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X선 회절 분석을 이용한 활성산소의 정량적 측정방법

  • 기술번호 : KST2015157366
  • 담당센터 : 인천기술혁신센터
  • 전화번호 : 032-420-3580
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 X선 회절 분석을 이용한 활성산소의 정량적 측정방법에 관한 것으로, 더욱 구체적으로는 실리콘 기판 위에 광감응물질을 증착하고 상기 광감응물질 위에 유기물 박막이 코팅된 광감응물질 시편과 실리콘 기판 위에 피산화제 박막이 증착된 피산화제 박막 시편을 준비하는 단계(단계 1); 상기 단계 1에서 얻은 두 시편을 하나의 팩에 진공포장시키는 단계(단계 2); 상기 단계 1의 광감응물질과는 다른 종류의 광감응물질이 증착된 광감응물질 시편과 단계 1의 피산화제 박막 시편을 준비하여 이들 두 시편을 별도의 팩에 진공 포장시키는 단계(단계 3); 상기 단계 2 및 3의 진공 팩에 800~1000 nm의 근적외선을 조사하여 활성산소를 발생시키는 단계(단계 4); 및 상기 상이한 광감응물질 시편으로부터 발생된 활성산소에 의해 산화된 각각의 피산화제 박막 시편에 대해 X선 회절 분석을 수행하는 단계(단계 5)를 포함하는 X선 회절 분석을 이용한 활성산소의 정량적 측정방법을 제공함으로써, 피산화제 박막인 철 박막에 형성된 Fe2O3(104) 및 Fe3O4(440) 피크의 강도 비로부터 철 박막의 두께를 구하고, 이로부터 활성산소의 양을 구할 수 있다.활성산소, ROS, X선 회절 분석, 광역동 요법, PDT, 광감응물질
Int. CL G01N 23/20 (2014.01) B82Y 40/00 (2014.01) G01N 21/359 (2014.01)
CPC G01N 23/20(2013.01) G01N 23/20(2013.01) G01N 23/20(2013.01) G01N 23/20(2013.01) G01N 23/20(2013.01)
출원번호/일자 1020070026092 (2007.03.16)
출원인 인하대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-0844407-0000 (2008.07.01)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20080708) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2007.03.16)
심사청구항수 8

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 인하대학교 산학협력단 대한민국 인천광역시 미추홀구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이종무 대한민국 인천 남구
2 조용준 대한민국 인천 남구
3 김호진 대한민국 인천 남구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 이원희 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 성지하이츠빌딩*차 ***호 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 인하대학교 산학협력단 대한민국 인천광역시 남구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2007.03.16 수리 (Accepted) 1-1-2007-0214024-48
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2007.12.17 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2008.01.15 수리 (Accepted) 9-1-2008-0003385-10
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2008.02.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2008-0111965-29
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2008.03.07 수리 (Accepted) 4-1-2008-0003929-31
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2008.04.03 수리 (Accepted) 1-1-2008-0242865-54
7 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2008.04.03 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2008-0242864-19
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2008.06.12 수리 (Accepted) 4-1-2008-5093865-89
9 등록결정서
Decision to grant
2008.06.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2008-0350530-77
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2009.11.17 수리 (Accepted) 4-1-2009-5220324-82
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.07.22 수리 (Accepted) 4-1-2015-5098802-16
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2016.09.05 수리 (Accepted) 4-1-2016-5127132-49
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.03.02 수리 (Accepted) 4-1-2018-5036549-31
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2018.12.27 수리 (Accepted) 4-1-2018-5266647-91
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번호 청구항
1 1
실리콘 기판 위에 광감응물질을 증착하고 상기 광감응물질 위에 유기물 박막이 코팅된 광감응물질 시편과 실리콘 기판 위에 피산화제 박막이 증착된 피산화제 박막 시편을 준비하는 단계(단계 1); 상기 단계 1에서 얻은 두 시편을 하나의 팩에 진공포장시키는 단계(단계 2); 상기 단계 1의 광감응물질과는 다른 종류의 광감응물질이 증착된 광감응물질 시편과 단계 1의 피산화제 박막 시편을 준비하여 이들 두 시편을 별도의 팩에 진공 포장시키는 단계(단계 3);상기 단계 2 및 3의 진공 팩에 800~1000 nm의 근적외선을 조사하여 활성산소를 발생시키는 단계(단계 4); 및상기 상이한 광감응물질 시편으로부터 발생된 활성산소에 의해 산화된 각각의 피산화제 박막 시편에 대해 X선 회절 분석을 수행하는 단계(단계 5)를 포함하는 것을 특징으로 하는 X선 회절 분석을 이용한 활성산소의 정량적 측정방법
2 2
제1항에 있어서, 상기 광감응물질은 다공성 실리콘(PSi), 탄소나노튜브(CNT), 금(Au), 산화아연(ZnO), 이산화티탄(TiO2)으로 이루어지는 군으로부터 선택적으로 선택되는 1종 이상인 것을 특징으로 하는 X선 회절 분석을 이용한 활성산소의 정량적 측정방법
3 3
제1항에 있어서, 상기 피산화제는 철 또는 구리인 것을 특징으로 하는 X선 회절 분석을 이용한 활성산소의 정량적 측정방법
4 4
제3항에 있어서, 상기 피산화제가 철인 것을 특징으로 하는 X선 회절 분석을 이용한 활성산소의 정량적 측정방법
5 5
제1항에 있어서, 상기 유기물 박막은 체세포 대용으로서 바셀린을 사용하는 것을 특징으로 하는 X선 회절 분석을 이용한 활성산소의 정량적 측정방법
6 6
제1항에 있어서, 단계 4 에 기재된 활성산소의 방출량은 상이한 광감응물질로부터 발생되는 활성산소에 의해 산화되는 정도가 다른 각각의 피산화제 박막 층의 두께 차이로부터 X선 회절 강도의 차이에 의해 결정되는 것을 특징으로 하는 X선 회절 분석을 이용한 활성산소의 정량적 측정방법
7 7
제6항에 있어서, 상기 피산화제 박막층 두께의 비는,상기 피산화제가 철(Fe)인 경우, 또는으로부터 측정되는 것을 특징으로 하는 X선 회절 분석을 이용한 활성산소의 정량적 측정방법
8 8
제7항에 있어서, 상기 두께비는 , 및 의 평균값으로부터 측정되는 것을 특징으로 하는 X선 회절 분석을 이용한 활성산소의 정량적 측정방법
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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 EP01980270 EP 유럽특허청(EPO) FAMILY
2 EP01980270 EP 유럽특허청(EPO) FAMILY
3 JP20229335 JP 일본 FAMILY
4 KR100836167 KR 대한민국 FAMILY
5 US07897181 US 미국 FAMILY
6 US20080226743 US 미국 FAMILY

DOCDB 패밀리 정보

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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 JP2008229335 JP 일본 DOCDBFAMILY
2 US2008226743 US 미국 DOCDBFAMILY
3 US7897181 US 미국 DOCDBFAMILY
국가 R&D 정보가 없습니다.