요약 | 본 발명은 피부에 축적된 최종당화산물(Advanced Glycation End products, AGE) 등으로부터의 피부의 자가형광을 측정함으로써 당뇨 등과 같은 다양한 질환들에 대한 평가를 수행할 수 있도록 피부 자가 형광을 측정할 수 있는 형광 측정 장치에 관한 것이다.이를 위해, 본 발명에서는 피부 형광을 측정함에 있어서, 조사광의 피부 표면에서의 투과광, 그리고 피부 안에서 발생하는 광의 산란 및 흡수로 인한 피부 형광의 측정 오차를 간단하게 보정할 수 있는 투과광 검출형 피부 형광 측정 장치를 제공하고자 한다.본 발명에서는 표준시편 또는 측정 대상에 대하여 광조사 및 광검출 가능하도록 구성되며, 여기광을 조사하는 제1광원과, 상기 제1광원과 서로 다른 파장의 광을 조사하는 제2광원과, 상기 제1광원 및 제2광원으로부터의 투과광을 검출할 수 있도록 배치되며, 형광 신호 및 투과광 신호에 대한 서로 다른 두 개의 파장을 검출하는 제1광검출기 및 제2광검출기와, 상기 제1광원 및 제2광원의 온/오프를 제어하는 광원 스위칭 제어부와, 상기 제1광검출기 및 제2광검출기로부터 검출된 형광 신호 및 투과광 신호로부터 보정된 피부 형광 신호를 산출하는 연산부를 포함하며, 상기 제2광원은 상기 제1광원으로부터의 여기광에 의하여 여기되어 방출되는 피부 형광의 파장대의 광을 조사하는 것을 특징으로 하는 투과광 검출형 피부 형광 측정 장치를 제공한다. |
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Int. CL | A61B 5/00 (2006.01) A61B 5/1455 (2006.01) |
CPC | A61B 5/14556(2013.01) A61B 5/14556(2013.01) A61B 5/14556(2013.01) A61B 5/14556(2013.01) |
출원번호/일자 | 1020120028724 (2012.03.21) |
출원인 | 한국전기연구원 |
등록번호/일자 | 10-1444730-0000 (2014.09.19) |
공개번호/일자 | 10-2013-0106985 (2013.10.01) 문서열기 |
공고번호/일자 | (20140926) 문서열기 |
국제출원번호/일자 | |
국제공개번호/일자 | |
우선권정보 | |
법적상태 | 등록 |
심사진행상태 | 수리 |
심판사항 | |
구분 | 신규 |
원출원번호/일자 | |
관련 출원번호 | |
심사청구여부/일자 | Y (2012.03.21) |
심사청구항수 | 32 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 한국전기연구원 | 대한민국 | 경상남도 창원시 성산구 |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 강욱 | 대한민국 | 서울특별시 강서구 |
2 | 김광훈 | 대한민국 | 부산광역시 수영구 |
3 | 배수진 | 대한민국 | 서울특별시 강서구 |
4 | 이대식 | 대한민국 | 서울특별시 마포구 |
5 | 신일형 | 대한민국 | 서울특별시 중랑구 |
6 | 파파얀 게리 브이 | 러시아 | 카멘노오스트로브스키 프로스펙트 * |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 한라특허법인(유한) | 대한민국 | 서울시 서초구 강남대로 ***(서초동, 남강빌딩 *층) |
번호 | 이름 | 국적 | 주소 |
---|---|---|---|
1 | 한국전기연구원 | 경상남도 창원시 성산구 |
번호 | 서류명 | 접수/발송일자 | 처리상태 | 접수/발송번호 |
---|---|---|---|---|
1 | [특허출원]특허출원서 [Patent Application] Patent Application |
2012.03.21 | 수리 (Accepted) | 1-1-2012-0228440-63 |
2 | [출원서등 보정]보정서 [Amendment to Patent Application, etc.] Amendment |
2012.08.13 | 수리 (Accepted) | 1-1-2012-0645044-11 |
3 | 선행기술조사의뢰서 Request for Prior Art Search |
2013.03.13 | 수리 (Accepted) | 9-1-9999-9999999-89 |
4 | 선행기술조사보고서 Report of Prior Art Search |
2013.04.10 | 수리 (Accepted) | 9-1-2013-0029080-50 |
5 | 의견제출통지서 Notification of reason for refusal |
