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매질의 덩어리 상대 유전율을 측정하기 위한 임펄스 신호를 발생하는 송신부;발생된 상기 임펄스 신호를 송신하는 송신 안테나;상기 매질에 의해 반사된 임펄스 신호를 수신하는 수신 안테나; 및수신된 상기 임펄스 신호의 첨두치를 기반으로 상기 매질의 덩어리 상대 유전율을 구하기 위한 다항식을 유도하며 유도된 상기 다항식을 기반으로 상기 매질의 덩어리 상대 유전율을 측정하는 수신부를 포함하는 물질의 덩어리 유전 상수를 비파괴 검출하기 위한 장치
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제1 항에 있어서,상기 구하고자 하는 매질의 덩어리 상대 유전율 yεr은,다항식 에 의해 구하고, 여기서, 상기 x는 매질에 대한 첨두치의 비를 나타내고,상기 다항식의 계수는 수학식 에 의해 구하고, 여기서, 상기 yεri (i=1, 2,
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제1 항에 있어서,상기 송신부는,트리거 신호를 발생하는 트리거신호 발생부; 및발생된 상기 트리거 신호를 이용하여 삼각 펄스 또는 사각 펄스를 발생하는 펄스 생성부를 포함하는 것을 특징으로 하는 물질의 덩어리 유전 상수를 비파괴 검출하기 위한 장치
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제1 항에 있어서,상기 수신부는 분석부를 포함하며,상기 분석부는,덩어리 유전율을 알고 있는 N개의 매질에 의해 반사된 제1 임펄스 신호들을 각각 수신하고,상기 제1 임펄스 신호들 중에서 절대치 최대값을 갖는 매질의 첨두치와 N개의 매질 각각에 대한 첨두치의 비를 구하며,상기 첨두치의 비와 알고 있는 N개의 매질의 덩어리 유전율을 이용하여 덩어리 상대 유전율을 구하기 위한 다항식을 유도하며,상기 첨두치의 비와 알고 있는 N개의 매질의 덩어리 유전율을 이용하여 상기 덩어리 상대 유전율을 구하기 위한 다항식의 계수를 구하여 상기 다항식에 적용하는 것을 특징으로 하는 물질의 덩어리 유전 상수를 비파괴 검출하기 위한 장치
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제4 항에 있어서,상기 분석부는,구하고자 하는 매질에 의해 반사된 제2 임펄스 신호를 수신하고,상기 제1 임펄스 신호의 절대치 최대값을 갖는 매질의 첨두치와 구하고자 하는 매질의 첨두치의 비를 구하며,상기 첨두치의 비를 상기 다항식에 적용하여 매질에 대한 덩어리 상대 유전율을 구하는 것을 특징으로 하는 물질의 덩어리 유전 상수를 비파괴 검출하기 위한 장치
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임의의 매질의 종류를 구분하기 위한 극초단의 임펄스 신호를 발생하는 송신부;발생된 상기 임펄스 신호를 송신하는 송신 안테나;상기 매질에 의해 반사된 임펄스 신호를 수신하는 수신 안테나; 및수신된 상기 임펄스 신호에 대하여 그 종류를 알고 있는 매질과 구하고자 하는 매질의 상관계수를 구하고 그 상관계수를 이용하여 구하고자 하는 매질의 종류를 구분하는 수신부를 포함하는 물질의 종류를 비파괴 검출하기 위한 장치
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제6 항에 있어서,상기 매질의 상관계수 Risu(τ)는,수학식 에 의해 구하고, 여기서, 상기 Sis는 알고 있는 매질에 의해 반사되는 신호를 나타내고, 상기 Siu는 구하고자 하는 매질에 의해 반사된 신호를 나타내는 것을 특징으로 하는 물질의 종류를 비파괴 검출하기 위한 장치
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제6 항에 있어서,상기 수신부는 분석부를 포함하며,상기 분석부는,그 종류를 알고 있는 N개의 매질에 의해 반사된 제1 임펄스 신호들을 각각 수신하고,구하고자 하는 매질에 의해 반사된 제2 임펄스 신호를 수신하며,수신된 상기 제1 임펄스 신호들과 수신된 상기 제2 임펄스 신호에 대하여 상관 계수를 구하고 그 상관 계수를 이용하여 상기 구하고자 하는 매질의 종류를 구분하는 것을 특징으로 하는 물질의 종류를 비파괴 검출하기 위한 장치
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물질의 덩어리 상대 유전 상수와 종류를 측정하는 장치를 위한 안테나에 있어서,밑변은 좁고 윗변으로 갈수록 점점 더 넓어지는 형태로 형성되되, 그 옆변이 직선 또는 스텝 형태로 형성된 방사체; 및상기 방사체를 형성하는 금속 평판의 하부방향에서 감싸도록 형성된 캐비티(cavity)를 포함하는 비파괴 검출 장치를 위한 안테나
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10
