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전자기파 탐색기의 시험장치 및 이를 구비하는 시험 시스템

  • 기술번호 : KST2015155025
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 전자기파 탐색기의 시험장치 및 이를 구비하는 시험 시스템에 관한 것으로, 상기 시험장치는, 내부에 전자기파 탐색기가 배치되도록 형성되며 상기 전자기파 탐색기에서 송수신되는 전자기파가 통과하도록 일단에 개구가 구비되는 하우징, 및 상기 개구와 연결되며 복수의 도파관으로 이루어지고 외부로부터 공급되는 전자기파를 상기 복수의 도파관들을 통하여 상기 개구로 전달하고 상기 개구로부터 방출되는 전자기파를 상기 도파관들을 통하여 외부로 전달시키는 신호전달부를 포함한다. 이에 의하여 본 발명은 무반향 챔버를 사용할 수 없는 장소에서 전자기파 탐색기의 성능을 점검할 수 있는 시험장치를 제공한다.
Int. CL G01R 29/08 (2006.01)
CPC G01R 29/08(2013.01) G01R 29/08(2013.01) G01R 29/08(2013.01) G01R 29/08(2013.01)
출원번호/일자 1020100011198 (2010.02.05)
출원인 국방과학연구소
등록번호/일자 10-1040217-0000 (2011.06.02)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20110616) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2010.02.05)
심사청구항수 13

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 국방과학연구소 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김동석 대한민국 대전시 유성구
2 한석주 대한민국 대전광역시 유성구
3 김소수 대한민국 대전광역시 서구
4 김영채 대한민국 대전광역시 서구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 박장원 대한민국 서울특별시 강남구 강남대로 ***, *층~*층 (논현동, 비너스빌딩)(박장원특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 국방과학연구소 대한민국 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2010.02.05 수리 (Accepted) 1-1-2010-0081612-92
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2011.04.14 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2011.05.17 수리 (Accepted) 9-1-2011-0042383-60
4 등록결정서
Decision to grant
2011.05.23 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0273433-00
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.07.22 수리 (Accepted) 4-1-2013-0033275-90
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
내부에 전자기파 탐색기가 배치되도록 형성되며, 상기 전자기파 탐색기에서 송수신되는 전자기파가 통과하도록 일단에 개구가 구비되는 하우징; 및상기 개구와 연결되며, 복수의 도파관으로 이루어지고, 외부로부터 공급되는 전자기파를 상기 복수의 도파관들을 통하여 상기 개구로 전달하고, 상기 개구로부터 방출되는 전자기파를 상기 도파관들을 통하여 외부로 전달시키는 신호전달부를 포함하는 전자기파 탐색기의 시험장치
2 2
제1항에 있어서,상기 신호전달부는,유입되는 전자기파를 상기 유입되는 방향과 교차하는 방향에서 검출하도록 복수의 도파관이 서로 교차하게 배치되는 신호 결합기를 포함하는 전자기파 탐색기의 시험장치
3 3
제2항에 있어서,상기 신호전달부는,상기 신호 결합기와 연결되며, 상기 전자기파를 일 방향으로 진행시키고, 상기 일 방향과 반대 방향의 진행을 차단하도록 형성되는 신호 격리기를 더 포함하는 전자기파 탐색기의 시험장치
4 4
제2항에 있어서,상기 신호 결합기는 서로 연결되는 제1 및 제2 신호 결합기를 포함하고,상기 제1 및 제2 신호 결합기는 서로 연결되는 부분을 중심으로 대칭되도록 배치되는 것을 특징으로 하는 전자기파 탐색기의 시험장치
5 5
제2항에 있어서,상기 신호전달부는,일단은 상기 신호 결합기와 연결되며, 타단은 상기 전자기파의 출력을 측정하는 측정기기와 연결되도록 형성되며, 상기 전자기파를 상기 측정기기에서 측정되는 신호와 대응하도록 변환시키는 신호 변환기를 더 포함하는 전자기파 탐색기의 시험장치
6 6
제1항에 있어서,상기 신호전달부는 상기 하우징의 일단에 장착되며, 상기 개구와 연통하도록 형성되는 것을 특징으로 하는 전자기파 탐색기의 시험장치
7 7
제1항에 있어서,상기 하우징은 상기 전자기파 탐색기가 배치되는 내부를 외부에 대하여 차폐시키도록 이루어지는 것을 특징으로 하는 전자기파 탐색기의 시험장치
8 8
제7항에 있어서,상기 하우징의 내면에는 전자기파를 흡수하도록 이루어지는 전자기파 흡수체가 배치되는 것을 특징으로 하는 전자기파 탐색기의 시험장치
9 9
내부에 전자기파 탐색기가 배치되며, 상기 전자기파 탐색기가 배치되는 부분과 인접하게 형성되는 개구를 구비하며, 상기 개구를 통하여 상기 전자기파 탐색기에서 송수신되는 전자기파가 통과되도록 이루어지는 하우징; 및복수의 도파관으로 이루어지며, 일단은 상기 개구와 연결되고, 타단은 측정기기와 연결되며, 상기 개구로부터 방출되는 전자기파를 상기 측정기기로 전달시키는 신호전달부를 포함하는 전자기파 탐색기의 시험장치
10 10
제9항에 있어서,상기 측정기기에서 측정되는 측정데이터는 보다 원거리의 측정 결과에 대응하도록 보정되는 것을 특징으로 하는 전자기파 탐색기의 시험장치
11 11
제10항에 있어서,상기 신호전달부는,유입되는 전자기파를 상기 유입되는 방향과 교차하는 방향에서 검출하도록 복수의 도파관이 서로 교차하게 배치되는 신호 결합기; 및상기 신호 결합기와 연결되며, 상기 전자기파를 일 방향으로 진행시키도록 형성되는 신호 격리기를 포함하는 전자기파 탐색기의 시험장치
12 12
내부에 전자기파 탐색기가 배치되는 하우징과, 상기 하우징과 연결되며 복수의 도파관으로 이루어지는 신호전달부를 구비하며, 상기 제1항 내지 제11항 중 어느 한 항에 따르는 시험장치; 및상기 신호전달부와 연결되며, 상기 전자기파 탐색기에서 송신되는 전자기파를 특성을 측정하는 측정기기를 포함하는 전자기파 탐색기의 시험 시스템
13 13
제12항에 있어서,상기 신호전달부와 연결되며, 상기 전자기파 탐색기가 전자기파를 수신하도록 상기 신호전달부에 상기 수신되는 전자기파를 공급하도록 형성되는 전자기파 공급장치를 더 포함하는 전자기파 탐색기의 시험 시스템
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.