2013.05.29 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2013-0369618-92 |
6 | [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서 [Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief) |
2013.07.29 | 수리 (Accepted) | 1-1-2013-0684155-63 |
7 | [명세서등 보정]보정서 [Amendment to Description, etc.] Amendment |
2013.08.29 | 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) | 1-1-2013-0791719-91 |
8 | [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서 [Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation) |
2013.08.29 | 수리 (Accepted) | 1-1-2013-0791721-83 |
9 | 최후의견제출통지서 Notification of reason for final refusal |
2013.12.26 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2013-0896160-00 |
10 | [명세서등 보정]보정서 [Amendment to Description, etc.] Amendment |
2014.02.26 | 보정승인 (Acceptance of amendment) | 1-1-2014-0190713-77 |
11 | [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서 [Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation) |
2014.02.26 | 수리 (Accepted) | 1-1-2014-0190715-68 |
12 | 등록결정서 Decision to grant |
2014.07.16 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2014-0483033-79 |
13 | 출원인정보변경(경정)신고서 Notification of change of applicant's information |
2015.02.04 | 수리 (Accepted) | 4-1-2015-0006987-25 |
14 | 대리인선임신고서 Report on Appointment of Agent |
2015.12.23 | 수리 (Accepted) | 1-1-2015-5033520-42 |
번호 | 청구항 |
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1 |
1 표준시편 또는 측정 대상에 대하여 광조사 및 광검출 가능하도록 구성되며,여기광을 조사하는 제1광원;상기 제1광원으로부터의 여기광에 의하여 여기되어 방출되는 피부 형광의 파장대의 광을 조사하는 제2광원;상기 제1광원으로부터 조사되는 광에 대한 투과광을 검출하기 위한 제1광검출기;상기 제2광원으로부터 조사되는 광에 대한 투과광 및 상기 제1광원으로부터 조사되는 광에 의한 피부 형광을 검출하기 위한 제2광검출기;상기 제1광원 및 제2광원의 점멸을 제어하는 광원 스위칭 제어부;상기 제1광검출기 및 제2광검출기로부터 검출된 형광 신호 및 투과광 신호로부터 보정된 피부 형광 신호를 산출하는 연산부;를 포함하며,상기 광원 스위칭 제어부는 상기 제1광원과 상기 제2광원은 서로 다른 시간 동안 점등 상태가 유지되도록 상기 제1광원 및 상기 제2광원을 스위칭 제어하는 것을 특징으로 하는 투과광 검출형 피부 형광 측정 장치 |
2 |
2 삭제 |
3 |
3 청구항 1에 있어서,상기 광원 스위칭 제어부는 상기 제1광원과 상기 제2광원을 순차적으로 점등 및 소등시키는 과정을 연속적으로 반복하면서 제1광원에 대한 형광신호 및 투과광 신호와 제2광원에 대한 투과광 신호를 각각 검출하도록 구성되는 것을 특징으로 투과광 검출형 피부 형광 측정 장치 |
4 |
4 청구항 1에 있어서,상기 제1광원 및 상기 제2광원의 광경로 상에는 측정 대상과 표준시편이 선택적으로 위치할 수 있도록 구성되는 것을 특징으로 하는 투과광 검출형 피부 형광 측정 장치 |
5 |
5 청구항 1에 있어서,상기 제1광원은 370nm ± 20nm 의 광을 조사하는 것을 특징으로 하는 투과광 측정형 피부 형광 측정 장치 |
6 |
6 청구항 1에 있어서,상기 제2광원은 440nm ± 20nm 의 광을 조사하는 것을 특징으로 하는 투과광 측정형 피부 형광 측정 장치 |
