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평면변형률 조건하에서의 변형률 측정용 시료
- 기술번호 : KST2015160524
- 담당센터 : 서울동부기술혁신센터
- 전화번호 : 02-2155-3662
| 요약 | 평면변형률 조건하에서의 변형률 측정용 시료에 관하여 개시한다. 본 발명의 몰드는, 받침판과, 측면판들과, 깍지끼움 방식으로 결합되는 두 개의 정면판 및 두 개의 배면판과, 정면판들 및 배면판들을 고정시켜주는 고정판들과, 부가적으로 정면판들 및 상기 배면판들에 형성된 구멍들을 막기 위한 덮개판들이 포함되는 것을 특징으로 한다. 그리고 본 발명의 시료는 상술한 몰드의 측면판들과 바닥판을 포함하여 이루어지며, 특히 미소변형 계측 장치가 설치되는 것을 특징으로 한다. 본 발명에 의하면, 평면변형률 조건에서 시료 중간 부분의 미소 변형을 모두 정확하게 구할 수 있고, 평면변형률 조건에서 나타나는 미소변형률 영역에서의 전단탄성계수를 구할 수 있으며, 시료 성형에 사용함으로써 시료의 성형이 용이하고, 정확히 원하는 위치에 계측기의 설치가 가능한 장점이 있다. 몰드, 시료, 평면변형률, Local LVDT, 벤더 엘리먼트, 미소변형 |
|---|---|
| Int. CL | G01N 1/22 (2006.01) G01N 3/00 (2006.01) |
| CPC | G01N 33/24(2013.01) G01N 33/24(2013.01) G01N 33/24(2013.01) G01N 33/24(2013.01) |
| 출원번호/일자 | 1020080008710 (2008.01.28) |
| 출원인 | 재단법인서울대학교산학협력재단 |
| 등록번호/일자 | 10-0955352-0000 (2010.04.21) |
| 공개번호/일자 | 10-2009-0082768 (2009.07.31) 문서열기 |
| 공고번호/일자 | (20100430) 문서열기 |
| 국제출원번호/일자 | |
| 국제공개번호/일자 | |
| 우선권정보 | |
| 법적상태 | 소멸 |
| 심사진행상태 | 수리 |
| 심판사항 | |
| 구분 | 신규 |
| 원출원번호/일자 | |
| 관련 출원번호 | |
| 심사청구여부/일자 | Y (2008.01.28) |
| 심사청구항수 | 5 |