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임베디드 시스템에 0과 1의 디지털 데이터값이 비트단위 오류로 상기 시스템의 기억장치에 저장되는 결함이 발생하였을 경우 상기 결함을 검출할 수 있는 확률인 결함검출률을 평가하는 장치에 있어서,
상기 결함검출률 평가를 위해 고려해야 할 사항으로부터 결함을 생성하는 결함 생성부;
상기 생성된 결함을 상기 임베디드 시스템의 소프트웨어의 실행추적 기록 및 상기 소프트웨어의 실행추적 기록에 해당하는 메모리값의 변화에 대한 정보로부터 상기 결함들이 상기 임베디드 시스템에 오류를 발생시킬 수 있는 오류 발생 결함인지 또는 상기 임베디드 시스템에 오류를 발생시키지 않을 오류 비발생 결함인지를 판별하는 결함 선별부; 및
상기 오류 발생 결함이 상기 임베디드 시스템에 미치는 영향을 판별하는 결함주입실험을 수행하도록 상기 오류 발생 결함을 상기 임베디드 시스템에 주입하는 결함 주입부를 포함하되,
상기 결함주입실험 결과로부터 상기 결함검출률을 평가하는 임베디드 시스템 결함검출률 평가 장치
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제 1 항에 있어서,
상기 소프트웨어의 실행추적 기록은 순차적으로 수행된 명령어를 포함하는 정보인 임베디드 시스템 결함검출률 평가 장치
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제 1 항에 있어서,
상기 메모리값의 변화는 레지스터들에 대한 값의 변화인 임베디드 시스템 결함검출률 평가 장치
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제 1 항에 있어서,
상기 결함검출률 평가를 위해 고려해야 할 사항은 디지털 데이터값이 0으로 고정되는 0고착결함, 디지털 데이터값이 1로 고정되는 1고착결함 및 디지털 데이터값이 0과 1사이에서 전환되는 비트값전환을 포함하는 결함종류, 결함이 발생하는 비트를 나타내는 결함위치, 결함발생시각 및 결함소멸시각을 포함하는 임베디드 시스템 결함검출률 평가 장치
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제 4 항에 있어서,
상기 생성된 결함이 0고착결함인 경우,
상기 결함 선별부에서 상기 0고착결함이 오류 발생 결함인지의 판별은
상기 0고착결함의 지속시간과 상기 생성된 결함을 주입시킬 저장공간에 메모리값이 처음으로 쓰여진 시점과 메모리값이 마지막으로 사용된 시점의 사이 시간인 메모리값의 유효기간 사이에 공통으로 포함되는 기간에 대해서 상기 메모리값의 변화에 해당하는 해당 비트값들에 대해 비트단위 논리합(OR)연산을 수행하여 결과값이 1이 되면 상기 0고착결함을 오류 발생 결함으로 판별하는 임베디드 시스템 결함검출률 평가 장치
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제 4 항에 있어서,
상기 생성된 결함이 1고착결함인 경우,
상기 결함 선별부에서 상기 1고착결함이 오류 발생 결함인지의 판별은
상기 1고착결함의 지속시간과 상기 생성된 결함을 주입시킬 저장공간에 메모리값이 처음으로 쓰여진 시점과 메모리값이 마지막으로 사용된 시점의 사이 시간인 메모리값의 유효기간 사이에 공통으로 포함되는 기간에 대해서 상기 메모리값의 변화에 해당하는 해당 비트값들에 대해 비트단위 논리곱(AND)연산을 수행하여 결과값이 0이 되면 상기 1고착결함을 오류 발생 결함으로 판별하는 임베디드 시스템 결함검출률 평가 장치
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제 1 항에 있어서,
상기 생성된 결함을 상기 오류 발생 결함 및 상기 오류 비발생 결함을 판별한 결과를 저장하는 결함 선별결과 저장부를 더 포함하고,
상기 결함 주입부는 상기 결함 선별결과 저장부에 저장된 정보를 바탕으로 상기 오류 발생 결함을 상기 임베디드 시스템에 주입하는 임베디드 시스템 결함검출률 평가 장치
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8
