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광 트랜지스터를 이용한 CMOS 이미지 센서용 단위 화소

  • 기술번호 : KST2015160359
  • 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
  • 전화번호 : 02-2155-3662
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 광 트랜지스터를 이용한 CMOS 이미지 센서용 단위 화소가 개시된다. 본 발명의 실시예에 따른 CMOS 이미지 센서의 단위 화소는 광 트랜지스터, 선택 트랜지스터 및 리셋 트랜지스터를 구비한다. 광 트랜지스터는 외부로부터 인가되는 빛을 감지하여 전하를 생성한다. 선택 트랜지스터는 선택 신호에 응답하여 상기 광 트랜지스터에 저장된 전하를 외부로 출력하거나 외부로부터 전하를 수신하여 상기 광 트랜지스터로 전달한다. 리셋 트랜지스터는 리셋 신호에 응답하여 상기 광 트랜지스터의 베이스를 리셋 전압 레벨로 변화시킨다. CMOS 이미지 센서의 단위 화소는 양의 입력 단자로 소정의 셋 전압이 인가되고 음의 입력 단자로 상기 선택 트랜지스터의 제 1 단이 연결되는 적분기를 더 구비하고, 상기 적분기는 적분기 제어 신호에 응답하여 상기 음의 입력 단자와 출력 단자를 연결하거나 차단하는 스위치를 구비한다. 본 발명에 따른 CMOS 이미지 센서의 단위 화소는 게이트와 바디(body)가 연결되어 베이스로서 동작되는 구조의 광 트랜지스터를 이용하여 약한 빛에서도 큰 광 전류를 얻을 수 있을 뿐만 아니라, 광 트랜지스터를 리셋 한 상태의 값을 읽어낼 수 있으므로 빛에 의해 생성된 전자-홀에 의한 출력을 읽고 리셋 상태의 값과의 차이를 구하는 CDS(correlated double sampling) 동작이 가능한 장점이 있다.
Int. CL H01L 27/146 (2006.01)
CPC
출원번호/일자 1020030059827 (2003.08.28)
출원인 재단법인서울대학교산학협력재단
등록번호/일자 10-0545106-0000 (2006.01.14)
공개번호/일자 10-2005-0023531 (2005.03.10) 문서열기
공고번호/일자 (20060124) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2003.08.28)
심사청구항수 12

