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진동형 마이크로자이로스코프

  • 기술번호 : KST2015154581
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 진동형 마이크로자이로스코프이다.본 발명에 따르면 평면 김블 구조의 내부 구동 김블; 및 평면 김블 구조의 외부 검출 김블을 포함하며, 정전력 구동 및 정전 용량 변화 검출형의 방식을 갖는다.그 결과, 정전력 구동 및 정전 용량 변화 검출형의 방식을 갖는 김블 구조의 각속도계 센서를 설계하므로써 전기 및 기계적 응답이 유기적으로 연결된 마이크로자이로스코프의 성능을 극대화시킬 수 있다.자이로스코프, 마이크로자이로스코프, 각속도, 센서, 김블
Int. CL G01C 19/56 (2006.01)
CPC
출원번호/일자 1020000033928 (2000.06.20)
출원인 국방과학연구소
등록번호/일자 10-0373484-0000 (2003.02.11)
공개번호/일자 10-2001-0077832 (2001.08.20) 문서열기
공고번호/일자 (20030225) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보 대한민국  |   1020000004090   |   2000.01.27
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2000.06.20)
심사청구항수 16

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 국방과학연구소 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김용권 대한민국 서울특별시 강남구
2 임형택 대한민국 서울특별시 관악구
3 임재욱 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 박장원 대한민국 서울특별시 강남구 강남대로 ***, *층~*층 (논현동, 비너스빌딩)(박장원특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 국방과학연구소 대한민국 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2000.06.20 수리 (Accepted) 1-1-2000-0125729-00
2 대리인변경신고서
Agent change Notification
2002.01.04 불수리 (Non-acceptance) 1-1-2002-5002551-82
3 출원인변경신고서
Applicant change Notification
2002.01.04 수리 (Accepted) 1-1-2002-5002577-68
4 서지사항 보정서
Amendment to Bibliographic items
2002.01.04 수리 (Accepted) 1-1-2002-0002223-83
5 반려이유통지서
Notice of Reason for Return of Document
2002.01.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2002-0007684-61
6 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2002.02.21 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
7 반려통지서
Notice for Return
2002.03.04 수리 (Accepted) 1-5-2002-0016395-82
8 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2002.03.27 수리 (Accepted) 9-1-2002-0041581-14
9 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2002.08.09 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2002-0288960-89
10 의견서
Written Opinion
2002.10.09 수리 (Accepted) 1-1-2002-0331691-54
11 명세서 등 보정서
Amendment to Description, etc.
2002.10.09 보정승인 (Acceptance of amendment) 1-1-2002-0331699-18
12 등록결정서
Decision to grant
2003.01.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2003-0035931-33
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2005.07.18 수리 (Accepted) 4-1-2005-0024313-50
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.07.22 수리 (Accepted) 4-1-2013-0033275-90
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1

제 1방향으로만 탄성운동이 가능한 제1김블과;

상기 제1김블이 상기 제1방향으로 탄성운동을 할 때에는 상기 제1김블과 함께 제1방향으로 탄성운동을 하며, 상기 제1김블과는 독립적으로 상기 제1방향과 수직을 이루는 제2방향으로의 탄성운동이 가능하도록 상기 제1김블에 연결설치된 제2김블을 포함하는 것을 특징으로 하는 진동형 마이크로 자이로스코프

2 2

삭제

3 3

삭제

4 4

삭제

5 5

제1 방향으로 전체 김블 구조를 진동시키는 구동 김블과,

각속도 인가시 상기 제1 방향과 수직을 이루는 제2 방향으로 변위되는 검출 김블과,

상기 구동 김블을 고정축과 연결하며 제1 방향으로의 유동이 가능한 구동 판스프링과,

상기 구동 김블과 상기 검출 김블을 연결하며 제2 방향으로의 유동이 가능한 검출 판스프링과,

상기 검출 김블의 제2 방향으로의 변위에 따라 상기 검출 김블과의 사이에서 형성되는 정전 용량이 변화하도록 설계된 검출 전극을 포함하며,

상기 검출 전극은 제1 검출 전극과 제2 검출 전극을 포함하며, 상기 제1 검출 전극과 상기 검출 김블과의 사이에서 형성되는 제1 정전 용량이 증가하면 상기 제2 검출 전극과 상기 검출 김블과의 사이에서 형성되는 제2 정전 용량은 감소하고, 반대로 상기 제1 정전 용량이 감소하면 상기 제2 정전 용량은 증가하는 진동형 마이크로자이로스코프

