| 1 |
1
광학 챔버의 일측에 설치된 빔형성부로부터 조사되는 빔을 덤핑하기 위해 빔형성부와 마주보도록 광학 챔버의 타측에 장착하는 입자계수기용 빔 덤퍼로서,광학 챔버에 고정하는 몸체와;몸체의 중앙부에 관통형성된 삽입구멍에 끼워넣는 초점렌즈 조립체와;초점렌즈 조립체의 광축이 핀홀을 지나도록, 몸체의 후면에 형성된 오목부에 삽입하는 핀홀 조립체와;핀홀 조립체의 후면에 고정하는 하우징과;초점렌즈 조립체의 광축에 직교하는 기준면에 대해 일정한 각도로 경사지도록, 하우징의 후면에 고정하는 광원출력검출기; 를 포함하여 구성되며,핀홀 조립체의 핀홀을 통과한 빔이, 광원출력검출기에 점점 가까워짐에 따라 빔 폭이 점차 퍼지도록, 핀홀 조립체와 하우징의 중앙부에는 공동이 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 입자계수기용 빔 덤퍼
|
| 2 |
2
제1항에 있어서,핀홀 조립체는,전면(前面)의 중앙부에 핀홀이 관통형성된 캡과,캡의 외측 둘레와 몸체의 후면에 오목하게 형성된 오목부의 내측 둘레 사이에 끼우는 다수의 블록과,캡의 후면에 접하도록 설치하는 단부부재로 구성되어 있으며,몸체의 둘레에는, 몸체의 후면에 형성된 오목부 내에서 캡의 위치가 조절 가능하게 하는 다수의 위치조절구가 일정한 간격으로 관통결합되어 있는 것을 특징으로 하는 입자계수기용 빔 덤퍼
|
| 3 |
3
제2항에 있어서,핀홀 조립체의 캡에 형성된 핀홀은, 핀홀을 통해 입사되는 빔의 진행경로를 따라 지름이 점차 커지도록 관통되어 있고,핀홀 조립체의 단부부재에 형성된 구멍은, 핀홀을 통해 입사되는 빔의 진행경로를 따라 지름이 점차 커지도록 관통되어 있으며,하우징에 형성된 구멍은, 핀홀을 통해 입사되는 빔의 진행경로를 따라 지름이 점차 작아지게 관통되어 있는 것을 특징으로 하는 입자계수기용 빔 덤퍼
|
| 4 |
4
광학 챔버의 일측에 설치된 빔형성부로부터 조사되는 빔을 덤핑하기 위해 빔형성부와 마주보도록 광학 챔버의 타측에 장착하는 형광검출장비용 빔 덤퍼로서,광학 챔버에 고정하는 몸체와;몸체의 중앙부에 관통형성된 삽입구멍에 끼워넣는 초점렌즈 조립체와;초점렌즈 조립체의 광축이 핀홀을 지나도록, 몸체의 후면에 형성된 오목부에 삽입하는 핀홀 조립체와;핀홀 조립체의 후면에 고정하는 하우징과;초점렌즈 조립체의 광축에 직교하는 기준면에 대해 일정한 각도로 경사지도록, 하우징의 후면에 고정하는 광원출력검출기; 를 포함하여 구성되며,핀홀 조립체의 핀홀을 통과한 빔이, 광원출력검출기에 점점 가까워짐에 따라 빔 폭이 점차 퍼지도록, 핀홀 조립체와 하우징의 중앙부에는 공동이 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 형광검출장비용 빔 덤퍼
|
| 5 |
5
제4항에 있어서,핀홀 조립체는,전면(前面)의 중앙부에 핀홀이 관통형성된 캡과,캡의 외측 둘레와 몸체의 후면에 오목하게 형성된 오목부의 내측 둘레 사이에 끼우는 다수의 블록과,캡의 후면에 접하도록 설치하는 단부부재로 구성되어 있으며,몸체의 둘레에는, 몸체의 후면에 형성된 오목부 내에서 캡의 위치가 조절 가능하게 하는 다수의 위치조절구가 일정한 간격으로 관통결합되어 있는 것을 특징으로 하는 형광검출장비용 빔 덤퍼
|
| 6 |
6
제5항에 있어서,핀홀 조립체의 캡에 형성된 핀홀은, 핀홀을 통해 입사되는 빔의 진행경로를 따라 지름이 점차 커지도록 관통되어 있고,핀홀 조립체의 단부부재에 형성된 구멍은, 핀홀을 통해 입사되는 빔의 진행경로를 따라 지름이 점차 커지도록 관통되어 있으며,하우징에 형성된 구멍은, 핀홀을 통해 입사되는 빔의 진행경로를 따라 지름이 점차 작아지게 관통되어 있는 것을 특징으로 하는 형광검출장비용 빔 덤퍼
|
