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시험 대상 장치(2)를 테스트하기 위한 시험 장치(1)에 있어서,
상기 시험 장치(1)는,
외부로부터 전원을 공급받도록 이루어지는 전원 공급부(20);
연산 처리를 수행하도록 형성되는 CPU 보드(30);
듀얼 프로세스를 이용한 프로그램이 저장되는 메모리부(60);
모의 시험에 사용되는 부하를 제공하도록 이루어지는 모의 부하 조립체(70);
내부의 배선을 제공하고, 외부 장치와의 통신을 수행하도록 형성되는 배선 장치 조립체(80);
상기 시험 대상 장치(2)로부터 신호를 받아 테스트를 수행하도록 이루어지는 적어도 하나 이상의 모의 보드(40, 50); 및
상기 전원 공급부(20), CPU 보드(30), 메모리부(60), 모의 부하 조립체(70), 배선 장치 조립체(80) 및 모의 보드(40, 50) 사이에서 데이터를 전송하도록 형성되는 VME 버스(90)를 포함하며,
상기 메모리부(60)에 저장된 프로그램은,
영상 처리부 프로세스(10-1)에서 처리되고, 그래픽 사용자 인터페이스(GUI)를 제공하도록 이루어지는 영상 처리부 프로그램(100);
상기 영상 처리부 프로세스(10-1)와는 별개의 제어부 프로세스(10-2)에서 처리되며, 하드웨어를 제어하고 상기 시험 대상 장치(2)로부터 입력받은 신호를 처리하도록 형성되는 제어부 프로그램(200); 및
상기 영상 처리부 프로그램(100)과 상기 제어부 프로그램(200) 사이의 데이터 교환을 매개하며, 상기 데이터를 저장하도록 이루어지는 공유 메모리 프로그램(300)을 포함하고,
상기 시험 장치(1)에 제1 및 제2명령이 입력되면, 상기 영상 처리부 프로그램(100)은 제1 및 제2명령을 각각 제1 및 제2신호로 변환(S1000, S1000')하여 상기 공유 메모리 프로그램(300)에 전달하며, 상기 공유 메모리 프로그램(300)은 저장된 제1 및 제2신호에 각각 대응되는 하드웨어 점검과 통신 점검을 수행하는 커맨드 핸들러 및 상기 시험 대상 장치(2)의 기능을 테스트하는 테스트 스타트 핸들러를 실행(S2000, S2000')하고, 상기 제어부 프로그램(200)은 이에 대한 처리 결과를 상기 공유 메모리 프로그램(300)에 전송(S3000)하며, 상기 공유 메모리 프로그램(300)은 상기 처리 결과를 상기 영상 처리부 프로그램(100)에 전달하고(S4000), 상기 영상 처리부 프로그램(100)은 상기 시험 대상 장치(2)에 대한 테스트 결과를 표시(S5000)하도록 이루어지는 것을 특징으로 하는 듀얼 프로세스를 이용한 프로그램을 포함하는 시험 장치(1)
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