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나노재료 분산도 측정장치 및 측정방법

  • 기술번호 : KST2015155090
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 전자기 신호를 생성하고 상기 전자기 신호의 투과량 및 반사량으로부터 산란계를 구하는 네트워크 분석기; 상기 네트워크 분석기의 입력 단자에 연결되어 상기 전자기 신호를 측정 대상에 인가하는 송신 수단; 상기 네트워크 분석기의 출력 단자에 연결되어 상기 측정 대상을 투과한 상기 전자기 신호를 전달받는 수신 수단;상기 송신 수단 또는 상기 수신 수단의 내부에 위치하거나 상기 송신 수단과 상기 수단의 사이에 위치하는 나노재료 시편;및 상기 네트워크 분석기로부터 상기 산란 계수를 입력받아 상기 나노재료 시편의 유전율 또는 투자율을 계산하여 상기 나노재료 시편의 분산도를 구하는 연산처리장치;를 포함하는 나노재료 분산도 측정 장치 및 나노재료 분산도 측정방법을 제시한다.
Int. CL G01N 15/02 (2006.01.01) G01N 1/36 (2006.01.01) G01N 15/00 (2017.01.01)
CPC G01N 15/0211(2013.01) G01N 15/0211(2013.01) G01N 15/0211(2013.01) G01N 15/0211(2013.01) G01N 15/0211(2013.01)
출원번호/일자 1020100064543 (2010.07.05)
출원인 국방과학연구소
등록번호/일자 10-1146562-0000 (2012.05.09)
공개번호/일자 10-2012-0003762 (2012.01.11) 문서열기
공고번호/일자 (20120525) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2010.07.05)
심사청구항수 20

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 국방과학연구소 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 서일성 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 박장원 대한민국 서울특별시 강남구 강남대로 ***, *층~*층 (논현동, 비너스빌딩)(박장원특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 국방과학연구소 대전광역시 유성구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2010.07.05 수리 (Accepted) 1-1-2010-0434229-98
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2011.10.06 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2011.11.18 수리 (Accepted) 9-1-2011-0090499-16
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2011.12.09 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0729815-55
5 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2011.12.20 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2011-1015454-51
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2011.12.20 수리 (Accepted) 1-1-2011-1015452-60
7 등록결정서
Decision to grant
2012.05.01 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0256719-43
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.07.22 수리 (Accepted) 4-1-2013-0033275-90
9 [대리인선임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Appointment of Agent] Report on Agent (Representative)
2020.06.03 불수리 (Non-acceptance) 1-1-2020-0573324-44
10 서류반려이유통지서
Notice of Reason for Return of Document
2020.06.08 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2020-0080802-20
11 [대리인선임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Appointment of Agent] Report on Agent (Representative)
2020.06.09 수리 (Accepted) 1-1-2020-0591217-89
12 [반려요청]서류 반려요청서·반환신청서
2020.06.09 수리 (Accepted) 1-1-2020-0589457-26
13 서류반려통지서
Notice for Return of Document
2020.06.10 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2020-0082857-77
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
