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입력된 아날로그 신호를 소정의 샘플링 주파수로 샘플링하여 디지털 신호로 변환하는 A/D 컨버터(analog-to-digital converter)와,상기 변환된 디지털 신호를 소정의 하향 주파수의 디지털 신호로 다운컨버팅하는 다운 컨버터(down converter)와,상기 다운컨버팅된 디지털 신호를 메모리 인터페이스를 통해 저장하기 위한 메모리 어레이와,상기 다운컨버팅된 디지털 신호를 소정 지연 시간에 따라 정해지는 메모리 어드레스의 메모리 어레이에 상기 메모리 인터페이스를 통해 저장하고 상기 저장된 디지털 신호를 상기 메모리 인터페이스를 통해 선입선출(first-in first-out, FIFO) 처리하도록 MCU 인터페이스를 통해 제어하는 마이크로컨트롤러 유닛(microcontroller unit, MCU)과,상기 마이크로컨트롤러 유닛의 제어에 의해 선입선출 처리되는 디지털 신호를 소정의 상향 주파수의 디지털 신호로 업컨버팅하는 업 컨버터(up converter)와,상기 업컨버팅된 디지털 신호를 아날로그 신호로 변환하는 D/A 컨버터(digital-to-analog converter)를 포함하되,상기 입력된 아날로그 신호는, 100 ㎒ 이하의 광대역 신호이고,상기 소정의 지연 시간은, 250 ㎳ 이하이며,상기 A/D 컨버터는 상기 입력된 아날로그 신호를 250 ㎒ 이하의 샘플링 주파수로 샘플링하여 샘플당 16 비트의 디지털 신호로 변환하고,상기 D/A 컨버터는 상기 변환된 디지털 신호를 100 ㎒ 이하의 광대역 아날로그 신호로 변환하는 것을 특징으로 하는 광대역 신호의 위성 중계기의 시험에 이용되는 시간 지연 모사 장치
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제1항에 있어서,상기 다운 컨버터는, 250 ㎒ 이하의 디지털 신호를 샘플당 128 비트, 31
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제5항에 있어서,상기 메모리 어레이는 8×8의 매트릭스 구조의 16 Mbit의 SRAM으로 구성되는 것을 특징으로 하는 광대역 신호의 위성 중계기의 시험에 이용되는 시간 지연 모사 장치
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제6항에 있어서,상기 마이크로컨트롤러 유닛은, 상기 소정의 지연 시간에 해당하는 샘플의 개수만큼 상기 메모리 어레이의 메모리 어드레스를 증가시켜 설정함으로써, 해당 지연 시간을 생성하는 것을 특징으로 하는 광대역 신호의 위성 중계기의 시험에 이용되는 시간 지연 모사 장치
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A/D 컨버터가 입력된 아날로그 신호를 소정의 샘플링 주파수로 샘플링하여 디지털 신호로 변환하는 단계와,상기 변환된 디지털 신호를 다운 컨버터가 소정의 하향 주파수의 디지털 신호로 다운컨버팅하는 단계와,MCU 인터페이스를 통한 마이크로컨트롤러 유닛의 제어에 의해, 사용자로부터 요청된 소정의 지연 시간에 따라 메모리 어레이의 메모리 어드레스를 지정하고, 상기 지정된 메모리 어드레스의 메모리 어레이에 메모리 인터페이스를 통해 상기 다운컨버팅된 디지털 신호를 저장하는 단계와,상기 MCU 인터페이스를 통한 마이크로컨트롤러 유닛의 제어에 의해, 상기 저장된 다운컨버팅된 신호를 상기 메모리 인터페이스를 통해 선입선출 처리하는 단계와, 상기 선입선출 처리된 디지털 신호를 업 컨버터가 소정의 상향 주파수의 디지털 신호로 업컨버팅하는 단계와,상기 업컨버팅된 디지털 신호를 D/A 컨버터가 아날로그 신호로 변환하는 단계를 포함하되,상기 입력된 아날로그 신호는, 100 ㎒ 이하의 광대역 신호이고,상기 소정의 지연 시간은, 250 ㎳ 이하이며,상기 A/D 컨버터가 입력된 아날로그 신호를 소정의 샘플링 주파수로 샘플링하여 디지털 신호로 변환하는 단계는, 상기 입력된 아날로그 신호를 250 ㎒ 이하의 샘플링 주파수로 샘플링하여 샘플당 16 비트의 디지털 신호로 변환하고,상기 업컨버팅된 디지털 신호를 D/A 컨버터가 아날로그 신호로 변환하는 단계는, 상기 D/A 컨버터는 상기 변환된 디지털 신호를 100 ㎒ 이하의 광대역 아날로그 신호로 변환하는 것을 특징으로 하는 광대역 신호의 위성 중계기의 시험에 이용되는 시간 지연 모사 방법
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제8항에 있어서,상기 변환된 디지털 신호를 다운 컨버터가 소정의 하향 주파수의 디지털 신호로 다운컨버팅하는 단계는, 상기 다운 컨버터가 250 ㎒ 이하의 디지털 신호를 샘플당 128 비트, 31
