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임의의 비트 스트림을 기설정된 부호 길이로 분할하는 부호어 수신부;상기 부호어 수신부로부터 분할한 비트 스트림에 대해 1차 RM 부호 판정에 필요한 연산을 수행하는 1차 RM 부호 인식부;상기 부호어 수신부로부터 분할한 비트 스트림에 대해 2차 RM 부호 판정에 필요한 연산을 수행하는 2차 RM 부호 인식부; 및상기 1차 RM 부호 인식부와 상기 2차 RM 부호 인식부의 각각의 추정 결과를 근거로 상기 분할한 비트 스트림에 대한 RM 부호 여부를 확인하는 부호 판정부를 포함하는 것을 특징으로 하는 RM 부호 인식 장치
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제1항에 있어서, 상기 1차 RM 부호 인식부는,상기 부호어 수신부로부터 분할한 비트 스트림에 대해 FHT 연산을 수행하는 제1 FHT 연산 모듈;상기 제1 FHT 연산 모듈의 FHT 연산 수행 결과 중에서 최대값을 선정하는 제1 최대값 선택 모듈; 및상기 제1 최대값 선택 모듈에 의해 선정되는 복수의 최대값에 대한 평균을 계산하는 제1 최대값 평균 계산 모듈을 포함하는 것을 특징으로 하는 RM 부호 인식 장치
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제2항에 있어서, 상기 2차 RM 부호 인식부는,상기 부호어 수신부로부터 분할한 비트 스트림을 마스킹하는 마스킹 연산 모듈;상기 마스킹 연산 모듈에 의해 마스킹된 비트 스트림에 대해 FHT 연산을 수행하는 제2 FHT 연산 모듈;상기 제2 FHT 연산 모듈의 FHT 연산 수행 결과 중에서 최대값을 선정하는 제2 최대값 선택 모듈; 및상기 제2 최대값 선택 모듈에 의해 선정되는 복수의 최대값에 대한 평균을 계산하는 제2 최대값 평균 계산 모듈을 포함하는 것을 특징으로 하는 RM 부호 인식 장치
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제3항에 있어서, 상기 마스킹 연산 모듈은,상기 부호어 수신부로부터 분할한 비트 스트림과 기설정된 기저 간에 XOR 연산을 수행하는 것을 특징으로 하는 RM 부호 인식 장치
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제3항에 있어서, 상기 부호 판정부는,상기 1차 RM 부호 인식부의 추정 결과에 포함된 제1 최대값 평균이 FHT 차수와 동일하면, 상기 분할한 비트 스트림을 1차 RM 부호로 판정하는 것을 특징으로 하는 RM 부호 인식 장치
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제5항에 있어서, 상기 부호 판정부는,상기 2차 RM 부호 인식부의 추정 결과에 포함된 제2 최대값 평균이 상기 FHT 차수와 동일하면, 상기 분할한 비트 스트림을 2차 RM 부호로 판정하는 것을 특징으로 하는 RM 부호 인식 장치
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제6항에 있어서, 상기 부호 판정부는,상기 1차 RM 부호 인식부의 추정 결과에 포함된 제1 최대값 평균과 상기 2차 RM 부호 인식부의 추정 결과에 포함된 제2 최대값 평균이 상기 FHT 차수와 동일하지 않으면, 상기 분할한 비트 스트림을 미상 코드로 판정하는 것을 특징으로 하는 RM 부호 인식 장치
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임의의 비트 스트림을 기설정된 부호 길이로 분할하는 부호어 수신부;상기 부호어 수신부로부터 분할한 비트 스트림에 대해 1차 RM 부호 판정 및 2차 RM 부호 판정에 필요한 연산을 각각 수행하는 RM 부호 인식부; 및상기 RM 부호 인식부의 추정 결과를 근거로 상기 분할한 비트 스트림에 대한 RM 부호 여부를 확인하는 부호 판정부를 포함하는 것을 특징으로 하는 RM 부호 인식 장치
