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초음파 송수신부(200)와 연결되어 두께(D) 측정 대상에 초음파를 투사하는 프로브(100)를 통해 초음파를 입사하는 초음파 입사 단계(S10); 상기 초음파 송수신부(200)와 연결된 신호 검출부(300)를 통해 초음파 신호를 검출하는 신호 검출 단계(S20); 신호 처리부(410)를 통해, 초음파 신호를 펄스 신호와 임펄스 신호의 컨볼류션으로 연산하는 제1연산 단계(S31)와, 상기 제1연산 단계(S31)를 거친 신호를 퓨리에 트랜스폼(Fourier transform) 하여 조화함수로 변환하는 변환 단계(S32)와, 상기 변환 단계(S32)를 거친 신호를 제곱하여 로그 연산하는 제2연산 단계(S33)와, 제2연산 단계(S33)를 거친 신호를 역 퓨리에 트랜스폼(Inverse fourier transform)하는 역변환 단계(S34)를 수행하는 신호 처리 단계(S30); 상기 신호 처리 단계(S30)를 거친 초음파 신호의 최대값 지점을 이용하여 지연시간을 검출하는 지연시간 검출 단계(S40); 및상기 지연시간 검출 단계(S40)를 통해 검출된 지연시간 및 초음파 속도를 이용하여 두께(D) 측정 대상의 두께(D)를 산출하는 두께 산출 단계(S50); 를 포함하는 초음파 신호 처리를 이용한 두께 측정 방법
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제1항에 있어서, 상기 제1연산 단계(S31)는 초음파 신호가 아래 [수학식 1]을 이용하는 것을 특징으로 하는 초음파 신호 처리를 이용한 두께 측정 방법
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제2항에 있어서, 상기 역변환 단계(S34)를 거친 초음파 신호는 아래 [수학식 2]에 해당되어 임펄스 함수를 분리가능한 것을 특징으로 하는 초음파 신호 처리를 이용한 두께 측정 방법
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제1항에 있어서, 상기 신호 처리 단계(S30)는 상기 제2연산 단계(S33)와 역변환 단계(S34) 사이에 아래 [수학식 3]을 이용하여 연산하는 제3연산 단계(S35)를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 초음파 신호 처리를 이용한 두께 측정 방법
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제4항에 있어서, 상기 제1연산 단계(S31)는 초음파 신호가 아래 [수학식 4]를 이용하는 것을 특징으로 하는 초음파 신호 처리를 이용한 두께 측정 방법
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제5항에 있어서, 상기 역변환 단계(S34)를 거친 초음파 신호는 아래 [수학식 5]에 해당되는 것을 특징으로 하는 초음파 신호 처리를 이용한 두께 측정 방법
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두께(D) 측정 대상에 초음파를 투사하는 프로브(100); 상기 프로브(100)와 연결되는 초음파 송수신부(200); 상기 초음파 송수신부(200)와 연결되어 초음파 신호를 검출하는 신호 검출부(300); 상기 신호 검출부(300)를 통해 검출된 초음파 신호를 신호처리하는 신호 처리부(410)와, 상기 신호 처리부(410)를 통해 처리된 초음파 신호의 최대값 지점을 이용하여 지연시간을 검출하는 지연시간 검출부(420)와, 두께(D)를 산출하는 두께 산출부(430)를 포함하는 제어부(400); 및 상기 제어부(400)의 두께 산출부(430)와 연결되어 산출된 두께(D)를 출력하는 출력수단(500);을 포함하는 초음파 신호 처리를 이용한 두께 측정 장치
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제7항에 있어서, 상기 신호 처리부(410)는 초음파 신호 중 최대값 지점의 정확한 시간을 검출할 수 있도록 임펄스 신호를 극대화하고, 노이즈를 최소화하는 것을 특징으로 하며,상기 신호 처리부(410)는 펄스 신호와 임펄스 신호의 컨볼류션으로 연산하고, 퓨리에 트랜스폼(Fourier transform) 하여 조화함수로 변환하며, 퓨리에 트랜스폼 변환된 신호를 제곱하여 로그 연산하고, 역 퓨리에 트랜스폼(Inverse fourier transform)하는 것을 특징으로 하는 초음파 신호 처리를 이용한 두께 측정 장치
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제8항에 있어서, 상기 신호 처리부(410)는 추가적으로 아래 [수학식 3]을 이용하여 연산하는 것을 특징으로 하는 초음파 신호 처리를 이용한 두께 측정 장치
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