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평면형 전자기파 투명화 구조의 측면 이동 오차를 보상하는 방법

  • 기술번호 : KST2015155991
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 명세서는 메타물질 기반 평면형 전자기파 투명화 구조의 측면 이동 오차를 보상하는 방법에 관한 것으로서, 본 명세서에 개시된 실시예에 따른 평면형 전자기파 투명화 구조의 측면 이동 오차를 보상하는 방법은, 준등각 맵핑 기반의 평면형 전자기파 투명화 구조의 측면 이동 오차를 보상하는 방법에 있어서, 상기 준등각 맵핑 기반의 평면형 전자기파 투명화 구조의 전체 높이와 상기 평면형 전자기파 투명화 구조의 하부에 위치한 은폐 공간의 높이를 동시에 증가시키는 단계와; 상기 평면형 전자기파 투명화 구조와 상기 은폐 공간을 포함하는 전체 구조를 상기 증가된 높이만큼 지면 아래 방향으로 평행 이동시킴으로써 상기 측면 이동 오차를 보상하는 단계를 포함할 수 있다.
Int. CL G01S 7/36 (2006.01.01) G01S 7/40 (2006.01.01) G01S 13/66 (2006.01.01)
CPC G01S 7/36(2013.01) G01S 7/36(2013.01) G01S 7/36(2013.01)
출원번호/일자 1020130024062 (2013.03.06)
출원인 국방과학연구소
등록번호/일자 10-1401449-0000 (2014.05.23)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20140530) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2013.03.06)
심사청구항수 5

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 국방과학연구소 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 서일성 대한민국 대전광역시 유성구
2 이용식 대한민국 서울특별시 서초구
3 김용준 대한민국 서울특별시 송파구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 박장원 대한민국 서울특별시 강남구 강남대로 ***, *층~*층 (논현동, 비너스빌딩)(박장원특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 국방과학연구소 대전광역시 유성구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2013.03.06 수리 (Accepted) 1-1-2013-0197427-97
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2013.07.22 수리 (Accepted) 4-1-2013-0033275-90
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2014.04.06 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2014.05.12 수리 (Accepted) 9-1-2014-0035199-15
5 등록결정서
Decision to grant		 2014.05.14 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0326182-70
6 [대리인선임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Appointment of Agent] Report on Agent (Representative)		 2020.06.03 불수리 (Non-acceptance) 1-1-2020-0573324-44
7 서류반려이유통지서
Notice of Reason for Return of Document		 2020.06.08 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2020-0080802-20
8 [대리인선임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Appointment of Agent] Report on Agent (Representative)		 2020.06.09 수리 (Accepted) 1-1-2020-0591217-89
9 [반려요청]서류 반려요청서·반환신청서
 2020.06.09 수리 (Accepted) 1-1-2020-0589457-26
10 서류반려통지서
Notice for Return of Document		 2020.06.10 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2020-0082857-77
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
준등각 맵핑 기반의 평면형 전자기파 투명화 구조의 측면 이동 오차를 보상하는 방법에 있어서,상기 준등각 맵핑 기반의 평면형 전자기파 투명화 구조의 전체 높이와 상기 평면형 전자기파 투명화 구조의 하부에 위치한 은폐 공간의 높이를 동시에 증가시키는 단계와;상기 평면형 전자기파 투명화 구조와 상기 은폐 공간을 포함하는 전체 구조를 상기 증가된 높이만큼 지면 아래 방향으로 평행 이동시킴으로써 상기 측면 이동 오차를 보상하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 평면형 전자기파 투명화 구조의 측면 이동 오차를 보상하는 방법
2 2
제 1항에 있어서, 상기 증가된 높이에 따라 달라지는 상기 투명화 구조의 압축 비율에 따른 측면 이동 오차를 광선 추적(ray tracing) 기반 해석 방법으로 정량적으로 분석하는 단계와; 상기 전체 구조를 상기 지면 아래 방향으로 평행 이동함으로써 얻을 수 있는 상기 측면 이동 오차의 보상 결과를 산출하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 평면형 전자기파 투명화 구조의 측면 이동 오차를 보상하는 방법
3 3
제 2항에 있어서, 상기 측면 이동 오차의 보상 결과를 산출하는 단계는,식을 통해 산출되며, 여기서, 는 상기 증가된 높이를 나타내며, 는 상기 높이 증가에 따른 측면 이동 오차를 나타내며, 은 상기 투명화 구조의 높이를 나타내며, 는 전자기파의 입사 각도를 나타내며, 는 상기 투명화 구조의 높이대비 가상의 전자기적 반사면의 비율을 나타내며,상기 는 , 식을 통해 도출되는 것을 특징으로 하는 평면형 전자기파 투명화 구조의 측면 이동 오차를 보상하는 방법
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제 1항에 있어서, 상기 은폐 공간은 도체로 감싼 삼각형 은폐 공간인 것을 특징으로 하는 평면형 전자기파 투명화 구조의 측면 이동 오차를 보상하는 방법
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제 1항에 있어서, 상기 측면 이동 오차가 보상된 평면형 전자기파 투명화 구조는, 상기 지면을 기준으로 회전 또는 대칭 이동하여 구현한 자유 공간 상에 적용되는 것을 특징으로 하는 평면형 전자기파 투명화 구조의 측면 이동 오차를 보상하는 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.