7 |
7 청구항 1에 있어서,상기 광원 스위칭 제어부는 각 광원을 점등시키기 전, 제1광원과 제2광원이 모두 소등되도록 제어하는 것을 특징으로 하는 투과광 측정형 피부 형광 측정 장치 |
8 |
8 청구항 7에 있어서,상기 광원 스위칭 제어부가 제1광원 및 제2광원을 모두 소등시킨 경우, 상기 제1광검출기 및 제2광검출기에서는 암신호를 측정하고, 상기 연산부는 측정된 암신호를 저장하고, 저장된 암신호로부터 검출된 형광 신호 및 투과광 신호를 보상하는 것을 특징으로 하는 투과광 측정형 피부 형광 측정 장치 |
9 |
9 청구항 1에 있어서,상기 광원 스위칭 제어부는 제1광원부 및 제2광원부가 10 ~ 100Hz 의 주기로 점등 및 소등을 반복하도록 제어하는 것을 특징으로 하는 투과광 측정형 피부 형광 측정 장치 |
10 |
10 청구항 1에 있어서,상기 제1광검출기 및 제2광검출기의 온/오프를 제어하는 광검출기 스위칭 제어부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 투과광 검출형 피부 형광 측정 장치 |
11 |
11 청구항 1에 있어서,상기 제1광원, 제2광원, 제1광검출기 및 제2광검출기를 포함하는 광학 센서와;상기 광학 센서에 전기적으로 연결가능하도록 구성되며, 상기 연산부를 포함하는 본체;로 분리 구성되는 것을 특징으로 하는 투과광 검출형 피부 형광 측정 장치 |
12 |
12 청구항 11에 있어서,상기 광학 센서에는 제1광원 및 제2광원에 연결되는 제1고정부와 제1광검출기와 제2광검출기에 연결되는 제2고정부가 형성되고, 상기 제1고정부와 제2고정부는 서로 마주보면서 그 사이에 삽입 공간을 형성하는 것을 특징으로 하는 투과광 검출형 피부 형광 측정 장치 |
13 |
13 청구항 11에 있어서,상기 광학 센서는 검출된 정보를 저장하기 위한 메모리를 포함하는 것을 특징으로 하는 투과광 검출형 피부 형광 측정 장치 |
14 |
14 청구항 11에 있어서,상기 광학 센서는 상기 제1광원 및 상기 제2광원으로부터 조사되는 광을 공통으로 전달하는 공통 광원 광 가이드를 포함하는 것을 특징으로 하는 투과광 검출형 피부 형광 측정 장치 |
15 |
15 청구항 14에 있어서,상기 광학 센서는 투과광 및 피부 형광을 상기 제1광검출기 및 상기 제2광검출기로 공통으로 전달하는 공통 검출 광 가이드를 포함하는 것을 특징으로 하는 투과광 검출형 피부 형광 측정 장치 |
16 |
16 청구항 14에 있어서,상기 광학 센서는 상기 제1광원 및 상기 제2광원으로부터 조사되는 각각의 광을 상기 공통 광원 광 가이드에 전달할 수 있도록 광 경로 상에 제1다이크로익 미러가 설치되는 것을 특징으로 하는 투과광 검출형 피부 형광 측정 장치 |
17 |
17 청구항 16에 있어서,상기 광학 센서는 상기 공통 검출 광 가이드로부터 전달된 광을 분리하여 상기 제1광검출기 및 상기 제2광검출기로 전달할 수 있도록 광 경로 상에 제2다이크로익 미러가 설치되는 것을 특징으로 하는 투과광 검출형 피부 형광 측정 장치 |
18 |
18 청구항 16에 있어서,상기 제1광원과 상기 제1다이크로익 미러 사이에는 제1광원으로부터 조사되는 제1파장의 광은 통과시키고, 제2광원으로부터 조사되는 제2파장의 광은 억제하는 광원필터가 설치되는 것을 특징으로 하는 투과광 검출형 피부 형광 측정 장치 |
19 |
19 청구항 16에 있어서,상기 제1광원 및 상기 제2광원과 상기 제1다이크로익 미러 사이에는 상기 제1광원 및 상기 제2광원으로부터 조사되는 광을 집속시키는 대물렌즈가 각각 설치되는 것을 특징으로 하는 투과광 검출형 피부 형광 측정 장치 |
20 |
20 청구항 17에 있어서,상기 제2다이크로익 미러와 상기 제1광검출기 사이에는 제1파장의 광은 통과시키고, 제2파장의 광은 억제하는 제1검출필터가 설치되고, 상기 제2다이크로익 미러와 상기 제2광검출기 사이에는 제1파장의 광은 억제하고, 제2파장의 광은 투과시키는 제2검출필터가 설치되는 것을 특징으로 하는 투과광 검출형 피부 형광 측정 장치 |
21 |
21 청구항 17에 있어서,상기 제1광검출기 및 상기 제2광검출기와 상기 제2다이크로익 미러 사이에는 상기 제2다이크로익 미러를 통과한 광을 상기 제1광검출기 및 상기 제2광검출기로 집속시키는 대물렌즈가 각각 설치되는 것을 특징으로 하는 투과광 검출형 피부 형광 측정 장치 |
22 |
22 청구항 11에 있어서,상기 광학 센서는 상기 제1광원으로부터 조사되는 광을 전달하는 제1광원 광 가이드 및 상기 제2광원으로부터 조사되는 광을 전달하는 제2광원 광 가이드를 포함하는 것을 특징으로 하는 투과광 검출형 피부 형광 측정 장치 |
