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샘플 기판;상기 샘플 기판의 양측부에 서로 다른 편광 각도를 갖도록 배치되는 한 쌍의 편광판;상기 샘플 기판을 향해 서로 다른 종류의 단파장의 레이져가 조사되는 광원;상기 광원에서 조사된 출력광이 통과하면서 위상 변조되는 PEM(Photo-Elastic Modulator); 및상기 편광판과 PEM 및 샘플 기판을 통과하면서 변조된 광 신호가 검출되는 검출기;를 포함하는 광학계로 이루어진 이색법에 의한 복굴절 측정장치
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제1항에 있어서,상기 샘플 기판은, 투명의 합성수지 재질로 사출 성형된 것을 특징으로 하는 이색법에 의한 복굴절 측정장치
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제1항 또는 제2항에 있어서,상기 샘플 기판은, 원판형으로 사출 성형된 투명의 플라스틱 렌즈인 것을 특징으로 하는 이색법에 의한 복굴절 측정장치
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제1항 또는 제2항에 있어서,상기 샘플 기판은, CD, DVD 등에 채용되는 광디스크인 것을 특징으로 하는 이색법에 의한 복굴절 측정장치
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제1항에 있어서,상기 샘플 기판은, 상기 광원에서 출력되는 광의 조사 경로에 배치된 것을 특징으로 하는 이색법에 의한 복굴절 측정장치
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제1항에 있어서,상기 편광판은, 상기 광원에서 조사된 광을 편광시키는 제1 편광판과, 상기 샘플 기판을 투과하여 변조된 광을 특정 각도로 선평광시키는 제2 편광판으로 구성된 것을 특징으로 하는 이색법에 의한 복굴절 측정장치
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제1항에 있어서,상기 제1 편광판과 제2 편광판은 상호 45°의 편광 각도를 갖도록 설치된 것을 특징으로 하는 이색법에 의한 복굴절 측정장치
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8
제1항에 있어서,상기 PEM은, 상기 제1 편광판과 샘플 기판 사이에 위치하여 상기 광원으로부터 조사된 광이 편광 변조되어 상기 샘플 기판에 투과되도록 한 것을 특징으로 하는 이색법에 의한 복굴절 측정장치
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제1항에 있어서,상기 광원은, 단파장을 갖는 이색의 632
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10
서로 다른 두 종류의 레이져광이 광원으로부터 조사되어 위상 변조에 의한 신호가 검출되는 광학계;상기 광학계를 통해 검출된 각 파장의 레이져광에 대한 두 종류의 신호 강도가 추출되는 앰프;상기 앰프를 통해 발생된 이색의 레이져광에 대한 신호 강도가 수집되어 자체 연산에 의한 신호 강도의 비를 이용하여 복굴절의 측정이 수행되는 응용프로그램; 및상기 응용프로그램이 구동되는 단말기;를 포함하는 이색법에 의한 복굴절 측정장치
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제10항에 있어서,상기 앰프에서 추출된 아날로그 신호를 디지털 신호로 변환하기 위한 A/D 컨버터;상기 광학계에 포함된 샘플 기판을 회전시키기 위한 스텝핑 모터; 및상기 앰프로부터 수집되는 광 신호에 대한 광학계의 PEM의 변조폭이 제시되는 기준신호 처리기;를 더 포함하는 이색법에 의한 복굴절 측정장치
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12
서로 다른 색상을 가지는 특정 파장대의 광이 광원으로부터 순차적으로 조사되는 단계;상기 광원에서 출력된 광이 제1 편광판을 통과하면서 편광 변환되는 단계;상기의 편광된 광이 PEM을 통해 위상 변조되어 샘플 기판에 투과되는 단계;상기 샘플 기판을 통과한 편광이 제2 편광판을 경유하며 선편광 상태로 변환되고, 검출기를 통해 각 파장의 광에 대한 신호 강도가 측정되는 단계; 및상기 샘플 기판의 각 투과광의 강도비에 의한 경로차의 비교에 의해서 복굴절이 측정되는 단계;를 포함하는 이색법에 의한 복굴절 측정방법
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제12항에 있어서,상기 투과광의 강도비에 의한 경로차의 비교에 의해서 복굴절이 측정되는 단계에서, 임의의 측정 지점에서 632
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제12항에 있어서,상기 샘플 기판은, 투명의 합성수지 재질로 사출 성형된 플라스틱 렌즈 또는 광디스크 중에 어느 하나인 것을 특징으로 하는 이색법에 의한 복굴절 측정방법
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제12항에 있어서,상기 편광판은, 상기 광원에서 조사된 광을 편광시키는 제1 편광판과, 상기 샘플 기판을 투과하여 변조된 광을 특정 각도로 선평광시키는 제2 편광판으로 이루어진 것을 특징으로 하는 이색법에 의한 복굴절 측정방법
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제12항에 있어서,상기 제1 편광판과 제2 편광판은 상호 45°의 편광 각도를 갖도록 설치된 것을 특징으로 하는 이색법에 의한 복굴절 측정방법
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제12항에 있어서,상기 PEM은, 상기 제1 편광판과 샘플 기판 사이에 위치하여 상기 광원으로부터 조사된 광이 편광 변조되어 상기 샘플 기판에 투과되도록 한 것을 특징으로 하는 이색법에 의한 복굴절 측정방법
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제12항에 있어서,상기 광원은, 단파장을 갖는 이색의 632
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제12항에 있어서,상기 샘플 기판의 주축을 45°로 정렬하고, 상기 광학계의 광원을 통해 조사되는 측정 대상 레이져광의 파장으로 치환하여 측정될 수 있는 복굴절의 측정식은 아래의 두 수학식으로 표현되는 것을 특징으로 하는 이색법에 의한 복굴절 측정방법
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