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대상물에 X-선을 조사하는 X-선 소스;상기 대상물의 관심영역을 통과한 X-선 투영 영상을 검출하는 검출기; 및검출된 상기 X-선 투영 영상을 상기 검출기의 센싱 영역을 다수의 영역으로 구분하고 구분된 각 영역으로부터 얻은 다수의 화이트 이미지를 적용하여 평탄화하는 단말기를 포함하는 것을 특징으로 하는 디지털 X-선 촬영을 위한 단층영상합성 시스템
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제1 항에 있어서,상기 단말기는,검출된 상기 X-선 투영 영상을 상기 검출기의 센싱 영역을 다수의 영역으로 구분하여 구분된 각 영역으로부터 얻은 다수의 제1 화이트 이미지를 이용하여 1차 평탄화하고,상기 1차 평탄화된 투영 영상을 상기 검출기의 센싱 영역을 구분하지 않고 전체 영역으로부터 얻은 하나의 제2 화이트 이미지를 이용하여 2차 평탄화하는 것을 특징으로 하는 디지털 X-선 촬영을 위한 단층영상합성 시스템
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제2 항에 있어서,상기 제1 화이트 이미지는,상기 검출기의 센싱 영역 내 구분된 각 영역에서의 이미지의 출력값의 평균값이 일정 범위 이내 또는 동일하게 되도록 X-선량을 조절하여 얻은 화이트 이미지인 것을 특징으로 하는 디지털 X-선 촬영을 위한 단층영상합성 시스템
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제2 항에 있어서,상기 1차 평탄화는,수학식 yic = [yavg(W) / yi(W)] × yi를 통해 수행되고, 여기서, 상기 yavg(W)는 제1 화이트 이미지의 화소 평균값을 나타내고, 상기 yi(W)는 제1 화이트 이미지를 나타내며, 상기 yi는 보정하고자 하는 투영 영상을 각각 나타내는 것을 특징으로 하는 디지털 X-선 촬영을 위한 단층영상합성 시스템
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제2 항에 있어서,상기 제2 화이트 이미지는,상기 검출기의 센싱 영역을 구분하지 않고 전체 영역으로부터 얻은 화이트 이미지를 상기 제1 화이트 이미지를 이용하여 평탄화하여 얻은 화이트 이미지인 것을 특징으로 하는 디지털 X-선 촬영을 위한 단층영상합성 시스템
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제2 항에 있어서,상기 2차 평탄화는,수학식 yicf = [ywc_ave(W) / ywc(W)] × yict를 통해 수행되고, 여기서, 상기 ywc_avg(W)는 제2 화이트 이미지의 화소 평균값을 나타내고, ywc(W)는 제2 화이트 이미지를 나타내며, yict는 1차 평탄화된 투영 영상을 각각 나타내는 것을 특징으로 하는 디지털 X-선 촬영을 위한 단층영상합성 시스템
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제1 항에 있어서,상기 단말기는,상기 검출기에서 검출된 X-선 투영 영상을 수집하는 영상 수집부;수집된 상기 X-선 투영 영상을 상기 검출기의 센싱 영역을 다수의 영역으로 구분하여 구분된 각 영역으로부터 얻은 다수의 제1 화이트 이미지를 이용하여 1차 평탄화하고 상기 검출기의 센싱 영역을 구분하지 않고 전체 영역으로부터 얻은 하나의 제2 화이트 이미지를 이용하여 2차 평탄화하는 제어부; 및상기 제1 화이트 이미지와 상기 제2 화이트 이미지를 저장하는 메모리를 포함하는 것을 특징으로 하는 디지털 X-선 촬영을 위한 단층영상합성 시스템
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대상물에 X-선을 조사하는 단계;검출기를 이용하여 상기 대상물의 관심영역을 통과한 X-선 투영 영상을 검출하는 단계; 및검출된 상기 X-선 투영 영상을 상기 검출기의 센싱 영역을 다수의 영역으로 구분하고 구분된 각 영역으로부터 얻은 다수의 화이트 이미지를 적용하여 평탄화하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 디지털 X-선 촬영을 위한 단층영상합성 시스템의 영상 평탄화 방법
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제8 항에 있어서,상기 평탄화하는 단계는,검출된 상기 X-선 투영 영상을 상기 검출기의 센싱 영역을 다수의 영역으로 구분하여 구분된 각 영역으로부터 얻은 다수의 제1 화이트 이미지를 이용하여 1차 평탄화하고,상기 1차 평탄화된 투영 영상을 상기 검출기의 센싱 영역을 구분하지 않고 전체 영역으로부터 얻은 하나의 제2 화이트 이미지를 이용하여 2차 평탄화하는 것을 특징으로 하는 디지털 X-선 촬영을 위한 단층영상합성 시스템의 영상 평탄화 방법
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제9 항에 있어서,상기 제1 화이트 이미지는,상기 검출기의 센싱 영역 내 구분된 각 영역에서의 이미지의 출력값의 평균값이 일정 범위 이내 또는 동일하게 되도록 X-선량을 조절하여 얻은 화이트 이미지인 것을 특징으로 하는 디지털 X-선 촬영을 위한 단층영상합성 시스템의 영상 평탄화 방법
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제9 항에 있어서,상기 1차 평탄화는,수학식 yic = [yavg(W) / yi(W)] × yi를 통해 수행되고, 여기서, 상기 yavg(W)는 제1 화이트 이미지의 화소 평균값을 나타내고, 상기 yi(W)는 제1 화이트 이미지를 나타내며, 상기 yi는 보정하고자 하는 투영 영상을 각각 나타내는 것을 특징으로 하는 디지털 X-선 촬영을 위한 단층영상합성 시스템의 영상 평탄화 방법
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제9 항에 있어서,상기 제2 화이트 이미지는,상기 검출기의 센싱 영역을 구분하지 않고 전체 영역으로부터 얻은 화이트 이미지를 상기 제1 화이트 이미지를 이용하여 평탄화하여 얻은 화이트 이미지인 것을 특징으로 하는 디지털 X-선 촬영을 위한 단층영상합성 시스템의 영상 평탄화 방법
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제9 항에 있어서,상기 2차 평탄화는,수학식 yicf = [ywc_ave(W) / ywc(W)] × yict를 통해 수행되고, 여기서, 상기 ywc_avg(W)는 제2 화이트 이미지의 화소 평균값을 나타내고, ywc(W)는 제2 화이트 이미지를 나타내며, yict는 1차 평탄화된 투영 영상을 각각 나타내는 것을 특징으로 하는 디지털 X-선 촬영을 위한 단층영상합성 시스템의 영상 평탄화 방법
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