23 |
23 청구항 22에 있어서,상기 광학 센서는 투과광 및 피부 형광을 상기 제1광검출기로 전달하는 제1검출 광가이드 및 상기 제2광검출기로 전달하는 제2검출 광가이드를 포함하는 것을 특징으로 하는 투과광 검출형 피부 형광 측정 장치 |
24 |
24 청구항 22에 있어서,상기 제1광원과 상기 제1광원 광 가이드 사이에는 제1광원으로부터 조사되는 제1파장의 광은 통과시키고, 제2광원으로부터 조사되는 제2파장의 광은 억제하는 광원필터가 설치되는 것을 특징으로 하는 투과광 검출형 피부 형광 측정 장치 |
25 |
25 청구항 23에 있어서,상기 제1광원 광 가이드와 상기 제1광검출기 사이에는 제1파장의 광은 통과시키고, 제2파장의 광은 억제하는 제1검출필터가 설치되고, 상기 제2광원 광 가이드와 상기 제2광검출기 사이에는 제1파장의 광은 억제하고, 제2파장의 광은 투과시키는 제2검출필터가 설치되는 것을 특징으로 하는 투과광 검출형 피부 형광 측정 장치 |
26 |
26 청구항 12에 있어서,상기 제1고정부의 말단에는 제1광원 및 제2광원이 설치되어, 상기 제1광원 및 제2광원이 직접 측정 대상에 광을 조사할 수 있도록 구성되고, 상기 제2고정부의 말단에는 제1광검출기 및 제2광검출기가 설치되어, 상기 제1광검출기 및 제2광검출기에서 직접 투과광 및 피부 형광을 검출할 수 있도록 구성되는 것을 특징으로 하는 투과광 검출형 피부 형광 측정 장치 |
27 |
27 청구항 26에 있어서,상기 제1광검출기 및 상기 제2광검출기는 두 개의 섹터로 구성되는 광검출기의 두 섹터 앞에 제1파장(λ1)과 제2파장(λ2)를 구분하는 대역 필터들이 각각 위치하는 것을 특징으로 하는 투과광 검출형 피부 형광 측정 장치 |
28 |
28 청구항 26에 있어서,상기 제1고정부와 상기 제2고정부는 측정 대상을 가압한 상태에서 고정할 수 있도록 클립 형태로 제작되는 것을 특징으로 하는 투과광 검출형 피부 형광 측정 장치 |
29 |
29 청구항 12에 있어서,상기 광학 센서에는 이동 가능한 표준 시편이 장착되고, 상기 표준 시편은 상기 제1고정부와 상기 제2고정부 사이의 삽입 공간에서 측정 대상이 제거된 경우, 상기 삽입 공간에 위치하도록 이동되는 것을 특징으로 하는 투과광 검출형 피부 형광 측정 장치 |
30 |
30 청구항 29에 있어서,상기 광학 센서는 삽입 공간에 측정 대상인 피부가 위치한 경우 피부에 대한 측정을 수행하고, 측정 대상이 제거되어 표준 시편이 삽입 공간에 위치한 경우 표준 시편에 대한 측정을 수행하는 것을 특징으로 하는 투과광 검출형 피부 형광 측정 장치 |
31 |
31 청구항 30에 있어서,상기 광학 센서는 측정 대상인 피부 및 표준 시편에 대하여 측정된 결과를 저장하고, 저장된 피부 및 표준시편에 대한 검출 정보를 본체로 전송하여 상기 연산부에서 보정된 피부 형광값을 산출하도록 구성된 것을 특징으로 하는 투과광 검출형 피부 형광 측정 장치 |
32 |
32 청구항 11에 있어서,상기 본체는 디스플레이부를 더 포함하며, 상기 디스플레이부에서는 상기 연산부에서 산출된 보정된 피부 형광 신호를 출력하는 것을 특징으로 하는 투과광 검출형 피부 형광 측정 장치 |
33 |
33 청구항 1에 있어서,상기 연산부는 하기 수식에 의하여 보정된 피부 형광값을 산출하는 것을 특징으로 하는 투과광 검출형 피부 형광 측정 장치 |
지정국 정보가 없습니다 |
---|
순번 | 패밀리번호 | 국가코드 | 국가명 | 종류 |
---|---|---|---|---|
1 | CN103565410 | CN | 중국 | FAMILY |
2 | JP05739927 | JP | 일본 | FAMILY |
3 | JP25192958 | JP | 일본 | FAMILY |
4 | KR101410739 | KR | 대한민국 | FAMILY |
5 | US09723990 | US | 미국 | FAMILY |
6 | US09955871 | US | 미국 | FAMILY |
7 | US20130281865 | US | 미국 | FAMILY |
8 | US20140163387 | US | 미국 | FAMILY |
순번 | 패밀리번호 | 국가코드 | 국가명 | 종류 |
---|---|---|---|---|
1 | CN103565410 | CN | 중국 | DOCDBFAMILY |
2 | CN103565410 | CN | 중국 | DOCDBFAMILY |
3 | JP2013192958 | JP | 일본 | DOCDBFAMILY |
4 | JP5739927 | JP | 일본 | DOCDBFAMILY |