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 재단법인서울대학교산학협력재단 대한민국 서울특별시 관악구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 박영준 대한민국 서울특별시관악구
2 국윤재 대한민국 서울특별시강남구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 리앤목특허법인 대한민국 서울 강남구 언주로 **길 **, *층, **층, **층, **층(도곡동, 대림아크로텔)
2 이해영 대한민국 서울 강남구 언주로 **길 **, *층, **층, **층, **층(도곡동, 대림아크로텔)(리앤목특허법인)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 박영준 서울특별시 관악구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2003.08.28 수리 (Accepted) 1-1-2003-0320047-58
2 전자문서첨부서류제출서
Submission of Attachment to Electronic Document
2003.08.29 수리 (Accepted) 1-1-2003-5167696-07
3 공지예외적용주장대상(신규성,출원시의특례)증명서류제출서
Submission of Document Verifying Exclusion from Being Publically Known (Novelty, Special Provisions for Application)
2003.09.17 수리 (Accepted) 1-1-2003-5177230-24
4 선행기술조사의뢰서(내부)
Request for Prior Art Search (Inside)
2005.04.12 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
5 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2005.06.14 수리 (Accepted) 9-1-2005-0034182-50
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2005.06.22 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2005-0289507-02
7 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.
2005.08.22 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2005-0461837-08
8 의견서
Written Opinion
2005.08.22 수리 (Accepted) 1-1-2005-0461836-52
9 등록결정서
Decision to grant
2005.10.13 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2005-0510048-76
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2008.01.29 수리 (Accepted) 4-1-2008-5015497-73
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.08.22 수리 (Accepted) 4-1-2014-5100909-62
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.03.20 수리 (Accepted) 4-1-2015-5036045-28
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
외부로부터 인가되는 빛을 감지하여 전하를 생성하는 광 트랜지스터 ;선택 신호에 응답하여 상기 광 트랜지스터에 저장된 전하를 외부로 출력하거나 외부로부터 전하를 수신하여 상기 광 트랜지스터로 전달하는 선택 트랜지스터 ; 및리셋 신호에 응답하여 상기 광 트랜지스터의 베이스를 리셋 전압 레벨로 변화시키는 리셋 트랜지스터를 구비하고, 상기 광 트랜지스터는,P 형 서브스트레이트와 N 형 웰 및 상기 N 형 웰 내부의 P형 영역으로 형성되는 수직방향의 PNP 형 바이폴라 트랜지스터 ; 및상기 N 형 웰 및 상기 N 형 웰 내부의 두개의 P형 영역으로 형성되는 수평방향의 PNP 형 바이폴라 트랜지스터를 구비하는 구조를 가지며,상기 광 트랜지스터의 게이트와 상기 N 형 웰이 연결되어 상기 베이스로서 동작되는 피모스(PMOS) 트랜지스터 구조인 것을 특징으로 하는 CMOS 이미지 센서의 단위 화소
2 2
제 1항에 있어서, 양의 입력 단자로 소정의 셋 전압이 인가되고 음의 입력 단자로 상기 선택 트랜지스터의 제 1 단이 연결되는 적분기를 더 구비하고, 상기 적분기는, 적분기 제어 신호에 응답하여 상기 음의 입력 단자와 출력 단자를 연결하거나 차단하는 스위치를 구비하는 것을 특징으로 하는 CMOS 이미지 센서의 단위 화소
3 3
삭제
4 4
제 2항에 있어서, 상기 수평방향의 PNP 형 바이폴라 트랜지스터는,게이트가 이미터(emitter)를 둘러싸고 상기 게이트의 바깥쪽을 컬렉터가 둘러싸는 구조인 것을 특징으로 하는 CMOS 이미지 센서의 단위 화소
5 5
제 2항에 있어서, 상기 선택 트랜지스터는,상기 제 1 단이 상기 적분기의 음의 입력 단자에 연결되며 제 2 단이 상기 광 트랜지스터의 이미터(emitter)에 연결되는 엔모스(NMOS) 트랜지스터인 것을 특징으로 하는 CMOS 이미지 센서의 단위 화소
6 6
제 2항에 있어서, 상기 리셋 트랜지스터는,상기 광 트랜지스터의 베이스에 제 1 단이 연결되고 리셋 전압에 제 2단이 연결되는 엔모스(NMOS) 트랜지스터인 것을 특징으로 하는 CMOS 이미지 센서의 단위 화소
7 7
제 2항에 있어서, 상기 광 트랜지스터가 리셋 되는 경우,상기 광 트랜지스터의 베이스와 이미터 사이에는 순방향 전압이 형성되는 것을 특징으로 하는 CMOS 이미지 센서의 단위 화소
8 8
제 2항에 있어서, 상기 적분기 제어 신호가 하이 레벨인 경우 상기 적분기와 상기 광 트랜지스터가 리셋 되고 상기 적분기 제어 신호가 로우 레벨인 경우 상기 광 트랜지스터의 리셋 상태에 대응되는 전압 레벨이 독출 되거나 또는 상기 광 트랜지스터에 저장된 전하량에 대응되는 전압 레벨이 독출되는 것을 특징으로 하는 CMOS 이미지 센서의 단위 화소
9 9
외부로부터 인가되는 빛을 감지하여 전하를 생성하는 광 트랜지스터 ;선택 신호가 게이트로 인가되고 제 1단이 상기 광 트랜지스터의 이미터에 연결되어 상기 광 트랜지스터에 저장된 전하를 외부로 출력하거나 외부로부터 전하를 수신하여 상기 광 트랜지스터로 전달하는 제 1 피모스 트랜지스터 ; 및리셋 신호가 게이트로 인가되고 상기 광 트랜지스터의 베이스에 제 1 단이 연결되고 리셋 전압에 제 2단이 연결되어 상기 광 트랜지스터의 베이스를 리셋 전압 레벨로 변화시키는 제 2 피모스 트랜지스터를 구비하고, 상기 광 트랜지스터는,P 형 서브스트레이트 위에 N 형 웰이 형성되고 상기 N 형 웰 위에 P형 웰이 형성되는 트리플 웰(triple well) 구조를 가지고, 상기 P형 웰 내부의 N형 영역과 상기 P형 웰 및 상기 N 형 웰로 형성되는 수직방향의 NPN 형 바이폴라 트랜지스터 ; 및상기 P형 웰 및 상기 P형 웰 내부의 두개의 N형 영역으로 형성되는 수평방향의 NPN 형 바이폴라 트랜지스터를 구비하는 구조를 가지며,상기 광 트랜지스터의 게이트와 상기 P 형 웰이 연결되어 상기 베이스로서 동작되는 엔모스(NMOS) 트랜지스터 구조인 것을 특징으로 하는 CMOS 이미지 센서의 단위 화소
10 10
제 9항에 있어서, 양의 입력 단자로 소정의 셋 전압이 인가되고 음의 입력 단자로 상기 제 1 피모스 트랜지스터의 제 2 단이 연결되는 적분기를 더 구비하고, 상기 적분기는, 적분기 제어 신호에 응답하여 상기 음의 입력 단자와 출력 단자를 연결하거나 차단하는 스위치를 구비하는 것을 특징으로 하는 CMOS 이미지 센서의 단위 화소
11 11
삭제
12 12
제 9항에 있어서, 상기 수평방향의 NPN 형 바이폴라 트랜지스터는,게이트가 이미터(emitter)를 둘러싸고 상기 게이트의 바깥쪽을 컬렉터가 둘러싸는 구조인 것을 특징으로 하는 CMOS 이미지 센서의 단위 화소
13 13
제 9항에 있어서, 상기 광 트랜지스터가 리셋 되는 경우,상기 광 트랜지스터의 게이트와 이미터 사이에는 순방향 전압이 형성되는 것을 특징으로 하는 CMOS 이미지 센서의 단위 화소
14 14
제 10항에 있어서, 상기 적분기 제어 신호가 하이 레벨인 경우 상기 적분기 및 상기 광 트랜지스터가 리셋 되고 상기 적분기 제어 신호가 로우 레벨인 경우 상기 광 트랜지스터의 리셋 상태에 대응되는 전압 레벨이 독출 되거나 또는 상기 광 트랜지스터에 저장된 전하량에 대응되는 전압 레벨이 독출되는 것을 특징으로 하는 CMOS 이미지 센서의 단위 화소
15 14
제 10항에 있어서, 상기 적분기 제어 신호가 하이 레벨인 경우 상기 적분기 및 상기 광 트랜지스터가 리셋 되고 상기 적분기 제어 신호가 로우 레벨인 경우 상기 광 트랜지스터의 리셋 상태에 대응되는 전압 레벨이 독출 되거나 또는 상기 광 트랜지스터에 저장된 전하량에 대응되는 전압 레벨이 독출되는 것을 특징으로 하는 CMOS 이미지 센서의 단위 화소
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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 US20050045804 US 미국 FAMILY

DOCDB 패밀리 정보

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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 US2005045804 US 미국 DOCDBFAMILY
국가 R&D 정보가 없습니다.