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엑스선 검출 장치

  • 기술번호 : KST2015163824
  • 담당센터 : 부산기술혁신센터
  • 전화번호 : 051-606-6561
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요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 엑스선 검출 장치에 관한 것이다. 보다 상세하게는 엑스선에 의해 발생되는 가시광에 대한 검출 효율을 증가시킴으로써 방사선 분야에서 필수적으로 요구되는 엑스선 검출 효율을 향상시킬 수 있는 엑스선 검출 장치에 관한 것이다. 본 발명은 조사되는 엑스선에 의해 내부에서 가시광이 발생되는 섬광체 구조물; 상기 섬광체 구조물 하부에 결합되며 상기 섬광체 구조물 내부에서 발생된 후 상기 섬광체 구조물 하부로 조사되는 가시광을 검출하는 광검출부; 및 상기 섬광체 구조물 상부에 형성되며 상기 섬광체 구조물 내부에서 발생된 후 상기 섬광체 구조물 상부로 조사되는 가시광을 상기 광검출부 측으로 반사시키는 반사층을 포함하는 것을 특징으로 한다. 본 발명에 의하면 섬광체 구조물로 조사되는 엑스선에 의해 섬광체 내부에서 발생된 후 광 검출부가 배치된 영역 이외의 영역으로 조사되는 가시광을 섬광체 구조물에 구성되는 격벽 및 섬광체 구조물 상부에 구성되는 반사층에 의해 반사한 후 광 검출부 측으로 조사할 수 있으므로 광 검출부의 가시광 검출 효율을 증가시켜 결과적으로 엑스선 검출 효율을 증가시킬 수 있는 효과를 갖는다.
Int. CL A61B 6/00 (2006.01) G01T 1/20 (2006.01)
CPC G01T 1/2002(2013.01) G01T 1/2002(2013.01) G01T 1/2002(2013.01)
출원번호/일자 1020120134309 (2012.11.26)
출원인 한국전기연구원
등록번호/일자 10-1463389-0000 (2014.11.13)
공개번호/일자 10-2014-0067270 (2014.06.05) 문서열기
공고번호/일자 (20141204) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2012.11.26)
심사청구항수 2

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국전기연구원 대한민국 경상남도 창원시 성산구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 허두창 대한민국 경기 용인시 수지구
2 양기동 대한민국 경기 안양시 동안구
3 전성채 대한민국 경기 안산시 상록구
4 차보경 대한민국 경기 안산시 상록구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인충정 대한민국 서울특별시 강남구 역삼로***,*층(역삼동,성보역삼빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 한국전기연구원 경상남도 창원시 성산구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application		 2012.11.26 수리 (Accepted) 1-1-2012-0972916-90
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search		 2013.08.23 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search		 2013.10.10 수리 (Accepted) 9-1-2013-0081085-97
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal		 2013.12.24 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0894781-96
5 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)		 2014.02.24 수리 (Accepted) 1-1-2014-0175232-10
6 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)		 2014.03.24 수리 (Accepted) 1-1-2014-0277091-38
7 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)		 2014.04.24 수리 (Accepted) 1-1-2014-0390659-34
8 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)		 2014.05.26 수리 (Accepted) 1-1-2014-0491229-17
9 지정기간연장관련안내서
Notification for Extension of Designated Period		 2014.06.02 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2014-0090508-94
10 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment		 2014.06.20 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2014-0576520-15
11 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)		 2014.06.20 수리 (Accepted) 1-1-2014-0576519-68
12 등록결정서
Decision to grant		 2014.09.17 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0631323-98
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information		 2015.02.04 수리 (Accepted) 4-1-2015-0006987-25
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
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조사되는 엑스선에 의해 내부에서 가시광이 발생되는 섬광체 구조물;상기 섬광체 구조물 하부에 결합되며 상기 섬광체 구조물 내부에서 발생된 후 상기 섬광체 구조물 하부로 조사되는 가시광을 검출하는 광검출부; 및상기 섬광체 구조물 상부에 형성되며 상기 섬광체 구조물 내부에서 발생된 후 상기 섬광체 구조물 상부로 조사되는 가시광을 상기 광검출부 측으로 반사시키는 반사층; 및상기 섬광체 구조물과 상기 반사층 사이에 결합되며 상기 반사층에서 반사된 가시광을 굴절시켜 상기 광검출부에 대하여 수직 방향으로 조사되도록 하는 프리즘 시트를 포함하고,상기 광검출부는 기판 상부에 형성되고, 어레이 형태로 배열되는 복수 개의 포토 다이오드를 포함하며,상기 섬광체 구조물은 상기 복수 개의 포토 다이오드에 대응되도록 격벽으로 구분되는 복수 개의 픽셀형 섬광체를 포함하고,상기 프리즘 시트는 상기 섬광체 구조물 내부에서 발생되는 가시광 중 산란되어 상기 격벽에서 반사되는 광 또는 산란되어 상기 반사층 측으로 조사되는 광을 1차 굴절시킨 후 상기 반사층으로 조사하고, 상기 반사층에서 반사되는 광을 2차 굴절시켜 상기 2차 굴절된 광이 상기 광검출부에 대하여 수직 방향으로 조사되도록 하는 것을 특징으로 하는 엑스선 검출 장치
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제 1항에 있어서,상기 반사층은 반사 필름인 것을 특징으로 하는 엑스선 검출 장치
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6 6
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지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.