전자기 신호를 생성하고 상기 전자기 신호의 투과량 및 반사량으로부터 산란계수(Scattering Parameter)를 구하는 네트워크 분석기;상기 네트워크 분석기의 입력 단자에 연결되어 상기 전자기 신호를 측정 대상에 인가하는 송신 수단;상기 네트워크 분석기의 출력 단자에 연결되어 상기 측정 대상을 투과한 상기 전자기 신호를 전달받는 수신 수단;상기 송신 수단 또는 상기 수신 수단의 내부에 위치하거나 상기 송신 수단과 상기 수단의 사이에 위치하는 나노재료 시편;및상기 네트워크 분석기로부터 상기 산란 계수를 입력받아 상기 나노재료 시편의 유전율 또는 투자율을 계산하여 상기 나노재료 시편의 분산도를 구하는 연산처리장치;를 포함하는 나노재료 분산도 측정 장치
2 2
제 1 항에 있어서,상기 나노재료 시편은 상기 송신 수단 또는 상기 수신 수단의 단면적 이하의 면적인 것을 특징으로 하는 나노재료 분산도 측정 장치
3 3
제 1 항에 있어서, 상기 나노재료 분산도 측정장치는 상기 나노재료 시편을 그 내부에 포함하는 나노재료 측정 기구를 더 포함하는 나노재료 분산도 측정 장치
4 4
제 3 항에 있어서,상기 송신 수단은 상기 전자기 신호를 자유 공간으로 방사하는 송신 안테나;상기 수신 수단은 상기 송신 안테나로부터 이격된 거리에 설치되어 상기 송신 안테나로부터 방사된 전자기 신호를 전달받는 수신 안테나; 및상기 나노재료 측정 기구는 상기 송신 안테나와 상기 수신 안테나의 사이에 위치하는 것;을 특징으로 하는 나노재료의 분산도 측정 장치
5 5
제 3 항에 있어서,상기 나노재료 측정 기구는상기 나노재료 시편을 그 내부에 삽입하기 위한 샘플홀더; 및상기 샘플홀더의 하부에 배치되어 상기 샘플홀더를 지면에 지지하기 위한 샘플지지대;를 포함하는 나노재료의 분산도 측정 장치
6 6
제 4 항에 있어서,상기 나노재료 시편은 각 변의 길이가 상기 송신 안테나 및 상기 수신안테나의 각 변의 길이와 같은 것을 특징으로 하는 나노재료의 분산도 측정 장치
7 7
제 4 항에 있어서,상기 나노재료 시편은 대각선의 길이가 파장의 3 배 내지 4 배인 것을 특징으로 하는 나노재료의 분산도 측정 장치
8 8
제 5 항에 있어서,상기 나노재료 측정 기구는 상기 송신 안테나, 상기 수신 안테나 및 상기 샘플 지지대를 동일 평면 내의 일직선상에 위치시키기 위한 위치 가변 고정부; 및 상기 송신 안테나, 상기 수신 안테나 및 상기 샘플 지지대 상호 간의 거리를 미세 조정하는 마이크로미터 포지셔너;를 더 포함하는 나노재료 분산도 측정 장치
9 9
제 1 항에 있어서,상기 송신 수단은 상기 전자기 신호를 그 내부에 가이드하여 전달하는 제 1 도파관;상기 수신 수단은 상기 제 1 도파관과 체결되어 상기 제 1 도파관으로부터 전송된 전자기 신호를 전달받는 제 2 도파관; 및 상기 나노재료 시편은 상기 제 1 도파관 또는 상기 제 2 도파관의 내부에 위치하는 것;을 특징으로 하는 나노재료의 분산도 측정 장치
10 10
제 9 항에 있어서,상기 나노재료 시편은 각 변의 길이가 상기 제 1 도파관 및 상기 제 2 도파관의 각 변의 길이와 같은 것을 특징으로 하는 나노재료의 분산도 측정 장치
11 11
제 9 항에 있어서,상기 나노재료 시편은 한 변의 길이가 파장의 0
12 12
제 1 항에 있어서,상기 송신 수단은 송신된 상기 전자기 신호를 그 내부에 가이드하여 전달하는 제 1 동축선;상기 수신 수단은 상기 제 1 동축선과 체결되어 상기 송신 신호를 전달받는 제 2 동축선; 및상기 나노재료 시편은 상기 제 1 동축선 또는 상기 제 2 동축선의 내부에 위치하는 것;을 특징으로 하는 나노재료의 분산도 측정 장치
13 13
제 12 항에 있어서,상기 나노재료 시편은원기둥 형태이며 반경의 크기는 상기 제 1 동축선 및 상기 제 2 동축선의 내부 반경의 크기와 같도록 하는 것을 특징으로 하는 나노재료의 분산도 측정 장치
14 14
제 12 항에 있어서,상기 나노재료 시편은 직경이 파장의 0
15 15
나노재료 시편의 투과 계수 및 반사 계수를 구하는 제 1 단계;상기 투과 계수 및 상기 반사 계수로부터 상기 나노재료 시편의 유전율 또는 투자율을 구하는 제 2 단계;상기 유전율 또는 상기 투자율의 실수항의 값으로부터 상기 나노재료 시편의 분산도를 구하는 제 3 단계;로 이루어지는 나노재료 분산도 측정방법
16 16
제 15 항에 있어서,상기 제 1 단계는송신 수단을 통해 전자기 신호를 인가하고 수신 수단을 통해 상기 전자기 신호를 전달받아 나노재료 시편의 상기 투과 계수 및 상기 반사 계수를 구하는 것을 특징으로 하는 나노재료 분산도 측정방법
17 17
제 15 항에 있어서, 상기 나노재료 시편은 송신 수단 또는 수신 수단의 단면적 이하의 면적인 것을 특징으로 하는 나노재료 분산도 측정방법
18 18
제 15 항에 있어서,상기 제 1 단계는 송신 안테나와 수신 안테나를 이용하여 상기 나노재료 시편의 투과 계수 및 반사 계수를 구하는 것을 특징으로 하는 나노재료의 분산도 측정 방법
19 19
제 15 항에 있어서,상기 제 1 단계는 제 1 도파관과 제 2 도파관을 이용하여 상기 나노재료 시편의 투과 계수 및 반사 계수를 구하는 것을 특징으로 하는 나노재료의 분산도 측정 방법
20 20
제 15 항에 있어서,상기 제 1 단계는 제 1 동축선과 제 2 동축선을 이용하여 상기 나노재료 시편의 투과 계수 및 반사 계수를 구하는 것을 특징으로 하는 나노재료의 분산도 측정 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.