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FROG 기법을 이용한 펄스 측정 시스템 및 그를 이용한 측정 방법

  • 기술번호 : KST2015149094
  • 담당센터 : 경기기술혁신센터
  • 전화번호 : 031-8006-1570
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명의 일 실시예는 FROG 기법을 이용한 펄스 측정 시스템 및 그를 이용한 측정 방법에 관한 것으로, 해결하고자 하는 기술적 과제는 수정된 FROG 기법을 이용하여 입사되는 광 펄스를 특징화하고 최적화할 수 있게 하는데 있다.이를 위해 본 발명의 일 실시예는 입사되는 피코초(picosecond) 이하의 레이저 광 펄스를 두 개의 펄스로 분산시키는 빔 스플리터; 상기 두 개의 펄스가 표면에 입사되어, 상기 표면에 대하여 수직 방향으로 회절되는 그레이팅; 및 상기 회절된 두 개의 펄스가 시간적 및 공간적으로 오버랩되는 크리스탈을 포함하는 FROG 기법을 이용한 펄스 측정 시스템을 개시한다.
Int. CL G01J 11/00 (2006.01)
CPC G01J 11/00(2013.01) G01J 11/00(2013.01) G01J 11/00(2013.01) G01J 11/00(2013.01)
출원번호/일자 1020130158740 (2013.12.18)
출원인 한국생산기술연구원
등록번호/일자 10-1480925-0000 (2015.01.05)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20150113) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2013.12.18)
심사청구항수 13

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국생산기술연구원 대한민국 충청남도 천안시 서북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 정훈 대한민국 충남 천안시 서북구
2 김종석 대한민국 경기 안산시 단원구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 서만규 대한민국 서울특별시 강남구 역삼로 *** *층 (역삼동, 현죽빌딩)(특허법인성암)
2 서경민 대한민국 서울특별시 강남구 역삼로 *** *층 (역삼동, 현죽빌딩)(특허법인성암)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 대한민국(산업통상자원부장관) 세종특별자치시 한누리대
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2013.12.18 수리 (Accepted) 1-1-2013-1162264-66
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2014.08.04 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2014.09.15 수리 (Accepted) 9-1-2014-0074030-67
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2014.09.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0675047-11
5 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2014.11.17 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2014-1103986-29
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2014.11.17 수리 (Accepted) 1-1-2014-1103984-38
7 등록결정서
Decision to grant
2014.12.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0896558-02
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.01.16 수리 (Accepted) 4-1-2015-5006834-98
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.07.02 수리 (Accepted) 4-1-2018-5123030-77
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
입사되는 피코초(picosecond) 이하의 레이저 광 펄스를 두 개의 펄스로 분산시키는 빔 스플리터;상기 두 개의 펄스가 표면에 입사되어, 상기 표면에 대하여 수직 방향으로 회절되는 그레이팅; 및상기 회절된 두 개의 펄스가 시간적 및 공간적으로 오버랩되는 크리스탈을 포함하는 것을 특징으로 하는 FROG 기법을 이용한 펄스 측정 시스템
2 2
제1항에 있어서,상기 그레이팅과 상기 크리스탈 사이에는 원통 렌즈 및 구면 렌즈가 순차적으로 구비되어 상기 회절된 두 개의 펄스를 집속하는 것을 특징으로 하는 FROG 기법을 이용한 펄스 측정 시스템
3 3
제2항에 있어서,상기 구면 렌즈는 프러넬 겹프리즘(Fresnel biprism)을 이용할 수 있는 것을 특징으로 하는 FROG 기법을 이용한 펄스 측정 시스템
4 4
제1항에 있어서,상기 그레이팅의 양 측부에는 상기 두 개의 펄스가 상기 그레이팅의 표면으로 입사되도록 상기 두 개의 펄스를 각각 굴절하는 제1 미러 및 제2 미러가 설치되는 것을 특징으로 하는 FROG 기법을 이용한 펄스 측정 시스템
5 5
제4항에 있어서,상기 제1 미러 및 제2 미러로부터 굴절되는 두 개의 펄스는 서로 반대 측으로부터 상기 그레이팅의 표면으로 입사되는 것을 특징으로 하는 FROG 기법을 이용한 펄스 측정 시스템
6 6
제1항에 있어서,상기 두 개의 펄스는 상기 그레이팅의 표면에 대하여 80도 내지 90도 범위로 입사되는 것을 특징으로 하는 FROG 기법을 이용한 펄스 측정 시스템
7 7
제1항에 있어서,상기 크리스탈은 LiIO3로 이루어지는 것을 특징으로 하는 FROG 기법을 이용한 펄스 측정 시스템
8 8
제1항에 있어서,상기 크리스탈에 의하여 오버랩된 제2조파(Second Harmonic Generation)를 파장(Wavelength)과 딜레이(Delay)로 분해하도록 구면 렌즈 및 원통 렌즈가 순차적으로 구비되는 것을 특징으로 하는 FROG 기법을 이용한 펄스 측정 시스템
9 9
제8항에 있어서,상기 구면 렌즈 및 원통 렌즈로부터 분해된 제2조파를 이용하여 펄스 강도(Pulse Intensity)와 펄스 위상(Pulse Phase)을 측정하는 분광계(Spectrometer)를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 FROG 기법을 이용한 펄스 측정 시스템
10 10
제1항에 있어서,상기 크리스탈의 폭은 5mm 내지 30mm인 것을 특징으로 하는 FROG 기법을 이용한 펄스 측정 시스템
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피코초 이하의 레이저 광 펄스를 발생시키는 제1 단계;상기 발생된 광 펄스를 빔 스플리터를 통하여 두 개의 펄스로 분산시키는 제2 단계;상기 두 개의 펄스를 그레이팅의 표면에 입사받아, 상기 그레이팅의 표면에 대하여 수직 방향으로 회절시키는 제3 단계;상기 회절된 두 개의 펄스를 크리스탈을 통하여 시간적 및 공간적으로 오버랩시켜 제2조파를 출력하는 제4 단계; 및분광계를 통하여 상기 출력된 제2조파의 펄스 강도와 펄스 위상을 측정하는 제5 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 FROG 기법을 이용한 펄스 측정 방법
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제11항에 있어서,상기 제2 단계와 제3 단계 사이에는 상기 그레이팅과 상기 크리스탈 사이에 순차적으로 구비된 원통 렌즈 및 구면 렌즈를 통하여 상기 회절된 두 개의 펄스를 집속하는 과정을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 FROG 기법을 이용한 펄스 측정 방법
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제11항에 있어서,상기 제4 단계와 상기 제5 단계 사이에는 상기 크리스탈과 상기 분광계 사이에 순차적으로 구비된 구면 렌즈 및 원통 렌즈를 통하여 상기 크리스탈에 의하여 오버랩된 제2조파를 파장과 딜레이로 분해하는 과정을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 FROG 기법을 이용한 펄스 측정 방법
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지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.