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임의의 비트 스트림을 기설정된 부호 길이로 분할하는 단계;1차 RM 부호 인식부를 통해 상기 분할한 비트 스트림에 대해 1차 RM 부호 판정에 필요한 연산을 수행하는 단계;2차 RM 부호 인식부를 통해 상기 분할한 비트 스트림에 대해 2차 RM 부호 판정에 필요한 연산을 수행하는 단계; 및상기 1차 RM 부호 인식부와 상기 2차 RM 부호 인식부의 각각의 추정 결과를 근거로 상기 분할한 비트 스트림에 대한 RM 부호 여부를 확인하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 RM 부호 인식 방법
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제9항에 있어서, 상기 1차 RM 부호 인식부는,상기 분할한 비트 스트림에 대해 FHT 연산을 수행하는 제1 FHT 연산 모듈;상기 제1 FHT 연산 모듈의 FHT 연산 수행 결과 중에서 최대값을 선정하는 제1 최대값 선택 모듈; 및상기 제1 최대값 선택 모듈에 의해 선정되는 복수의 최대값에 대한 평균을 계산하는 제1 최대값 평균 계산 모듈을 포함하는 것을 특징으로 하는 RM 부호 인식 방법
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제10항에 있어서, 상기 2차 RM 부호 인식부는,상기 분할한 비트 스트림을 마스킹하는 마스킹 연산 모듈;상기 마스킹 연산 모듈에 의해 마스킹된 비트 스트림에 대해 FHT 연산을 수행하는 제2 FHT 연산 모듈;상기 제2 FHT 연산 모듈의 FHT 연산 수행 결과 중에서 최대값을 선정하는 제2 최대값 선택 모듈; 및상기 제2 최대값 선택 모듈에 의해 선정되는 복수의 최대값에 대한 평균을 계산하는 제2 최대값 평균 계산 모듈을 포함하는 것을 특징으로 하는 RM 부호 인식 방법
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제11항에 있어서, 상기 마스킹 연산 모듈은,상기 분할한 비트 스트림과 기설정된 기저 간에 XOR 연산을 수행하는 것을 특징으로 하는 RM 부호 인식 방법
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제11항에 있어서, 상기 분할한 비트 스트림에 대한 RM 부호 여부를 확인하는 단계는,상기 1차 RM 부호 인식부의 추정 결과에 포함된 제1 최대값 평균이 FHT 차수와 동일하면, 상기 분할한 비트 스트림을 1차 RM 부호로 판정하는 것을 특징으로 하는 RM 부호 인식 방법
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제11항에 있어서, 상기 분할한 비트 스트림에 대한 RM 부호 여부를 확인하는 단계는,상기 2차 RM 부호 인식부의 추정 결과에 포함된 제2 최대값 평균이 FHT 차수와 동일하면, 상기 분할한 비트 스트림을 2차 RM 부호로 판정하는 것을 특징으로 하는 RM 부호 인식 방법
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제11항에 있어서, 상기 분할한 비트 스트림에 대한 RM 부호 여부를 확인하는 단계는,상기 1차 RM 부호 인식부의 추정 결과에 포함된 제1 최대값 평균과 상기 2차 RM 부호 인식부의 추정 결과에 포함된 제2 최대값 평균이 FHT 차수와 동일하지 않으면, 상기 분할한 비트 스트림을 미상 코드로 판정하는 것을 특징으로 하는 RM 부호 인식 방법
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임의의 비트 스트림을 기설정된 부호 길이로 분할하는 단계;RM 부호 인식부를 통해 상기 분할한 비트 스트림에 대해 1차 RM 부호 판정 및 2차 RM 부호 판정에 필요한 연산을 각각 수행하는 단계; 및상기 RM 부호 인식부의 추정 결과를 근거로 상기 분할한 비트 스트림에 대한 RM 부호 여부를 확인하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 RM 부호 인식 방법
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