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집합 검증 장치 및 그 방법

  • 기술번호 : KST2015159670
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 집합 검증 장치 및 그 방법이 개시된다. 본 발명의 집합 검증 방법은 복수 개의 비밀 키들, 상기 비밀 키들에 상응하는 복수 개의 공개 키들 및 상기 공개 키들에 상응하는 복수 개의 검증 값들을 생성하는 단계, 배포된 상기 복수 개의 공개 키들의 검증 값들을 수신하고, 수신된 상기 공개 키들의 검증 값들을 기초로 제1 집합 검증 값을 연산하는 단계, 상기 비밀 키들 및 상기 검증 값들을 기초로 제2 집합 검증 값을 연산하는 단계 및 상기 제1 집합 검증 값과 상기 제2 집합 검증 값을 비교하여 상기 제1 집합 검증 값이 상기 제2 집합 검증 값과 같으면 수신된 상기 공개 키들의 검증 값들 집합이 검증된 것으로 판단하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.집합, 집합 검증, 지수승, 전자 서명, 비밀 키, 공개 키
Int. CL H04L 9/08 (2006.01) H04L 9/32 (2006.01) H04L 9/30 (2006.01)
CPC
출원번호/일자 1020070026335 (2007.03.16)
출원인 삼성전자주식회사, 재단법인서울대학교산학협력재단
등록번호/일자 10-1273465-0000 (2013.06.04)
공개번호/일자 10-2008-0084500 (2008.09.19) 문서열기
공고번호/일자 (20130614) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2012.02.07)
심사청구항수 23

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 삼성전자주식회사 대한민국 경기도 수원시 영통구
2 재단법인서울대학교산학협력재단 대한민국 서울특별시 관악구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이정현 대한민국 대전광역시 중구
2 김은아 대한민국 서울특별시 동작구
3 천정희 대한민국 서울특별시 관악구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인 무한 대한민국 서울특별시 강남구 언주로 ***, *층(역삼동,화물재단빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 삼성전자주식회사 경기도 수원시 영통구
2 재단법인서울대학교산학협력재단 서울특별시 관악구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application		 2007.03.16 수리 (Accepted) 1-1-2007-0215096-93
2 보정요구서
Request for Amendment		 2007.04.02 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2007-0040338-81
3 지정기간연장신청서
Request for Extension of Designated Period		 2007.05.02 수리 (Accepted) 1-1-2007-0330743-45
4 서지사항보정서
Amendment to Bibliographic items		 2007.05.10 수리 (Accepted) 1-1-2007-0347187-56
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2008.01.29 수리 (Accepted) 4-1-2008-5015497-73
6 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)		 2012.02.07 수리 (Accepted) 1-1-2012-0099233-25
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2012.06.21 수리 (Accepted) 4-1-2012-5132663-40
8 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2013.02.04 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
9 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2013.03.08 수리 (Accepted) 9-1-2013-0014373-82
10 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2013.04.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0293537-87
