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링 레이저 공진기와 상기 링 레이저 공진기를 각진동시키는 각진동기를 포함하는 링 레이저 자이로스코프의 각진동 제거 방법에 있어서,상기 각진동에 의한 각진동 신호에 대응되는 각속도 신호를 검출하고 상기 각속도 신호를 전압-주파수(V-F) 변환하여 V-F 펄스를 생성하는 단계와;상기 V-F 펄스를 미리 결정된 샘플링 주기마다 검출하고, 상기 샘플링 주기에 근거하여 상기 V-F 펄스를 미분하여 V-F 미분 펄스를 생성하는 단계와;상기 각진동 신호가 부가된 링 레이저 신호에 따른 링 레이저 펄스를 상기 미리 결정된 샘플링 주기마다 검출하는 단계로서, 상기 링 레이저 펄스와 상기 V-F 미분 펄스의 위상차에 상응하는 지연 시간만큼 지연하여 상기 링 레이저 펄스를 검출하는 단계와;미리 설정된 시간 동안의 상기 V-F 미분 펄스의 분산값과 미리 설정된 시간 동안의 상기 링 레이저 펄스의 분산값에 근거하여 상기 링 레이저 펄스에 대한 상기 V-F 미분 펄스의 이득을 연산하는 단계와;상기 링 레이저 펄스로부터 상기 이득과 상기 V-F 미분 펄스의 승산 결과를 공제하여 상기 각진동 신호가 제거된 링 레이저 자이로스코프 신호를 생성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 링 레이저 자이로스코프의 각진동 제거 방법
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제 1항에 있어서, 상기 링 레이저 펄스와 상기 V-F 미분 펄스의 위상차에 상응하는 지연 시간만큼 지연하여 상기 링 레이저 펄스를 검출하는 단계는,상기 각진동기의 각진동 주기의 1/4 주기(τ/4)와 상기 샘플링 주기의 1/2주기()를 합한 제 1 지연 시간만큼 지연하여 상기 링 레이저 펄스를 검출하는 것을 특징으로 하는 링 레이저 자이로스코프의 각진동 제거 방법
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제 2항에 있어서, 상기 각진동 주기에 따른 각진동 주파수가 상기 샘플링 주기에 따른 샘플링 주파수의 1/6배인 경우, 상기 제 1 지연 시간은 상기 샘플링 주기의 2배이고,상기 각진동기의 각진동 주파수가 상기 샘플링 주기에 따른 샘플링 주파수의 1/6배보다 큰 경우, 상기 샘플링 주기의 2배인 제 1 지연 시간만큼 지연하여 상기 링 레이저 펄스를 검출하는 한편, 추가로 상기 샘플링 주기의 3/2주기()에서 상기 각진동 주기의 1/4주기(τ/4)를 공제한 제 2 지연 시간만큼 지연하여 상기 V-F 펄스를 검출하고,상기 각진동기의 각진동 주파수가 상기 샘플링 주기에 따른 샘플링 주파수의 1/6배보다 작은 경우, 상기 샘플링 주기의 2배인 제 1 지연 시간에 추가하여 상기 샘플링 주기의 3/2주기()에서 상기 각진동 주기의 1/4주기(τ/4)를 공제한 제 2 지연 시간만큼 지연하여 상기 링 레이저 펄스를 검출하는 것을 특징으로 하는 링 레이저 자이로스코프의 각진동 제거 방법
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링 레이저 공진기와 상기 링 레이저 공진기를 각진동시키는 각진동기를 포함하는 링 레이저 자이로스코프의 각진동 제거 방법에 있어서,상기 각진동 신호가 부가된 링 레이저 신호에 따른 링 레이저 펄스를 미리 결정된 샘플링 주기마다 검출하는 단계와;상기 각진동에 의한 각진동 신호에 대응되는 각속도 신호를 검출하고 상기 각속도 신호를 전압-주파수(V-F) 변환하여 V-F 펄스를 생성하는 단계와;상기 V-F 펄스를 상기 미리 결정된 샘플링 주기마다 검출하고, 상기 샘플링 주기에 근거하여 상기 V-F 펄스를 미분하여 V-F 미분 펄스를 생성하는 단계와;상기 V-F 펄스의 검출 시점을 상기 링 레이저 신호와 상기 V-F 미분 펄스의 위상차에 상응하는 지연 시간만큼 지연시키는 단계와;미리 설정된 시간 동안의 상기 V-F 미분 펄스의 분산값과 미리 설정된 시간 동안의 상기 링 레이저 펄스의 분산값에 근거하여 상기 링 레이저 펄스에 대한 상기 V-F 미분 펄스의 이득을 연산하는 단계와;상기 링 레이저 펄스로부터 상기 이득과 상기 V-F 미분 펄스의 승산 결과를 공제하여 상기 각진동 신호가 제거된 링 레이저 자이로스코프 신호를 생성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 링 레이저 자이로스코프의 각진동 제거 방법
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제 4항에 있어서, 상기 링 레이저 펄스와 상기 V-F 미분 펄스의 위상차에 상응하는 지연 시간만큼 지연하여 상기 V-F 펄스를 검출하는 단계는,상기 각진동기의 각진동 주기의 1/4 주기(τ/4)에서 상기 샘플링 주기의 1/2주기()를 공제한 제 1 지연 시간만큼 지연하여 상기 V-F 펄스를 검출하는 것을 특징으로 하는 링 레이저 자이로스코프의 각진동 제거 방법
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제 5항에 있어서, 상기 각진동 주기에 따른 각진동 주파수가 상기 샘플링 주기에 따른 샘플링 주파수의 1/6배인 경우, 상기 제 1 지연 시간은 상기 샘플링 주기의 1배이고,상기 각진동기의 각진동 주파수가 상기 샘플링 주기에 따른 샘플링 주파수의 1/6배보다 큰 경우, 상기 샘플링 주기의 1배인 제 1 지연 시간만큼 지연하여 상기 V-F 펄스를 검출하는 한편, 추가로 상기 샘플링 주기의 3/2주기()에서 상기 각진동 주기의 1/4주기(τ/4)를 공제한 제 2 지연 시간만큼 지연하여 상기 링 레이저 펄스를 검출하고,상기 각진동기의 각진동 주파수가 상기 샘플링 주기에 따른 샘플링 주파수의 1/6배보다 작은 경우, 상기 샘플링 주기의 1배인 제 1 지연 시간에 추가하여 상기 샘플링 주기의 3/2주기()에서 상기 각진동 주기의 1/4주기(τ/4)를 공제한 제 2 지연 시간만큼 지연하여 상기 V-F 펄스를 검출하는 것을 특징으로 하는 링 레이저 자이로스코프의 각진동 제거 방법
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제 3항 또는 제 6항에 있어서,상기 제 2 지연 시간은 상기 링 레이저 자이로스코프 신호에 포함된 잡음 수준이 최소가 되는 값으로 갱신되고,상기 이득은 상기 갱신된 제 2 지연 시간에 따라 갱신되는 것을 특징으로 하는 링 레이저 자이로스코프의 각진동 제거 방법
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