제9 항에 있어서,상기 방사체는,방사체의 종단에서 발생되는 시간 영역 사이드로브 또는 링잉을 줄이기 위하여, 그라운드(GND) 면을 바라보는 윗변의 양쪽 모서리 근처에 일정 값의 저항이 각각 연결되는 것을 특징으로 하는 비파괴 검출 장치를 위한 안테나
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제10 항에 있어서,상기 방사체는,송신 또는 수신 안테나의 주파수 특성이 달라지도록 30도 내지 120도 범위 이내에서 점점 더 넓어지는 것을 특징으로 하는 비파괴 검출하는 장치를 위한 안테나
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물질의 덩어리 상대 유전 상수와 종류를 측정하는 장치의 측정 방법에 있어서,매질의 덩어리 상대 유전율 또는 종류를 측정하기 위한 측정 모드인지를 확인하는 단계;상기 측정 모드이면, 덩어리 유전율 또는 종류를 알고 있는 N개의 매질에 의해 반사된 제1 임펄스 신호들을 수신하는 단계; 및수신된 상기 제1 임펄스 신호들을 기반으로 N개의 매질에 대한 특성을 구하여 저장하는 단계를 포함하는 물질의 덩어리 상대 유전 상수와 종류를 측정하기 위한 방법
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제12 항에 있어서,상기 측정 모드가 아니면, 구하고자 하는 매질에 의해 반사된 제2 임펄스 신호를 수신하는 단계; 및수신된 상기 제2 임펄스 신호와 저장된 상기 제1 임펄스 신호들을 기반으로 상기 구하고자 하는 매질의 덩어리 상대 유전율 또는 종류를 구하는 단계를 더 포함하는 물질의 덩어리 상대 유전 상수와 종류를 측정하기 위한 방법
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매질의 덩어리 상대 유전율을 측정하기 위한 임펄스 신호를 발생하는 단계;발생된 상기 임펄스 신호를 송신하는 단계;상기 매질에 의해 반사된 임펄스 신호를 수신하는 단계; 및수신된 상기 임펄스 신호의 첨두치를 기반으로 상기 매질의 덩어리 상대 유전율을 구하기 위한 다항식을 유도하며 유도된 상기 다항식을 기반으로 상기 매질의 덩어리 상대 유전율을 측정하는 단계를 포함하는 물질의 덩어리 유전 상수를 비파괴 검출하기 위한 방법
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제14 항에 있어서,상기 덩어리 상대 유전율을 측정하는 단계는,덩어리 유전율을 알고 있는 N개의 매질에 의해 반사된 제1 임펄스 신호들을 각각 구하고,상기 제1 임펄스 신호들 중에 절대치 최대값을 갖는 매질의 첨두치와 N개의 매질 각각에 대한 첨두치의 비를 구하며,상기 첨두치의 비와 알고 있는 N개의 매질의 덩어리 유전율을 이용하여 덩어리 상대 유전율을 구하기 위한 다항식을 유도하며,상기 첨두치의 비와 알고 있는 N개의 매질의 덩어리 유전율을 이용하여 상기 덩어리 상대 유전율을 구하기 위한 다항식의 계수를 구하여 상기 다항식에 적용하는 것을 특징으로 하는 물질의 덩어리 유전 상수를 비파괴 검출하기 위한 방법
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제15 항에 있어서,상기 덩어리 상대 유전율을 측정하는 단계는,구하고자 하는 매질에 의해 반사된 제2 임펄스 신호를 각각 구하고,상기 제2 임펄스 신호의 절대치 최대값을 갖는 매질의 첨두치와 구하고자 하는 매질의 첨두치의 비를 구하며,구한 첨두치의 비를 상기 다항식에 적용하여 매질에 대한 덩어리 상대 유전율을 구하는 것을 특징으로 하는 물질의 덩어리 유전 상수를 비파괴 검출하기 위한 방법
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매질의 덩어리 상대 유전율을 측정하기 위한 임펄스 신호를 발생하는 단계;발생된 상기 임펄스 신호를 송신하는 단계;상기 매질에 의해 반사된 임펄스 신호를 수신하는 단계; 및수신된 상기 임펄스 신호에 대하여 그 종류를 알고 있는 매질과 구하고자 하는 매질의 상관계수를 구하고 그 상관계수를 이용하여 구하고자 하는 매질의 종류를 구분하는 단계를 포함하는 물질의 종류를 비파괴 검출하기 위한 방법
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제17 항에 있어서,상기 매질의 종류를 구분하는 단계는,덩어리 유전율을 알고 있는 N개의 매질에 의해 반사된 제1 임펄스 신호들을 각각 수신하고,구하고자 하는 매질에 의해 반사된 제2 임펄스 신호를 수신하며,수신된 상기 제1 임펄스 신호들과 수신된 상기 제2 임펄스 신호에 대하여 상관 계수를 구하고 그 상관 계수를 이용하여 상기 구하고자 하는 매질의 종류를 구분하는 것을 특징으로 하는 물질의 종류를 비파괴 검출하기 위한 방법
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