11 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2013.05.08 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2013-0405409-44
12 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2013.05.08 수리 (Accepted) 1-1-2013-0405408-09
13 등록결정서
Decision to grant		 2013.05.21 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0349486-93
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2014.08.22 수리 (Accepted) 4-1-2014-5100909-62
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2015.03.20 수리 (Accepted) 4-1-2015-5036045-28
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
복수 개의 비밀 키들, 상기 비밀 키들에 상응하는 복수 개의 공개 키들 및 상기 공개 키들에 상응하는 복수 개의 검증 값들을 생성하는 단계;배포된 상기 복수 개의 공개 키들의 검증 값들을 수신하고, 수신된 상기 공개 키들의 검증 값들을 기초로 제1 집합 검증 값을 연산하는 단계;상기 비밀 키들 및 상기 검증 값들을 기초로 제2 집합 검증 값을 연산하는 단계; 및상기 제1 집합 검증 값과 상기 제2 집합 검증 값을 비교하여 상기 제1 집합 검증 값이 상기 제2 집합 검증 값과 같으면 수신된 상기 공개 키들의 검증 값들 집합이 검증된 것으로 판단하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 집합 검증 방법
2 2
제1항에 있어서,상기 복수 개의 검증 값들은검증 좌표 값(si)인 것을 특징으로 하는 집합 검증 방법
3 3
제2항에 있어서,상기 검증 값들을 생성하는 단계는계수들 중 0이 아닌 계수는 절대값이 qw/2 이하이고 q로 나누어 떨어지지 않는 정수이며, 연속된 w개의 계수들 중 0이 아닌 계수가 최대 하나인 키를 생성하는 단계;생성된 상기 키에 기초한 좌표 연산을 수행하여 상기 검증 좌표 값을 생성하는 단계; 및상기 키를 생성하는 단계 및 상기 검증 좌표 값을 생성하는 단계를 상기 복수 개의 검증 좌표 값들만큼 반복 수행하는 단계를 포함하고,상기 q는 소수 또는 소수의 멱수이고, 상기 w는 2 이상의 자연수인 것을 특징으로 하는 집합 검증 방법
4 4
제3항에 있어서,상기 키를 생성하는 단계는m-(w-1)*(t-1) 개의 그룹들 중 t개의 그룹을 선택하는 단계;선택된 상기 t개의 그룹 각각을 절대값이 qw/2 이하이고 q로 나누어 떨어지지 않는 정수들 중 어느 하나와 w-1개의 0을 나열하여 구성한 스트링으로 대체하는 단계; 및선택되지 않은 그룹을 0으로 대체하여 상기 키를 생성하는 단계를 포함하고,상기 m 및 상기 t는 양의 정수인 것을 특징으로 하는 집합 검증 방법
5 5
제4항에 있어서,상기 절대값이 qw/2 이하이고 q로 나누어 떨어지지 않는 정수들 중 어느 하나는상기 w-1개의 0뒤에 나열되는 것을 특징으로 하는 집합 검증 방법
6 6
제2항에 있어서,상기 제1 집합 검증 값은수신된 상기 공개 키(Qi)들의 검증 좌표 값(siQi)들 모두가 더해진 값인 것을 특징으로 하는 집합 검증 방법
7 7
제1항에 있어서,상기 복수 개의 검증 값들은검증 지수(si)인 것을 특징으로 하는 집합 검증 방법
8 8
제7항에 있어서,상기 검증 값들을 생성하는 단계는계수들 중 0이 아닌 계수는 2w 이하의 양의 홀수이며, 연속된 w개의 계수들 중 0이 아닌 계수가 최대 하나인 키를 생성하는 단계;생성된 상기 키를 지수승 연산하여 검증 지수를 생성하는 단계; 및상기 키를 생성하는 단계 및 상기 검증 지수를 생성하는 단계를 상기 복수 개의 검증 지수들만큼 반복 수행하는 단계를 포함하고,상기 w는 2 이상의 자연수인 것을 특징으로 하는 집합 검증 방법
9 9
제8항에 있어서,상기 키를 생성하는 단계는m-(w-1)*t 개의 그룹들 중 t개의 그룹을 선택하는 단계;선택된 상기 t개의 그룹 각각을 2w 이하의 양의 홀수들 중 어느 하나와 w-1개의 0을 나열하여 구성한 스트링으로 대체하는 단계; 및선택되지 않은 그룹을 0으로 대체하여 상기 키를 생성하는 단계를 포함하고,상기 m 및 상기 t는 양의 정수인 것을 특징으로 하는 집합 검증 방법
10 10
제9항에 있어서,상기 2w 이하의 양의 홀수들 중 어느 하나는상기 w-1개의 0뒤에 나열되는 것을 특징으로 하는 집합 검증 방법
11 11
제6항에 있어서,상기 제1 집합 검증 값은수신된 상기 공개 키(yi)의 검증 지수승 값(yisi)들 모두가 곱해진 값인 것을 특징으로 하는 집합 검증 방법
