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에너지 선택적 X―선 단일 광자 계수형 독출 칩 및 파일―업 보정 방법

  • 기술번호 : KST2015163365
  • 담당센터 : 부산기술혁신센터
  • 전화번호 : 051-606-6561
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명에 의한 에너지 선택적 X-선 단일 광자 계수형 독출 칩 및 파일-업 보정 방법이 개시된다. 본 발명에 따른 에너지 선택적 X-선 단일 광자 계수형 독출 칩은 X-선 검출기로부터 입력된 전자 또는 홀을 축적(charging)하고 이에 상응하는 신호 SIGC를 출력하는 CSA(Charge Sensitive Amplifier); 상기 신호 SIGC와 제1 임계치 Vth_H와 제2 임계치 Vth_L를 각각 비교하여 신호 SIGH와 신호 SIGL을 출력하는 판별기; 상기 신호 SIGH와 상기 신호 SIGL을 비교하여 그 비교한 결과에 따라 신호 SIGOUT를 출력하는 WDL(Double Discriminator Logic); 및 상기 신호 SIGOUT를 기반으로 이를 카운팅 또는 계수하고 그 계수한 값을 전달하는 카운터를 포함한다. 이를 통해, 본 발명은 보다 정량화된 X-선 광자의 영상정보 또는 입사된 X-선 광자의 수를 측정하고, 의도하지 않은 연속적인 광자 신호와 잡음에 의한 파일-업 발생의 문제는 해결할 수 있다. X-선, 이미지 센서, 광자, photon, 독출 칩, readout chip, 싱글 픽셀, single pixel
Int. CL H01L 27/14 (2006.01)
CPC G01T 1/17(2013.01) G01T 1/17(2013.01)
출원번호/일자 1020090116450 (2009.11.30)
출원인 한국전기연구원
등록번호/일자 10-1092216-0000 (2011.12.03)
공개번호/일자 10-2011-0059988 (2011.06.08) 문서열기
공고번호/일자 (20111213) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2009.11.30)
심사청구항수 12

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전기연구원 대한민국 경상남도 창원시 성산구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 전성채 대한민국 경기도 안산시 상록구
2 김봉회 대한민국 경기도 안산시 단원구
3 허영 대한민국 경기도 군포시
4 황윤금 대한민국 경상남도 함안군