제 1 항에 있어서,
상기 오류 발생 결함이 상기 임베디드 시스템에 미치는 영향을 상기 결함이 검출되는 경우(a), 무한루프를 발생하는 경우(b) 및 잘못된 출력을 발생하는 경우(c)로 분류할 때, 상기 결함 검출률은 인 임베디드 시스템 결함검출률 평가 장치
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임베디드 시스템에 0과 1의 디지털 데이터값이 비트단위 오류로 상기 시스템의 기억장치에 저장되는 결함이 발생하였을 경우 상기 결함을 검출할 수 있는 확률인 결함검출률을 평가하는 방법에 있어서,
상기 결함검출률 평가를 위해 고려해야 할 사항으로부터 결함을 생성하는 단계;
상기 생성된 결함을 상기 임베디드 시스템의 소프트웨어의 실행추적 기록 및 상기 소프트웨어의 실행추적 기록에 해당하는 메모리값의 변화에 대한 정보로부터 상기 결함들이 상기 임베디드 시스템에 오류를 발생시킬 수 있는 오류 발생 결함인지 또는 상기 임베디드 시스템에 오류를 발생시키지 않을 오류 비발생 결함인지를 판별하는 단계; 및
상기 오류 발생 결함이 상기 임베디드 시스템에 미치는 영향을 판별하는 결함주입실험을 수행하도록 상기 오류 발생 결함을 상기 임베디드 시스템에 주입하는 단계를 포함하되,
상기 생성된 주입대상 결함에 대한 판별 결과 및 결함주입실험 결과로부터 상기 결함검출률을 평가하는 임베디드 시스템 결함검출률 평가 방법
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제 9 항에 있어서,
상기 소프트웨어의 실행추적 기록은 순차적으로 수행된 명령어를 포함하는 정보인 임베디드 시스템 결함검출률 평가 방법
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11
제 9 항에 있어서,
상기 메모리값의 변화는 레지스터들에 대한 값의 변화인 임베디드 시스템 결함검출률 평가 방법
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12
제 9 항에 있어서,
상기 결함검출률 평가를 위해 고려해야 할 사항은 디지털 데이터값이 0으로 고정되는 0고착결함, 디지털 데이터값이 1로 고정되는 1고착결함 및 디지털 데이터값이 0과 1사이에서 전환되는 비트값전환을 포함하는 결함종류, 결함이 발생하는 비트를 나타내는 결함위치, 결함발생시각 및 결함소멸시각을 포함하는 임베디드 시스템 결함검출률 평가 방법
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제 12 항에 있어서,
상기 생성된 결함이 오류 발생 결함인지 또는 오류 비발생 결함인지를 판별하는 단계에서,
상기 생성된 결함이 0고착결함인 경우,
상기 0고착결함이 오류 발생 결함인지의 판별은 상기 0고착결함의 지속시간과 상기 생성된 결함을 주입시킬 저장공간에 메모리값이 처음으로 쓰여진 시점과 메모리값이 마지막으로 사용된 시점의 사이 시간인 메모리값의 유효기간 사이에 공통으로 포함되는 기간에 대해서 상기 메모리값의 변화에 해당하는 해당 비트값들에 대해 비트단위 논리합(OR)연산을 수행하여 결과값이 1이 되면 상기 0고착결함을 오류 발생 결함으로 판별하는 임베디드 시스템 결함검출률 평가 방법
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제 12 항에 있어서,
상기 생성된 결함이 오류 발생 결함인지 또는 오류 비발생 결함인지를 판별하는 단계에서,
상기 생성된 결함이 1고착결함인 경우,
상기 1고착결함이 오류 발생 결함인지의 판별은 상기 1고착결함의 지속시간과 상기 생성된 결함을 주입시킬 저장공간에 메모리값이 처음으로 쓰여진 시점과 메모리값이 마지막으로 사용된 시점의 사이 시간인 메모리값의 유효기간 사이에 공통으로 포함되는 기간에 대해서 상기 메모리값의 변화에 해당하는 해당 비트값들에 대해 비트단위 논리곱(AND)연산을 수행하여 결과값이 0이 되면 상기 1고착결함을 오류 발생 결함으로 판별하는 임베디드 시스템 결함검출률 평가 방법
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