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광섬유 레이저를 이용한 반도체 웨이퍼 절단 장치 및 방법

  • 기술번호 : KST2015149626
  • 담당센터 : 경기기술혁신센터
  • 전화번호 : 031-8006-1570
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 광섬유 레이저를 이용한 반도체 웨이퍼 절단 장치 및 방법에 관한 것으로, 특히 웨이퍼를 용이하게 절단할 수 있는 광섬유 레이저를 이용한 반도체 웨이퍼 절단장치 및 방법에 관한 것이다. 더욱 구체적으로 살펴보면, 웨이퍼의 절단 시 사용되는 반도체 웨이퍼 절단 장치용 광섬유 레이저 조사 장치는 적어도 하나 이상의 레이저에서 레이저빔을 적어도 두 개 이상의 서로 다른 파장길이를 갖도록 펄스화시켜, 상기 웨이퍼에 전달되는 상기 레이저빔의 초점이 적어도 두 개 이상이 되도록 하는 것을 특징으로 한다. 이러한 구성에 의해, 본 발명은 반도체 웨이퍼의 절단 시, 웨이퍼 두께와 상관없이 절단이 가능하고, 절단 부분의 웨이퍼의 불량률을 감소시켜 제품생산의 양수율을 증대시킬 수 있다. 웨이퍼, 절단, 컷팅, 광섬유레이저, 파장제어, 색수차
Int. CL H01L 21/78 (2006.01)
CPC H01L 21/67092(2013.01) H01L 21/67092(2013.01)
출원번호/일자 1020090129430 (2009.12.23)
출원인 한국생산기술연구원
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2011-0072479 (2011.06.29) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 거절
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2009.12.23)
심사청구항수 10

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국생산기술연구원 대한민국 충청남도 천안시 서북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 정훈 대한민국 서울특별시 광진구
2 김종석 대한민국 경기 안산시 단원구
3 김승택 대한민국 경기 성남시 분당구
4 강성복 대한민국 경기도 용인시 수지구
5 변철수 대한민국 서울특별시 강남구
6 이석우 대한민국 경기도 성남시 분당구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인리온 대한민국 서울특별시 서초구 사평대로 ***, *층(반포동)

최종권리자

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번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2009.12.23 수리 (Accepted) 1-1-2009-0795520-78
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2010.08.30 수리 (Accepted) 4-1-2010-5161401-06
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2011.03.14 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2011.04.15 수리 (Accepted) 9-1-2011-0034325-90
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2011.04.26 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0223662-32
6 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2011.09.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0565850-41
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.04.02 수리 (Accepted) 4-1-2012-5068733-13
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.04.26 수리 (Accepted) 4-1-2012-5090658-47
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.01.29 수리 (Accepted) 4-1-2013-5017806-08
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.01.16 수리 (Accepted) 4-1-2015-5006834-98
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.07.02 수리 (Accepted) 4-1-2018-5123030-77
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
웨이퍼의 절단 시 사용되는 광섬유 레이저를 이용한 반도체 웨이퍼 절단 장치에 있어서, 적어도 하나 이상의 레이저빔을 적어도 두 개 이상의 서로 다른 파장길이를 갖도록 펄스화시켜, 상기 웨이퍼에 전달되는 상기 레이저빔의 초점이 적어도 두 개 이상이 되도록 하는 것을 특징으로 하는 광섬유 레이저를 이용한 반도체 웨이퍼 절단 장치
2 2
제1항에 있어서, 상기 광섬유 레이저를 이용한 반도체 웨이퍼 절단 장치는 적어도 하나 이상의 레이저빔을 발생하는 광원부; 상기 레이저빔을 적어도 두 개 이상의 서로 다른 파장길이를 갖도록 상기 파장길이를 제어하는 파장제어부; 파장길이가 제어된 상기 레이저빔에 대하여 적어도 두 개 이상의 파장을 교대로 갖도록 펄스화하는 펄스발생부; 및 상기 서로 다른 파장길이를 갖는 레이저빔을 렌즈모듈을 통해 상기 반도체 웨이퍼에 조사하는 조사부; 를 포함하는 광섬유 레이저를 이용한 반도체 웨이퍼 절단 장치
3 3
제2항에 있어서, 상기 파장제어부는 상기 레이저빔의 파장길이를 제어하여 상기 레이저빔의 색상을 변경하는 것을 특징으로 하는 광섬유 레이저를 이용한 반도체 웨이퍼 절단 장치
4 4
제2항에 있어서, 상기 조사부는 상기 서로 다른 파장길이를 갖는 레이저빔 중 짧은 파장길이를 갖는 레이저빔의 제1초점 거리는 긴 파장길이를 갖는 레이저빔의 제2초점거리보다 짧은 것을 특징으로 하는 광섬유 레이저를 이용한 반도체 웨이퍼 절단 장치
5 5
제4항에 있어서, 상기 조사부는 상기 반도체 웨이퍼의 상부면을 이동하면서 상기 반도체 웨이퍼의 내부에 형성된 적어도 두 개의 초점에 상기 레이저빔을 조사하는 것을 특징으로 하는 광섬유 레이저를 이용한 반도체 웨이퍼 절단 장치
6 6
제2항에 있어서, 상기 광원부는 이테르븀(Ytterbium)을 포함하는 희토류원소가 첨가된 광섬유레이저를 포함하는 것을 특징으로 하는 광섬유 레이저를 이용한 반도체 웨이퍼 절단 장치
7 7
웨이퍼의 절단 시 사용되는 광섬유 레이저를 이용한 반도체 웨이퍼 절단 방법에 있어서, 레이저빔을 적어도 두 개 이상의 서로 다른 파장길이를 갖도록 상기 파장길이를 제어하는 파장제어단계; 서로 다른 파장길이를 갖는 상기 레이저빔에 대하여 적어도 두 개 이상의 파장을 교대로 갖도록 펄스화하는 펄스발생단계; 상기 서로 다른 파장길이를 갖는 레이저빔을 렌즈모듈을 통해 반도체 웨이퍼 내 적어도 두 개의 초점에 조사하는 조사단계; 를 포함하는 광섬유 레이저를 이용한 반도체 웨이퍼 절단 방법
8 8
제7항에 있어서, 상기 파장제어단계는 상기 레이저빔의 파장길이를 제어하여 상기 레이저빔의 색상을 변경하는 것을 특징으로 하는 광섬유 레이저를 이용한 반도체 웨이퍼 절단 방법
9 9
제7항에 있어서, 상기 조사단계는 상기 서로 다른 파장길이를 갖는 레이저빔 중 짧은 파장길이를 갖는 레이저빔의 제1초점 거리는 긴 파장길이를 갖는 레이저빔의 제2초점거리보다 짧은 것을 특징으로 하는 광섬유 레이저를 이용한 반도체 웨이퍼 절단 방법
10 10
제9항에 있어서, 상기 조사단계는 상기 반도체 웨이퍼의 상부면을 이동하면서 상기 반도체 웨이퍼의 내부로 적어도 두 개의 초점에 상기 레이저빔을 조사하는 것을 특징으로 하는 광섬유 레이저를 이용한 반도체 웨이퍼 절단 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.