6 6

제 5항에 있어서,

상기 제1 및 제2 검출 전극은 상기 검출 김블의 일부인 검출 빗살부의 양측에 각각 배치되어 있는 진동형 마이크로자이로스코프

7 7

제 5항에 있어서,

상기 제1 정전 용량과 상기 제2 정전 용량 사이의 차분에 따른 전류 변화를 전압으로 출력하는 적분기를 더 포함하는 진동형 마이크로자이로스코프

8 8

제 5항에 있어서,

상기 전체 김블 구조의 제1 방향 진동을 유발하는 구동 전극을 포함하는 진동형 마이크로자이로스코프

9 9

제 8항에 있어서,

상기 구동 전극은 상기 구동 김블의 일부인 구동 빗살부와 깎지낀 모양으로 형성되어 있는 진동형 마이크로자이로스코프

10 10

제 5항에 있어서,

각속도에 따른 상기 검출 김블의 제2 방향 변위량을 조절하는 튜닝 전극을 추가적으로 포함하는 진동형 마이크로자이로스코프

11 11

제 11항에 있어서,

상기 튜닝 전극은 제1 및 제2 튜닝 전극으로 이루어지며, 상기 제1 및 제2 튜닝 전극은 상기 검출 김블의 일부인 검출 빗살부의 양측에 각각 배치되어 있는 진동형 마이크로자이로스코프

12 12

제 5항에 있어서,

상기 검출 김블의 제2 방향 진동을 억제할 수 있는 리밸런싱 전극을 추가적으로 포함하는 진동형 마이크로자이로스코프

13 13

제 5항에 있어서,

상기 구동 김블과 상기 구동 판스프링을 통하여 직접 연결되어 있고 상기 고정축과 또다른 상기 구동 판스프링을 통하여 직접 연결되어 있는 완충부를 추가적으로 포함하는 진동형 마이크로자이로스코프

14 14

한 쌍의 고정축과;

상기 고정축과는 수직을 이루는 제 1방향으로만 탄성변형이 가능한 제1탄성부재에 의하여 상기 고정축과 각각 연결되는 한 쌍의 완충부재와;

상기 제1방향으로만 탄성변형이 가능한 제2탄성부재에 의하여 상기 각각의 완충부재와 연결되는 제1김블과;

상기 고정축 및 제1방향과 수직을 이루는 제2방향으로만 탄성변형이 가능한 제3탄성부재에 의하여 연결되는 제2김블을 포함하는 것을 특징으로 하는 진동형 마이크로 자이로스코프

15 15

제 14항에 있어서,

상기 제1, 2 및 제3 탄성부재는 판형스프링인 것을 특징으로 하는 진동형 마이크로 자이로스코프

16 16

제 14항에 있어서,

상기 제1김블은 상기 제2및 제3탄성부재와 연결되는 한 쌍의 제1프래임과;

상기 제1프래임을 연결하는 제2프래임을 포함하는 것을 특징으로 하는 진동형 마이크로 자이로스코프

17 17

제 16항에 있어서,

상기 제2프래임은 상기 제1김블이 구동전극에 의하여 제1방향으로 진동하도록 상기 구동전극과 깍지낀 형태로 배치되는 빗살부가 상기 제1방향으로 연장형성되는 것을 특징으로 하는 진동형 마이크로 자이로스코프

18 18

제 14항에 있어서,

상기 제2김블의 양측에는 상기 제1방향으로 하나 이상의 검출빗살부가 연장형성되고, 상기 검출빗살부와 맞물려 상기 제2김블의 움직임을 검출하기 위한 다수개의 검출전극을 포함하는 것을 특징으로 하는 진동형 마이크로 자이로스코프

19 19

제 14항에 있어서,

상기 제2김블의 진동을 억제하기 위한 리밸런싱 전극을 추가적로 포함하는 것을 특징으로 하는 진동형 마이크로자이로스코프

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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 JP15531359 JP 일본 FAMILY
2 US20030084722 US 미국 FAMILY
3 WO2001055674 WO 세계지적재산권기구(WIPO) FAMILY
4 WO2001055674 WO 세계지적재산권기구(WIPO) FAMILY

DOCDB 패밀리 정보

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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 AU3062401 AU 오스트레일리아 DOCDBFAMILY
2 AU3062401 AU 오스트레일리아 DOCDBFAMILY
3 DE10195200 DE 독일 DOCDBFAMILY
4 DE10195200 DE 독일 DOCDBFAMILY
5 DE10195200 DE 독일 DOCDBFAMILY
6 JP2003531359 JP 일본 DOCDBFAMILY
7 JP2003531359 JP 일본 DOCDBFAMILY
8 JP2003531359 JP 일본 DOCDBFAMILY
9 US2003084722 US 미국 DOCDBFAMILY
10 WO0155674 WO 세계지적재산권기구(WIPO) DOCDBFAMILY
11 WO0155674 WO 세계지적재산권기구(WIPO) DOCDBFAMILY
12 WO0155674 WO 세계지적재산권기구(WIPO) DOCDBFAMILY
13 WO0155674 WO 세계지적재산권기구(WIPO) DOCDBFAMILY
국가 R&D 정보가 없습니다.