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제12항에 있어서,상기 메모리 어레이는 8×8의 매트릭스 구조의 16 Mbit의 SRAM으로 구성되는 것을 특징으로 하는 광대역 신호의 위성 중계기의 시험에 이용되는 시간 지연 모사 방법
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제13항에 있어서,MCU 인터페이스를 통한 마이크로컨트롤러 유닛의 제어에 의해, 사용자로부터 요청된 소정의 지연 시간에 따라 메모리 어레이의 메모리 어드레스를 지정하고, 상기 지정된 메모리 어드레스의 메모리 어레이에 메모리 인터페이스를 통해 상기 다운컨버팅된 디지털 신호를 저장하는 단계는,상기 마이크로컨트롤러 유닛이 상기 소정의 지연 시간에 해당하는 샘플의 개수만큼 상기 메모리 어레이의 메모리 어드레스를 증가시켜 설정하는 것을 특징으로 하는 광대역 신호의 위성 중계기의 시험에 이용되는 시간 지연 모사 방법
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광대역 신호의 위성 중계기의 시험에 이용되는 시간 지연 모사 방법을 행하는 프로그램을 기록한 컴퓨터로 읽을 수 있는 매체에 있어서,상기 시간 지연 모사 방법은,A/D 컨버터가 입력된 아날로그 신호를 소정의 샘플링 주파수로 샘플링하여 디지털 신호로 변환하는 단계와,상기 변환된 디지털 신호를 다운 컨버터가 소정의 하향 주파수의 디지털 신호로 다운컨버팅하는 단계와,MCU 인터페이스를 통한 마이크로컨트롤러 유닛의 제어에 의해, 사용자로부터 요청된 소정의 지연 시간에 따라 메모리 어레이의 메모리 어드레스를 지정하고, 상기 지정된 메모리 어드레스의 메모리 어레이에 메모리 인터페이스를 통해 상기 다운컨버팅된 디지털 신호를 저장하는 단계와,상기 MCU 인터페이스를 통한 마이크로컨트롤러 유닛의 제어에 의해, 상기 저장된 다운컨버팅된 신호를 상기 메모리 인터페이스를 통해 선입선출 처리하는 단계와, 상기 선입선출 처리된 디지털 신호를 업 컨버터가 소정의 상향 주파수의 디지털 신호로 업컨버팅하는 단계와,상기 업컨버팅된 디지털 신호를 D/A 컨버터가 아날로그 신호로 변환하는 단계를 포함하되,상기 입력된 아날로그 신호는, 100 ㎒ 이하의 광대역 신호이고,상기 소정의 지연 시간은, 250 ㎳ 이하이며,상기 A/D 컨버터가 입력된 아날로그 신호를 소정의 샘플링 주파수로 샘플링하여 디지털 신호로 변환하는 단계는, 상기 입력된 아날로그 신호를 250 ㎒ 이하의 샘플링 주파수로 샘플링하여 샘플당 16 비트의 디지털 신호로 변환하고,상기 업컨버팅된 디지털 신호를 D/A 컨버터가 아날로그 신호로 변환하는 단계는, 상기 D/A 컨버터는 상기 변환된 디지털 신호를 100 ㎒ 이하의 광대역 아날로그 신호로 변환하는 것을 특징으로 하는 광대역 신호의 위성 중계기의 시험에 이용되는 시간 지연 모사 방법을 행하는 프로그램을 기록한 컴퓨터로 읽을 수 있는 매체
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제15항에 있어서,상기 변환된 디지털 신호를 다운 컨버터가 소정의 하향 주파수의 디지털 신호로 다운컨버팅하는 단계는, 상기 다운 컨버터가 250 ㎒ 이하의 디지털 신호를 샘플당 128 비트, 31
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제19항에 있어서,상기 메모리 어레이는 8×8의 매트릭스 구조의 16 Mbit의 SRAM으로 구성되는 것을 특징으로 하는 광대역 신호의 위성 중계기의 시험에 이용되는 시간 지연 모사 방법을 행하는 프로그램을 기록한 컴퓨터로 읽을 수 있는 매체
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제20항에 있어서,MCU 인터페이스를 통한 마이크로컨트롤러 유닛의 제어에 의해, 사용자로부터 요청된 소정의 지연 시간에 따라 메모리 어레이의 메모리 어드레스를 지정하고, 상기 지정된 메모리 어드레스의 메모리 어레이에 메모리 인터페이스를 통해 상기 다운컨버팅된 디지털 신호를 저장하는 단계는,상기 마이크로컨트롤러 유닛이 상기 소정의 지연 시간에 해당하는 샘플의 개수만큼 상기 메모리 어레이의 메모리 어드레스를 증가시켜 설정하는 것을 특징으로 하는 광대역 신호의 위성 중계기의 시험에 이용되는 시간 지연 모사 방법을 행하는 프로그램을 기록한 컴퓨터로 읽을 수 있는 매체
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