12 12
제1항 내지 제11항 중 어느 하나의 항의 방법을 실행시키기 위한 프로그램을 기록한 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체
13 13
복수 개의 비밀 키들 및 상기 비밀 키들에 상응하는 복수 개의 공개 키들을 생성하는 생성부;상기 공개 키들에 상응하는 복수 개의 검증 값들을 검증 값 생성부;배포된 상기 복수 개의 공개 키들의 검증 값들을 수신하고, 수신된 상기 공개 키들의 검증 값들을 기초로 제1 집합 검증 값을 연산하는 제1 연산부;상기 비밀 키들 및 상기 검증 값들을 기초로 제2 집합 검증 값을 연산하는 제2 연산부; 및상기 제1 집합 검증 값과 상기 제2 집합 검증 값을 비교하여 상기 제1 집합 검증 값이 상기 제2 집합 검증 값과 같으면 수신된 상기 공개 키들의 검증 값들 집합이 검증된 것으로 판단하는 집합 검증부를 포함하는 것을 특징으로 하는 집합 검증 장치
14 14
제13항에 있어서,상기 복수 개의 검증 값들은검증 좌표 값인 것을 특징으로 하는 집합 검증 장치
15 15
제14항에 있어서,상기 검증 값 생성부는계수들 중 0이 아닌 계수는 절대값이 qw/2 이하이고 q로 나누어 떨어지지 않는 정수이며, 연속된 w개의 계수들 중 0이 아닌 계수가 최대 하나인 키를 생성하는 키 생성 관리부; 및생성된 상기 키에 기초한 좌표 연산을 수행하여 상기 검증 좌표 값을 생성하는 검증 좌표 값 생성부를 포함하고,상기 검증 값 생성부는 상기 키 생성 관리부 및 상기 검증 좌표 값 생성부를 통해 상기 복수 개의 검증 좌표 값들을 생성하고,상기 q는 소수 또는 소수의 멱수이고, 상기 w는 2 이상의 자연수인 것을 특징으로 하는 집합 검증 방법
16 16
제15항에 있어서,상기 키 생성 관리부는m-(w-1)*(t-1) 개의 그룹들 중 t개의 그룹을 선택하는 그룹 선택부;선택된 상기 t개의 그룹 각각을 절대값이 qw/2 이하이고 q로 나누어 떨어지지 않는 정수들 중 어느 하나와 w-1개의 0을 나열하여 구성한 스트링으로 대체하는 스트링 대체부; 및선택되지 않은 그룹을 0으로 대체하여 상기 키를 생성하는 키 생성부를 포함하고,상기 m 및 상기 t는 양의 정수인 것을 특징으로 하는 집합 검증 장치
17 17
제16항에 있어서,상기 절대값이 qw/2 이하이고 q로 나누어 떨어지지 않는 정수들 중 어느 하나는상기 w-1개의 0뒤에 나열되는 것을 특징으로 하는 집합 검증 장치
18 18
제14항에 있어서,상기 제1 집합 검증 값은수신된 상기 공개 키들의 검증 좌표 값들 모두가 더해진 값인 것을 특징으로 하는 집합 검증 장치
19 19
제13항에 있어서,상기 복수 개의 검증 값들은검증 지수인 것을 특징으로 하는 집합 검증 장치
20 20
제19항에 있어서,상기 검증 값 생성부는계수들 중 0이 아닌 계수는 2w 이하의 양의 홀수이며, 연속된 w개의 계수들 중 0이 아닌 계수가 최대 하나인 키를 생성하는 키 생성 관리부;생성된 상기 키를 지수승 연산하여 검증 지수를 생성하는 검증 지수 생성부를 포함하고,상기 검증 값 생성부는 상기 키 생성 관리부 및 상기 검증 지수 생성부를 통해 상기 복수 개의 검증 지수들을 생성하고,상기 w는 2 이상의 자연수인 것을 특징으로 하는 집합 검증 장치
21 21
제20항에 있어서,상기 키 생성 관리부는m-(w-1)*t 개의 그룹들 중 t개의 그룹을 선택하는 그룹 선택부;선택된 상기 t개의 그룹 각각을 2w 이하의 양의 홀수들 중 어느 하나와 w-1개의 0을 나열하여 구성한 스트링으로 대체하는 스트링 대체부; 및선택되지 않은 그룹을 0으로 대체하여 상기 키를 생성하는 키 생성부를 포함하고,상기 m 및 상기 t는 양의 정수인 것을 특징으로 하는 집합 검증 장치
22 22
제21항에 있어서,상기 2w 이하의 양의 홀수들 중 어느 하나는상기 w-1개의 0뒤에 나열되는 것을 특징으로 하는 집합 검증 장치
23 23
제19항에 있어서,상기 제1 집합 검증 값은수신된 상기 공개 키의 검증 지수승 값들 모두가 곱해진 값인 것을 특징으로 하는 집합 검증 장치
지정국 정보가 없습니다
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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 US08255691 US 미국 FAMILY
2 US20080226066 US 미국 FAMILY

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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 US2008226066 US 미국 DOCDBFAMILY
2 US8255691 US 미국 DOCDBFAMILY
국가 R&D 정보가 없습니다.