(150)에 전압을 인가하는 것을 특징으로 하는 감마선 및 중성자를 구분하여 측정할 수 있는 방사선 검출 장치
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청구항 1에 있어서,상기 제3 전압 인가부(270)는 상기 제1 중성자 검출 전극(130)과 전기적으로 연결되며, 중성자 측정을 위하여 상기 제1 중성자 검출 전극(130)에 전압을 인가하는 것을 특징으로 하는 감마선 및 중성자를 구분하여 측정할 수 있는 방사선 검출 장치
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