맞춤기술찾기

이전대상기술

발광소자 검사용 프로브 장치

  • 기술번호 : KST2015148976
  • 담당센터 : 경기기술혁신센터
  • 전화번호 : 031-8006-1570
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 발광소자에서 발생하는 빛 에너지를 최대한 손실없이 모두 수광부로 수집되게 하여 발광소자의 광특성측정을 개선할 수 있는 프로브 장치를 제공하는 것을 기술적 과제로 한다.본 발명은 전술한 과제를 해결하기 위해, 발광소자 검사용 프로브 장치로서,발광소자에 일단이 연결된 전원부의 타단이 연결되는 프로브와, 상기 프로브가 고정되며 광투과성 소재로 이루어지는 고정부재와, 상기 고정부재가 하부에 고정되며 발광소자로부터 발생되는 빛을 모으기 위한 집광장치와,상기 집광장치에 설치되고 이 집광장치로 투입된 빛이 수렴되며 광분석장치와 연결되는 수광부를 구비하는 것을 특징으로 한다.이러한 구성으로 인해 본 발명의 프로브 장치에서는 발광소자에 발생하는 빛이 가늘고 얇게 형성된 프로브와 광투과성 소재로 형성되는 고정부재를 통과하면서 광학 구형으로 형성된 집광장치를 통해 수광부로 수집됨으로써 발광소자에서 발생한 빛의 손실이 최소화되면서 수광부로 유입되어 광분석장치에서의 광특성 측정결과가 개선되는 효과를 가지게 된다.
Int. CL G01R 1/02 (2006.01) G01J 1/02 (2006.01)
CPC G01J 1/0238(2013.01) G01J 1/0238(2013.01) G01J 1/0238(2013.01) G01J 1/0238(2013.01) G01J 1/0238(2013.01)
출원번호/일자 1020100049082 (2010.05.26)
출원인 한국생산기술연구원
등록번호/일자 10-1129228-0000 (2012.03.15)
공개번호/일자 10-2011-0129604 (2011.12.02) 문서열기
공고번호/일자 (20120326) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2010.05.26)
심사청구항수 9

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 한국생산기술연구원 대한민국 충청남도 천안시 서북구

발명자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 발명자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 김종석 대한민국 충청남도 천안시 서북구
2 김형태 대한민국 충청남도 천안시 서북구
3 김승택 대한민국 충청남도 천안시 서북구

대리인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 대리인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 특허법인아이엠 대한민국 서울특별시 강남구 봉은사로 ***, ***호 (역삼동, 혜전빌딩)

최종권리자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 최종권리자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 대한민국(산업통상자원부장관) 세종특별자치시 한누리대
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2010.05.26 수리 (Accepted) 1-1-2010-0336889-24
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2010.08.30 수리 (Accepted) 4-1-2010-5161401-06
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2011.05.16 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2011.06.17 수리 (Accepted) 9-1-2011-0052971-86
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2011.08.12 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0453544-36
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2011.10.12 수리 (Accepted) 1-1-2011-0796007-94
7 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2011.10.12 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2011-0796006-48
8 등록결정서
Decision to grant
2012.03.09 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0143183-54
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.04.02 수리 (Accepted) 4-1-2012-5068733-13
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.04.26 수리 (Accepted) 4-1-2012-5090658-47
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.01.29 수리 (Accepted) 4-1-2013-5017806-08
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.01.16 수리 (Accepted) 4-1-2015-5006834-98
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.07.02 수리 (Accepted) 4-1-2018-5123030-77
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
발광소자 검사용 프로브 장치로서,발광소자에 일단이 연결된 전원부의 타단이 연결되는 프로브와,상기 프로브가 고정되며 광투과성 소재로 이루어지는 고정부재와,상기 고정부재가 하부에 고정되며 발광소자로부터 발생되는 빛을 모으기 위한 집광장치와,상기 집광장치에 설치되고 이 집광장치로 투입된 빛이 수렴되며 광분석장치와 연결되는 수광부를 구비하며,상기 고정부재는 환형형상의 둘레부와, 이 둘레부에서 방사상 중심을 향해 연장되도록 형성되는 로드부와, 이 로드부의 방사상 중심부에 형성되며 내부에 홈이 형성된 고정부를 포함하여 이루어지며,상기 프로브는 하단부가 발광소자를 향해 하방으로 배치되도록 상단부가 고정부의 홈에 설치되는 것을 특징으로 하는 발광소자 검사용 프로브 장치
2 2
청구항 1 에 있어서,상기 고정부재는 평판 디스크 또는 오목렌즈로 이루어지는 것을 특징으로 하는 발광소자 검사용 프로브 장치
3 3
청구항 1 에 있어서,상기 고정부재는 볼록렌즈로 이루어지며, 상기 볼록렌즈의 촛점은 집광장치의 내부에 형성되는 것을 특징으로 하는 발광소자 검사용 프로브 장치
4 4
청구항 2 또는 청구항 3 에 있어서, 상기 프로브는 하단부가 수직하게 발광소자의 중심을 향해 수직하게 배치되도록 상단부가 상기 고정부재의 중심에 고정되는 것을 특징으로 하는 발광소자 검사용 프로브 장치
5 5
청구항 2 또는 청구항 3 에 있어서,상기 프로브는 하단부가 발광소자의 중심을 향하여 경사지게 배치되도록 상단부가 상기 고정부재에 경사지게 고정되는 것을 특징으로 하는 발광소자 검사용 프로브 장치
6 6
청구항 2 또는 청구항 3 에 있어서,상기 고정부재의 하부 저면에는 특정파장의 빛의 반사를 방지하기 위한 반사방지 코팅층이 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 발광소자 검사용 프로브 장치
7 7
삭제
8 8
청구항 1 에 있어서,상기 고정부재는 환형 형상의 둘레부로 형성되며, 이 둘레부에 상기 프로브의 하단부가 발광소자의 중심을 향하여 경사지게 배치되도록 상단부가 고정되는 것을 특징으로 하는 발광소자 검사용 프로브 장치
9 9
청구항 1 내지 청구항 3 중 어느 한 항에 있어서,상기 집광장치는 광학 구형(OPTICAL SPHERE)인 것을 특징으로 하는 발광소자 검사용 프로브 장치
10 10
청구항 9 에 있어서,상기 수광부는 상기 광학 구형(OPTICAL SPHERE)의 촛점에 위치하는 것을 특징으로 하는 발광소자 검사용 프로브 장치
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.