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고분자 시료의 질량과 원소조성을 측정하는 질량분석 장치에 있어서,상기 고분자 시료를 이온화시키는 이온화원과;상기 이온화된 고분자 시료가 비행한 시간을 바탕으로 동일 질량 클러스터별로 분류하고, 상기 고분자 시료의 딸이온을 생성하는 제1 비행시간형 분석관과;상기 딸이온의 비행경로를 변경시켜 질량별로 검출하는 제2 비행시간형 분석관;을 포함하되,상기 이온화원은, 매트릭스를 상기 고분자 시료와 함께 섞은 다음, 레이저를 이용하여 고체상태의 시료를 기체상태의 이온으로 만드는 매트릭스를 이용한 레이저 탈착 이온화 장치(Matrix Assisted Laser Desorption Ionization)인 것을 특징으로 하는 이단계 질량 분석 장치
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제2항에 있어서, 상기 레이저는 질소레이저인 것을 특징으로 하는 이단계 질량 분석 장치
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고분자 시료의 질량과 원소조성을 측정하는 질량분석 장치에 있어서,상기 고분자 시료를 이온화시키는 이온화원과;상기 이온화된 고분자 시료가 비행한 시간을 바탕으로 동일 질량 클러스터별로 분류하고, 상기 고분자 시료의 딸이온을 생성하는 제1 비행시간형 분석관과;상기 딸이온의 비행경로를 변경시켜 질량별로 검출하는 제2 비행시간형 분석관;을 포함하되,상기 제1 비행시간형 분석관은, 상기 이온화원과 상기 제2 비행시간형 분석관의 사이에 위치하며, 상기 이온화된 고분자 시료를 가속시키기 위한 소정의 가속전압이 공급되는 부분과, 가속전압이 공급되지 않는 부분으로 구분되는 것을 특징으로 하는 이단계 질량 분석 장치
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제4항에 있어서, 상기 제1 비행시간형 분석관은 상기 이온화된 고분자 시료의 진행방향에 평행한 두개의 전극으로 이루어진 이온게이트를 추가로 포함하며, 상기 이온게이트에 전위를 선택적으로 공급하여 상기 이온화된 고분자 시료의 진행경로를 변경함으로써 검출대상이 되는 이온만을 선택적으로 통과시키는 이단계 질량 분석 장치
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제5항에 있어서, 상기 제1 비행시간형 분석관은 레이저를 이용한 광분해(Photodissociation) 방법으로 상기 이온화된 고분자 시료에 에너지를 전달하여 상기 고분자 시료의 딸이온을 생성하고, 상기 딸이온을 상기 제2 비행시간형 분석관으로 방출시키는 것을 특징으로 하는 이단계 질량 분석 장치
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제6항에 있어서, 상기 제2 비행시간형 분석관은 상기 딸이온의 입사축에 대하여 일정한 각도가 기울여진 상태로 연결되어 상기 딸이온을 반사시켜 비행경로를 변경시키는 리플렉트론과; 상기 리플렉트론으로부터 반사되는 딸이온을 검출하는 검출기;를 추가로 포함하는 이단계 질량 분석 장치
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제7항에 있어서, 상기 리플렉트론은 하나 또는 둘 이상의 전극을 포함하며, 상기 전극에는 상기 딸이온의 진행방향에 대해 반대방향의 전기장이 상기 리플렉트론의 내부에 형성되도록 하는 LPQ(Linear Plus Quadratic) 포텐셜이 인가되어, 상기 리플렉트론 내부에 진입한 상기 딸이온을 상기 리플렉트론의 입구방향으로 반사시키는 것을 특징으로 하는 이단계 질량 분석 장치
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제8항에 있어서, 상기 리플렉트론의 입구에는 입력전극이 설치되며, 상기 입력전극에서 상기 딸이온이 진입하는 궤적에는 그리드가 존재하지 않으며, 상기 입력전극에서 상기 리플렉트론에 의하여 반사된 딸이온이 방출되는 궤적에는 상기 딸이온의 95%를 통과시키는 그리드가 설치되는 것을 특징으로 하는 이단계 질량 분석 장치
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제8항에 있어서, 상기 리플렉트론의 입구에는 입력전극이 설치되며, 상기 입력전극에서 상기 딸이온이 진입하는 궤적에는 그리드가 존재하지 않으며, 상기 입력전극에서 상기 리플렉트론에 의하여 반사된 딸이온이 방출되는 궤적에는 상기 딸이온의 95%를 통과시키는 그리드가 설치되는 것을 특징으로 하는 이단계 질량 분석 장치
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