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부배열 근접 전계 데이터를 이용한 능동 위상배열 안테나 복사소자의 위상 획득 방법

  • 기술번호 : KST2015155613
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 근접 전계 측정 과정에서 모든 채널의 근접 전계 데이터의 합인 을 이용하지 않고 각 채널의 근접 전계 데이터 를 이용하여 능동 위상 배열 안테나 복사소자의 위상을 획득하는 방법.
Int. CL G01S 13/02 (2006.01)
CPC G01S 13/02(2013.01)G01S 13/02(2013.01)G01S 13/02(2013.01)
출원번호/일자 1020110117697 (2011.11.11)
출원인 국방과학연구소
등록번호/일자 10-1167097-0000 (2012.07.13)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20120720) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2011.11.11)
심사청구항수 1

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 국방과학연구소 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 홍동희 대한민국 대전광역시 유성구
2 염동진 대한민국 대전광역시 유성구
3 강성철 대한민국 경기도 용인시 처인구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인원전 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 풍림빌딩 *층 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 국방과학연구소 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2011.11.11 수리 (Accepted) 1-1-2011-0892963-36
2 [우선심사신청]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Preferential Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)		 2011.11.14 수리 (Accepted) 1-1-2011-5034093-77
3 [우선심사신청]선행기술조사의뢰서
[Request for Preferential Examination] Request for Prior Art Search		 2011.11.18 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 [우선심사신청]선행기술조사보고서
[Request for Preferential Examination] Report of Prior Art Search		 2011.11.23 수리 (Accepted) 9-1-2011-0092975-95
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2012.03.21 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0163753-37
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2012.05.10 수리 (Accepted) 1-1-2012-0375779-38
7 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2012.05.10 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2012-0375780-85
8 등록결정서
Decision to grant		 2012.07.09 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0395217-17
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2013.07.22 수리 (Accepted) 4-1-2013-0033275-90
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
근접 전계 측정 시스템을 이용하여,a) i번째 채널의 근접 전계 측정 결과 데이터 xi[n,m]를 저장하고, S-파라미터로 변환하는 과정(여기서 i=1, 2, … , k이고, n,m은 수평/수직 축에서의 측정 포인트수);b) 상기 i번째 채널의 근접 전계 측정 결과 데이터 xi[n,m]를 퓨리에 변환하여 원전계(Far-field) 패턴을 획득하는 과정;c) 상기 i번째 채널의 원전계(Far-field) 패턴에 백 프로젝션 계산을 수행하여 상기 i번째 채널의 복사 소자의 전류 크기 및 위상을 획득하는 과정;d) 상기 a), b), c) 과정을 상기 i가 k에 이를 때까지 수행하는 것을 특징으로 하는 부배열 근접 전계 데이터를 이용한 능동 위상 배열 안테나 복사소자의 위상 획득 방법
2 2
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3 3
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지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.