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기판에 형성된 미세 채널을 따라 흐르는 미세 입자인 샘플을 분석하는 미세 입자 분석 장치에 사용되는 마이크로칩으로서,샘플이 흐르는 샘플 채널;쉬스 플로우가 흐르는 쉬스 플로우 채널;상기 샘플과 상기 쉬스 플로우가 합쳐진 포커싱된 샘플 입자가 흐르는 포커싱 채널; 및상기 포커싱 채널의 일부중 샘플 분석이 이루어지는 포인트 주위를 확장한 확장 채널을 포함하여, 상기 포커싱된 샘플 입자들이 확장 채널을 통과할 때 상기 포커싱된 샘플 입자들이 포커싱 상태를 유지하면서 유속이 느려지도록 하여 샘플 입자 검출 강도를 향상시키도록 구성된 마이크로칩
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제 1 항에 있어서,상기 확장된 채널의 확장 폭은 다음의 관계식:Weff = Wsample - dsample (1)Wfinal = αㆍ Weff (2)Wfinal + dsample ≤ Wbeam (3)여기서, Weff는 유효 포커싱 샘플 플로우 폭이고,dsample는 샘플 입자의 직경이며,Wfinal은 확장된 채널 영역에서 샘플 플로우의 폭이 확장된 샘플 플로우 폭이고, α는 확장비이며,Wbeam은 검출 스폿의 직경임,을 만족시키는 범위 내에서 형성되는 것을 특징으로 하는 마이크로칩
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제 1 또는 2항에 있어서, 상기 미세입자 분석 장치는 영상 획득 수단, 광증대관(Photo Multiplier Tube:PMT) 또는 광다이오드(Photo Diode:PD)로 이루어진 신호 검출 장치를 포함하는 것을 특징으로 하는 마이크로 칩
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기판에 형성된 포커싱 챔버;상기 포커싱 챔버에 연결된 샘플 채널;상기 포커싱 챔버에 연결되어, 상기 샘플 채널을 통해 포커싱 챔버내로 유입된 샘플 주위를 둘러싸서 상기 샘플이 하나씩 일렬로 흐르게 하는 쉬스 플로우가 유입되는 적어도 하나의 쉬스 플로우 채널;상기 샘플과 상기 쉬스 플로우가 합쳐진 포커싱된 샘플 입자가 흐르는 포커싱 채널;상기 각 채널 간에 압력 구배를 형성하여, 상기 샘플과 쉬스 플로우가 포커싱 챔버를 통해 각 분류 채널로 흐르게 하는 압력 제어 수단; 및광학부로부터 방출된 레이저 빛이 포커싱되는 샘플로부터 발생되는 신호를 검출하는 신호 검출 장치를 포함하는 미세 채널을 따라 흐르는 미세 입자인 샘플을 분석하는 미세 입자 분석 장치로서, 미세 입자 분석 장치의 광학부로부터 방출된 레이저 빛이 포커싱되는 포커싱 채널 포인트 주위에서의 채널을 확장시킴으로써, 포커싱된 샘플 입자들이 확장된 채널 포인트 근방을 통과할 때 포커싱된 샘플 입자들이 포커싱 상태를 유지하면서 유속이 느려지도록 하여 샘플 입자 검출 강도를 향상시키도록 구성된 미세 입자 분석 장치
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제 5 항에 있어서,상기 확장된 채널의 확장 폭은 다음의 관계식:Weff = Wsample - dsample (1)Wfinal = αㆍ Weff (2)Wfinal + dsample ≤ Wbeam (3)여기서, Weff는 유효 포커싱 샘플 플로우 폭이고,dsample는 샘플 입자의 직경이며,Wfinal은 확장된 채널 영역에서 샘플 플로우의 폭이 확장된 샘플 플로우 폭이고, α는 확장비이며,Wbeam은 검출 스폿의 직경임,을 만족시키는 범위 내에서 형성되는 것을 특징으로 하는 미세입자 분석 장치
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제 5 또는 6항에 있어서, 상기 신호 검출 장치는 영상 획득 수단, 광증대관(Photo Multiplier Tube:PMT) 또는 광다이오드(PHOTO Diode:PD)를 포함하는 것을 특징으로 하는 미세입자 분석 장치
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