순번 | 연구부처 | 주관기관 | 연구사업 | 연구과제 |
---|---|---|---|---|
1 | 서울특별시 | 한국전기연구원 | 세계유수연구소 유치 지원사업 | Russia Science Seoul 유치 지원사업 |
특허 등록번호 | 10-1444730-0000 |
---|
표시번호 | 사항 |
---|---|
1 |
출원 연월일 : 20120321 출원 번호 : 1020120028724 공고 연월일 : 20140926 공고 번호 : 특허결정(심결)연월일 : 20140716 청구범위의 항수 : 32 유별 : A61B 5/00 발명의 명칭 : 투과광 검출형 피부 형광 측정 장치 존속기간(예정)만료일 : |
순위번호 | 사항 |
---|---|
1 |
(권리자) 한국전기연구원 경상남도 창원시 성산구... |
제 1 - 3 년분 | 금 액 | 646,500 원 | 2014년 09월 22일 | 납입 |
제 4 년분 | 금 액 | 520,800 원 | 2017년 09월 19일 | 납입 |
제 5 년분 | 금 액 | 372,000 원 | 2018년 09월 19일 | 납입 |
제 6 년분 | 금 액 | 372,000 원 | 2019년 09월 18일 | 납입 |
제 7 년분 | 금 액 | 658,000 원 | 2020년 09월 18일 | 납입 |
번호 | 서류명 | 접수/발송일자 | 처리상태 | 접수/발송번호 |
---|---|---|---|---|
1 | [특허출원]특허출원서 | 2012.03.21 | 수리 (Accepted) | 1-1-2012-0228440-63 |
2 | [출원서등 보정]보정서 | 2012.08.13 | 수리 (Accepted) | 1-1-2012-0645044-11 |
3 | 선행기술조사의뢰서 | 2013.03.13 | 수리 (Accepted) | 9-1-9999-9999999-89 |
4 | 선행기술조사보고서 | 2013.04.10 | 수리 (Accepted) | 9-1-2013-0029080-50 |
5 | 의견제출통지서 | 2013.05.29 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2013-0369618-92 |
6 | [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서 | 2013.07.29 | 수리 (Accepted) | 1-1-2013-0684155-63 |
7 | [명세서등 보정]보정서 | 2013.08.29 | 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) | 1-1-2013-0791719-91 |
8 | [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서 | 2013.08.29 | 수리 (Accepted) | 1-1-2013-0791721-83 |
9 | 최후의견제출통지서 | 2013.12.26 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2013-0896160-00 |
10 | [명세서등 보정]보정서 | 2014.02.26 | 보정승인 (Acceptance of amendment) | 1-1-2014-0190713-77 |
11 | [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서 | 2014.02.26 | 수리 (Accepted) | 1-1-2014-0190715-68 |
12 | 등록결정서 | 2014.07.16 | 발송처리완료 (Completion of Transmission) | 9-5-2014-0483033-79 |
13 | 출원인정보변경(경정)신고서 | 2015.02.04 | 수리 (Accepted) | 4-1-2015-0006987-25 |
14 | 대리인선임신고서 | 2015.12.23 | 수리 (Accepted) | 1-1-2015-5033520-42 |
기술정보가 없습니다 |
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과제고유번호 | 1415114480 |
---|---|
세부과제번호 | 10-12-N0101-65 |
연구과제명 | Russia Science Seoul 유치 지원사업 |
성과구분 | 출원 |
부처명 | 지식경제부 |
연구관리전문기관명 | 산업기술연구회 |
연구주관기관명 | 한국전기연구원 |
성과제출연도 | 2010 |
연구기간 | 201007~201012 |
기여율 | 1 |
연구개발단계명 | 개발연구 |
6T분류명 | 기타 |
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