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엑스선 단층 촬영을 이용한 재료 내부의 밀도 분석방법

  • 기술번호 : KST2015155097
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 엑스선 단층 촬영을 이용한 재료 내부의 밀도 분석방법에 관한 것이다. 본 발명에 따른 엑스선 단층 촬영을 이용한 재료 내부의 밀도 분석방법은, 엑스선 발생장치와 엑스선 검출기 사이에 원기둥 형태의 치구를 설치하는 단계; 설치된 상기 원기둥 형태의 치구 내부에 분석 대상의 재료와 밀도를 알고 있는 복수의 표준 시편들을 삽입하는 단계; 상기 원기둥 형태의 치구를 360°회전시키면서 엑스선 단층 촬영을 수행하는 단계; 및 상기 엑스선 단층 촬영된 영상에 나타난 엑스선 강도를 이용하여 상기 분석 대상의 재료 내부의 밀도 분포를 계산하는 단계를 포함한다.이와 같은 본 발명에 의하면, 엑스선 단층 촬영 영상을 재료 내부의 밀도 분포 영상으로 변환할 수 있다. 따라서, 엑스선 단층 촬영 영상에 대한 육안 판독에 의한 정성적인 판단 방식을 개선하여, 정량적으로 판단할 수 있는 장점이 있다.
Int. CL G01N 23/06 (2006.01) G01N 9/24 (2006.01) G01N 23/04 (2006.01)
CPC
출원번호/일자 1020100044726 (2010.05.13)
출원인 국방과학연구소
등록번호/일자 10-1179540-0000 (2012.08.29)
공개번호/일자 10-2011-0125291 (2011.11.21) 문서열기
공고번호/일자 (20120904) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2010.05.13)
심사청구항수 5

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 국방과학연구소 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이재열 대한민국 대전광역시 유성구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인원전 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 풍림빌딩 *층 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 국방과학연구소 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2010.05.13 수리 (Accepted) 1-1-2010-0306927-24
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2011.10.11 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2011.11.14 수리 (Accepted) 9-1-2011-0087794-10
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2012.01.19 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0042208-16
5 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2012.03.12 수리 (Accepted) 1-1-2012-0196390-83
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2012.03.12 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2012-0196391-28
7 등록결정서
Decision to grant		 2012.08.22 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0487310-35
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2013.07.22 수리 (Accepted) 4-1-2013-0033275-90
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
a) 엑스선 발생장치와 엑스선 검출기 사이에 원기둥 형태의 치구를 설치하는 단계; b) 상기 원기둥 형태의 치구 내부에 분석 대상의 재료와 밀도를 알고 있는 복수의 표준 시편들을 삽입하는 단계; c) 상기 원기둥 형태의 치구를 360°회전시키면서 엑스선 단층 촬영을 수행하는 단계; 및d) 상기 엑스선 단층 촬영된 영상에 나타난 엑스선 강도를 이용하여 상기 분석 대상의 재료 내부의 밀도 분포를 계산하는 단계를 포함하고,상기 단계 d)에서 상기 분석 대상의 재료 내부의 밀도 분포의 계산은, 상기 표준 시편들의 밀도와, 상기 엑스선 단층 촬영된 영상에 존재하는 표준 시편 영역의 엑스선 강도 평균들을 이용하여, 다음의 수식에 의해, 엑스선 단층 촬영 영상을 재료 내부의 밀도 분포 영상으로 변환하여 정량적으로 판단하는 것을 특징으로 하는 엑스선 단층 촬영을 이용한 재료 내부의 밀도 분석 방법
2 2
제1항에 있어서,상기 표준 시편들의 개수는 3～20개인 것을 특징으로 하는 엑스선 단층 촬영을 이용한 재료 내부의 밀도 분석방법
3 3
제1항에 있어서,상기 표준 시편들은 내부의 밀도가 균질한 단일 물질인 것을 특징으로 하는 엑스선 단층 촬영을 이용한 재료 내부의 밀도 분석방법
4 4
제1항에 있어서,상기 표준 시편들은 모두 서로 다른 밀도를 가지는 것을 특징으로 하는 엑스선 단층 촬영을 이용한 재료 내부의 밀도 분석방법
5 5
제1항에 있어서,상기 표준 시편들은 상기 분석 대상의 재료보다 밀도가 더 높은 것들과 더 낮은 것들로 구성된 것을 특징으로 하는 엑스선 단층 촬영을 이용한 재료 내부의 밀도 분석방법
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1 JP2013525822 JP 일본 DOCDBFAMILY
2 JP5508598 JP 일본 DOCDBFAMILY
3 US2013202078 US 미국 DOCDBFAMILY
4 WO2011142553 WO 세계지적재산권기구(WIPO) DOCDBFAMILY
5 WO2011142553 WO 세계지적재산권기구(WIPO) DOCDBFAMILY
6 WO2011142553 WO 세계지적재산권기구(WIPO) DOCDBFAMILY
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