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인충정 대한민국 서울특별시 강남구 역삼로***,*층(역삼동,성보역삼빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국전기연구원 대한민국 경상남도 창원시 성산구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2009.11.30 수리 (Accepted) 1-1-2009-0734768-19
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2010.10.13 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2010.11.01 수리 (Accepted) 9-1-2010-0067326-63
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2010.11.08 수리 (Accepted) 4-1-2010-5207456-63
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2011.03.17 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0147638-85
6 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2011.05.17 수리 (Accepted) 1-1-2011-0364885-88
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2011.06.17 수리 (Accepted) 1-1-2011-0459119-38
8 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2011.06.17 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2011-0459118-93
9 등록결정서
Decision to grant
2011.11.11 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0659917-38
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.04 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006987-25
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
X-선 검출기로부터 입력된 전자 또는 홀을 축적(charging)하고 이에 상응하는 신호 SIGC를 출력하는 CSA(Charge Sensitive Amplifier); 상기 신호 SIGC와 제1 임계치 Vth_H와 제2 임계치 Vth_L를 각각 비교하여 신호 SIGH와 신호 SIGL을 출력하는 판별기; 상기 신호 SIGH와 상기 신호 SIGL을 비교하여 그 비교한 결과에 따라 신호 SIGTOUT를 출력하는 WDL(Window Decision Logic); 및 상기 신호 SIGOUT를 기반으로 이를 카운팅 또는 계수하고 그 계수한 값을 전달하는 카운터 를 포함하는 에너지 선택적 X-선 단일 광자 계수형 독출 칩
2 2
제1 항에 있어서, 상기 판별기는, 상기 신호 SIGC와 상기 제1 임계치 Vth_H를 비교하여 그 비교한 결과에 따라 상기 신호 SIGH를 출력하는 제1 판별기; 및 상기 신호 SIGC와 상기 제2 임계치 Vth_L를 비교하여 그 비교한 결과에 따라 상기 신호 SIGL을 출력하는 제2 판별기를 포함하는 에너지 선택적 X-선 단일 광자 계수형 독출 칩
3 3
제2 항에 있어서, 상기 제1 판별기는 상기 신호 SIGC가 상기 제1 임계치 Vth_H보다 높으면 하이이고 낮으면 로우인 상기 신호 SIGH를 출력하고, 상기 제2 판별기는 상기 신호 SIGC가 상기 제2 임계치 Vth_L보다 높으면 하이이고 낮으면 로우인 상기 신호 SIGL를 출력하는 것을 특징으로 하는 에너지 선택적 X-선 단일 광자 계수형 독출 칩
4 4
제1 항에 있어서, 상기 WDL은, 상기 신호 SIGL이 하이이고 신호 SIGH가 로우이면 하이인 신호 SIGOUT를 출력하는 것을 특징으로 하는 에너지 선택적 X-선 단일 광자 계수형 독출 칩
5 5
제1 항에 있어서, 상기 WDL은, 상기 제2 임계치 Vth_L 또는 상기 신호 SIGL에 의해서만 상기 신호 SIGOUT를 출력하는 것을 특징으로 하는 에너지 선택적 X-선 단일 광자 계수형 독출 칩
6 6
제1 항에 있어서, 상기 카운터는, 상기 신호 SIGOUT를 계수하는 가상-랜덤 카운터(pseudo-random counter)로 동작하는 것을 특징으로 하는 에너지 선택적 X-선 단일 광자 계수형 독출 칩
7 7
제1 항에 있어서, 상기 카운터는, 픽셀에 저장된 계수값을 전달하는 쉬프트 레지스터(shift register)로 동작하는 것을 특징으로 하는 에너지 선택적 X-선 단일 광자 계수형 독출 칩
8 8
(a)X-선 검출기로부터 입력된 전자 또는 홀을 축적(charging)하고 이에 상응하는 신호 SIGC를 출력하는 단계; (b)상기 신호 SIGC와 제1 임계치 Vth_H와 제2 임계치 Vth_L를 각각 비교하여 신호 SIGH와 신호 SIGL을 출력하는 단계; (c)상기 신호 SIGH와 상기 신호 SIGL을 비교하여 그 비교한 결과에 따라 신호 SIGTOUT를 출력하는 단계; 및 (d)상기 신호 SIGOUT를 기반으로 이를 카운팅 또는 계수하고 그 계수한 값을 전달하는 단계 를 포함하는 에너지 선택적 X-선 단일 광자 계수형 독출 칩의 파일-업 보정 방법
9 9
제8 항에 있어서, 상기 (b) 단계는, (b-1)상기 신호 SIGC와 상기 제1 임계치 Vth_H를 비교하여 그 비교한 결과에 따라 상기 신호 SIGH를 출력하는 단계; 및 (b-2)상기 신호 SIGC와 상기 제2 임계치 Vth_L를 비교하여 그 비교한 결과에 따라 상기 신호 SIGL을 출력하는 단계 를 포함하는 에너지 선택적 X-선 단일 광자 계수형 독출 칩의 파일-업 보정 방법
10 10
제9 항에 있어서, 상기 (b-1) 단계는 상기 신호 SIGC가 상기 제1 임계치 Vth_H보다 높으면 하이이고 낮으면 로우인 상기 신호 SIGH를 출력하고, 상기 (b-2)단계는 상기 신호 SIGC가 상기 제2 임계치 Vth_L보다 높으면 하이이고 낮으면 로우인 상기 신호 SIGL를 출력하는 것을 특징으로 하는 에너지 선택적 X-선 단일 광자 계수형 독출 칩의 파일-업 보정 방법
11 11
제8 항에 있어서, 상기 (c) 단계는, 상기 신호 SIGL이 하이이고 신호 SIGH가 로우이면 하이인 신호 SIGOUT를 출력하는 것을 특징으로 하는 에너지 선택적 X-선 단일 광자 계수형 독출 칩의 파일-업 보정 방법
12 12
제8 항에 있어서, 상기 (c) 단계는, 상기 제2 임계치 Vth_L 또는 상기 신호 SIGL에 의해서만 상기 신호 SIGOUT를 출력하는 것을 특징으로 하는 에너지 선택적 X-선 단일 광자 계수형 독출 칩의 파일-업 보정 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.