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전자광학장비에 장착된 회전형 각검출기의 위치출력오차 추정방법

  • 기술번호 : KST2015156821
  • 담당센터 : 대전기술혁신센터
  • 전화번호 : 042-610-2279
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명에 따른 전자광학장비에 장착된 회전형 각검출기의 위치출력오차 추정방법은, (a) 회전구동장비 위에 전자광학장비를 장착하고 그 전방에 위치한 광학시준기와 초기정렬을 수행하는 단계와, (b) 상기 회전구동장비를 제1 기준각만큼 구동시키고, 전자광학장비를 구동시켜서 상기 광학시준기와 정렬시킨 후, 제1 기준각에서의 위치출력오차값을 구하는 단계와, (c) 기준각도를 바꾸어 상기 위치출력오차값을 구하는 단계를 적어도 오차 파라미터의 개수만큼 반복하는 단계와, (d) 상기 단계들에서 구한 위치출력오차값을 사용하여 위치출력오차의 프로파일 함수로부터 오차 파라미터들의 값을 산출하는 단계와, (e) 상기 산출된 파라미터 값으로부터 전 구동범위에 대한 위치출력오차 프로파일을 추정하는 단계를 포함한다.
Int. CL G01B 11/26 (2006.01) G01M 11/02 (2006.01)
CPC G01B 11/26(2013.01) G01B 11/26(2013.01) G01B 11/26(2013.01)
출원번호/일자 1020110132496 (2011.12.12)
출원인 국방과학연구소
등록번호/일자 10-1263745-0000 (2013.05.07)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20130513) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2011.12.12)
심사청구항수 6

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 국방과학연구소 대한민국 대전광역시 유성구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 윤용은 대한민국 대구광역시 북구
2 송대범 대한민국 경상남도 진주시
3 이행복 대한민국 대전광역시 서구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인원전 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 풍림빌딩 *층 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 국방과학연구소 대전광역시 유성구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2011.12.12 수리 (Accepted) 1-1-2011-0982246-52
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2013.01.30 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2013.03.11 수리 (Accepted) 9-1-2013-0017456-98
4 등록결정서
Decision to grant
2013.04.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0289924-04
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.07.22 수리 (Accepted) 4-1-2013-0033275-90
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
(a) 회전구동장비 위에 측정대상인 전자광학장비를 장착하고 그 전방에 위치한 광학시준기와 초기정렬을 수행하는 단계;(b) 상기 회전구동장비를 제1 기준각만큼 구동시키고, 상기 전자광학장비를 구동시켜서 상기 광학시준기와 정렬시킨 후, 제1 기준각에서의 위치출력오차값을 구하는 단계;(c) 기준각도를 바꾸어 상기 위치출력오차값을 구하는 단계를 적어도 오차 파라미터의 개수만큼 반복하는 단계;(d) 상기 단계들에서 구한 위치출력오차값을 사용하여 위치출력오차의 프로파일 함수로부터 오차 파라미터들의 값을 산출하는 단계;(e) 상기 산출된 파라미터 값으로부터 전 구동범위에 대한 위치출력오차 프로파일을 추정하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 전자광학장비에 장착된 회전형 각검출기의 위치출력오차 추정방법
2 2
제1항에 있어서,상기 단계 (a)의 초기정렬은 상기 전자광학장비의 각검출기값 및 회전구동장비의 구동각이 0이 되도록 상기 전자광학장비와 상기 회전구동장비를 조정하고 상기 전자광학장비의 영상화면의 중심에 광학시준기의 표적이 오도록 상기 전자광학장비를 미세 구동시키는 것을 특징으로 하는 전자광학장비에 장착된 회전형 각검출기의 위치출력오차 추정방법
3 3
제1항에 있어서,상기 단계 (b)에서 위치출력오차값은 상기 전자광학장비의 각위치와 상기 회전구동장비의 각위치의 차로부터 구하는 것을 특징으로 하는 전자광학장비에 장착된 회전형 각검출기의 위치출력오차 추정방법
4 4
제1항에 있어서,상기 오차 파라미터는 이상적 장착면과 실제 장착면의 교선이 이상적 장착면 좌표계에서의 회전축에 대하여 틀어져 있는 각도(α)와, 이상적 장착면과 실제 장착면이 이루는 각도(β)인 것을 특징으로 하는 전자광학장비에 장착된 회전형 각검출기의 위치출력오차 추정방법
5 5
제1항에 있어서,상기 단계 (e)에서 획득한 전 구동범위에 대한 위치출력오차의 데이터로부터 원하는 구동범위의 실효값(RMS)을 산출하는 단계를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 전자광학장비에 장착된 회전형 각검출기의 위치출력오차 추정방법
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제1항에 있어서,상기 단계 (d)의 위치출력오차의 프로파일 함수(Pe)는, 인 것을 특징으로 하는 전자광학장비에 장착된 회전형 각검출기의 위치출력오차 추정방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.