맞춤기술찾기

이전대상기술

광 스위칭 방식을 이용하는 디지털 엑스―선 영상 검출기의 스캔 방법

  • 기술번호 : KST2015163655
  • 담당센터 : 부산기술혁신센터
  • 전화번호 : 051-606-6561
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명에 의한 광 스위칭 방식을 이용하여 스캐닝하기 위한 디지털 엑스-선 영상 검출기가 개시된다. 본 발명에 따른 광 스위칭 방식을 이용하는 디지털 엑스-선 영상 검출기는 디지털 엑스-선 영상 검출기의 스캔 영역이 제1 스캔 영역과 제2 스캔 영역으로 2등분된 경우, 상기 제1 스캔 영역 내에서 이동하면서 빛을 조사하는 제1 광발생 장치; 및 상기 제2 스캔 영역 내에서 이동하면서 빛을 조사하는 제2 광발생 장치를 포함하는 것을 특징으로 한다. 또한, 본 발명에 따른 광 스위칭 방식을 이용하는 디지털 엑스-선 영상 검출기는 디지털 엑스-선 영상 검출기의 스캔 영역이 제1 스캔 영역과 제2 스캔 영역으로 2등분된 경우, 상기 제1 스캔 영역 내에서 라인 단위로 픽셀들을 순차적으로 온 시켜 빛을 조사하고, 상기 제2 스캔 영역 내에서 라인 단위로 픽셀들을 순차적으로 온 시켜 빛을 조사하는 광 발생장치를 포함하는 것을 특징으로 한다. 이를 통해, 본 발명은 영상 정보의 부정확성을 줄일 수 있을 뿐만 아니라 스캔 영역의 2등분으로 인해 스캔 시간을 1/2로 줄일 수 있는 효과가 있다.
Int. CL A61B 6/00 (2006.01) A61B 6/08 (2006.01)
CPC G03B 42/021(2013.01) G03B 42/021(2013.01) G03B 42/021(2013.01)
출원번호/일자 1020110083776 (2011.08.23)
출원인 한국전기연구원
등록번호/일자 10-1298913-0000 (2013.08.08)
공개번호/일자 10-2013-0021503 (2013.03.06) 문서열기
공고번호/일자 (20130820) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2011.08.23)
심사청구항수 5

출원인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 출원인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 한국전기연구원 대한민국 경상남도 창원시 성산구

발명자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 발명자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 허두창 대한민국 경기도 용인시 수지구
2 전성채 대한민국 경기도 안산시 상록구
3 서창우 대한민국 서울특별시 송파구
4 차보경 대한민국 경기도 안산시 상록구

대리인

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 대리인 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 특허법인충정 대한민국 서울특별시 강남구 역삼로***,*층(역삼동,성보역삼빌딩)

최종권리자

번호, 이름, 국적, 주소의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 인명정보 - 최종권리자 표입니다.
번호 이름 국적 주소
1 한국전기연구원 경상남도 창원시 성산구
번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2011.08.23 수리 (Accepted) 1-1-2011-0651957-21
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2012.03.13 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2012.04.19 수리 (Accepted) 9-1-2012-0031809-06
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2012.10.16 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2012-0615532-89
5 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2012.12.17 수리 (Accepted) 1-1-2012-1046329-13
6 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2013.01.16 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2013-0042813-17
7 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2013.01.16 수리 (Accepted) 1-1-2013-0042812-72
8 등록결정서
Decision to grant
2013.05.15 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0331972-16
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.02.04 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006987-25
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
엑스-선 조사시 엑스-선을 흡수하여 전자와 정공을 발생하는 엑스선 PCL;상기 엑스선 PCL에서 변환된 전자를 저장하는 ETL;상기 엑스-선에 의해 촬영된 영상 정보를 획득하기 위해 소정 파장을 갖는 광을 각각 발생시키는 제1 및 제2 광발생 장치들;상기 광을 각각 투과시키는 제1 및 제2 하부 전극들; 및투과된 상기 광을 쪼이면 전자와 정공을 발생시키고 발생된 상기 정공과 상기 ETL에 저장된 전자가 결합된 후 남아있는 상기 영상 정보에 대응하는 전자를 수집하는 readout PCL을 포함하며,상기 제1 광발생 장치는, 상기 제1 하부 전극과 교차하여 상기 제1 하부 전극의 아래에 배치되고, 제1 스캔 영역인 상기 제1 하부 전극의 아래에서 이동하면서 상기 광을 상기 제1 하부 전극을 통해 상기 readout PCL에 라인 형태로 조사하며,상기 제2 광발생 장치는, 상기 제2 하부 전극과 교차하여 상기 제2 하부 전극의 아래에 배치되고, 제2 스캔 영역인 상기 제2 하부 전극의 아래에서 이동하면서 상기 광을 상기 제2 하부 전극을 통해 상기 readout PCL에 라인 형태로 조사하는 것을 특징으로 하는 광 스위칭 방식을 이용하는 디지털 엑스-선 영상 검출기
2 2
제1 항에 있어서,상기 제1 광발생 장치와 상기 제2 광발생 장치는,상기 제1 스캔 영역과 상기 제2 스캔 영역이 서로 인접한 영역에서부터 동시에 서로 반대 방향으로 이동하면서 상기 광을 조사하는 것을 특징으로 하는 광 스위칭 방식을 이용하는 디지털 엑스-선 영상 검출기
3 3
엑스-선 조사시 엑스-선을 흡수하여 전자와 정공을 발생하는 엑스선 PCL;상기 엑스선 PCL에서 변환된 전자를 저장하는 ETL;상기 엑스-선에 의해 촬영된 영상 정보를 획득하기 위해 소정 파장을 갖는 광을 발생시키는 광발생 장치;상기 광을 각각 투과시키는 제1 및 제2 하부 전극들; 및투과된 상기 광을 쪼이면 전자와 정공을 발생시키고 발생된 상기 정공과 상기 ETL에 저장된 전자가 결합된 후 남아있는 상기 영상 정보에 대응하는 전자를 수집하는 readout PCL을 포함하며,상기 광발생 장치는, 상기 제1 및 제2 하부 전극들의 아래에 배치되고, 제1 스캔 영역인 상기 제1 하부 전극의 아래 및 제2 스캔 영역인 상기 제2 하부 전극의 아래 각각에서 상기 제1 및 제2 스캔 영역들과 교차되도록 라인 단위로 픽셀들을 순차적으로 온 시켜 상기 광을 상기 제1 및 제2 하부 전극들을 통해 상기 readout PCL에 라인 단위로 조사하는 것을 특징으로 하는 광 스위칭 방식을 이용하는 디지털 엑스-선 영상 검출기
4 4
제3 항에 있어서,상기 광발생 장치는,소정 파장을 갖는 광을 발생시키기 위한 FPD(Flat Panel Display)로서, PDP(Plasma Display Panel), 및 LCD(Liquid Crystal Display) 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 광 스위칭 방식을 이용하는 디지털 엑스-선 영상 검출기
5 5
제3 항에 있어서,상기 광발생 장치는,픽셀화되어 있어 상기 제1 스캔 영역과 상기 제2 스캔 영역의 서로 인접한 영역에서부터 동시에 서로 반대 방향으로 라인 단위로 픽셀들을 순차적으로 온 시켜 상기 광을 조사하는 것을 특징으로 하는 광 스위칭 방식을 이용하는 디지털 엑스-선 영상 검출기
6 6
삭제
7 7
삭제
8 8
삭제
9 9
삭제
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.