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부피전기저항 측정법을 이용한 고분자 복합재료 내의전도성 나노소재의 분산성 평가방법

  • 기술번호 : KST2015154874
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 부피전기저항 측정법을 이용한 고분자 복합재료 내의 전도성 나노소재의 분산성 평가방법에 관한 것으로서, 고분자 복합재료 내의 전도성 나노소재의 분산성을 정량적으로 평가하고자 하는 것을 목적으로 한다. 이와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 방법은, 준비된 전도성 나노소재 강화 고분자 복합재료 내에 일정한 간격으로 부피전기저항 측정용 단자의 접속을 위한 다수의 접점을 형성하는 단계; 다수의 접점의 각 접점 간의 부피전기저항을 측정하는 단계; 측정된 부피전기저항의 평균, 표준편차 및 변동계수를 산출하는 단계; 및 산출된 부피전기저항의 평균, 표준편차 및 변동계수를 바탕으로 상기 고분자 복합재료 내의 전도성 나노소재의 분산성을 평가하는 단계를 포함한다. 이와 같은 본 발명에 의하면, 부피전기저항 변화 측정을 이용하여 전도성 나노복합재료 내부에 함침된 전도성 나노소재의 분산성을 평가하는 동시에, 퍼콜레이션 구조를 간접적으로 확인할 수 있어, 실제로 전도성 나노복합재료의 신뢰성 평가에 중요한 기술로 응용할 수 있다. 고분자, 복합재료, 전도성, 나노소재, 분산성, 부피전기저항, 측정
Int. CL B82Y 35/00 (2011.01) G01N 27/00 (2011.01) G01N 27/04 (2011.01)
CPC G01N 27/04(2013.01) G01N 27/04(2013.01) G01N 27/04(2013.01) G01N 27/04(2013.01) G01N 27/04(2013.01)
출원번호/일자 1020080054196 (2008.06.10)
출원인 국방과학연구소
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2009-0128161 (2009.12.15) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 거절
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2008.06.10)
심사청구항수 3

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 국방과학연구소 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박종만 대한민국 경상남도 진주시
2 김평기 대한민국 경상남도 마산시
3 박종규 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인원전 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 풍림빌딩 *층 (역삼동)

최종권리자

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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2008.06.10 수리 (Accepted) 1-1-2008-0413394-17
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2009.03.10 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2009.04.14 수리 (Accepted) 9-1-2009-0023669-74
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2010.06.22 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2010-0263557-38
5 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)		 2010.08.23 수리 (Accepted) 1-1-2010-0541621-60
6 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)		 2010.09.17 수리 (Accepted) 1-1-2010-0607377-49
7 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)		 2010.10.22 수리 (Accepted) 1-1-2010-5035183-11
8 거절결정서
Decision to Refuse a Patent		 2010.12.01 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2010-0553395-18
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2013.07.22 수리 (Accepted) 4-1-2013-0033275-90
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번호 청구항
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a) 준비된 전도성 나노소재 강화 고분자 복합재료 내에 일정한 간격으로 부피전기저항 측정용 단자의 접속을 위한 다수의 접점을 형성하는 단계; b) 상기 다수의 접점의 각 접점 간의 부피전기저항을 측정하는 단계; c) 상기 측정된 부피전기저항의 평균, 표준편차 및 변동계수를 산출하는 단계; 및 d) 상기 산출된 부피전기저항의 평균, 표준편차 및 변동계수를 바탕으로 상기 고분자 복합재료 내의 전도성 나노소재의 분산성을 평가하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 부피전기저항 측정법을 이용한 고분자 복합재료 내의 전도성 나노소재의 분산성 평가방법
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제1항에 있어서, 상기 단계 b)에서의 각 접점 간의 부피전기저항은 4단자법(4 point probe method)을 이용하여 측정하는 것을 특징으로 하는 부피전기저항 측정법을 이용한 고분자 복합재료 내의 전도성 나노소재의 분산성 평가방법
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제1항에 있어서, 상기 단계 c)에서의 부피전기저항의 평균, 표준편차 및 변동계수는 각각 다음의 수식에 의해 산출하는 것을 특징으로 하는 부피전기저항 측정법을 이용한 고분자 복합재료 내의 전도성 나노소재의 분산성 평가방법
지정국 정보가 없습니다
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