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상압 플라즈마 에칭 처리 시스템

  • 기술번호 : KST2015165500
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요약 상압 플라즈마 에칭 처리 시스템이 개시된다. 본 발명의 상압 플라즈마 에칭 처리 시스템은 재료 표면을 플라즈마 에칭 처리하는 시스템에 있어서, 상부에 표면 처리 대상인 재료가 안착되는 접지 치구; 플라즈마 에칭 처리를 위한 공정가스를 공급하는 공정가스 공급부; 및 RF 에너지를 인가받아 접지 치구와의 사이에 고주파 전계를 발생시킴으로써, 공정가스를 플라즈마화하여 재료의 표면을 플라즈마 에칭 처리하는 에칭 전극부를 포함하는 것을 특징으로 한다.
Int. CL H05H 1/46 (2006.01) H01L 21/3065 (2006.01)
CPC H01J 37/32532(2013.01) H01J 37/32532(2013.01) H01J 37/32532(2013.01) H01J 37/32532(2013.01) H01J 37/32532(2013.01) H01J 37/32532(2013.01) H01J 37/32532(2013.01) H01J 37/32532(2013.01) H01J 37/32532(2013.01) H01J 37/32532(2013.01) H01J 37/32532(2013.01)
출원번호/일자 1020120041252 (2012.04.20)
출원인 고등기술연구원연구조합
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2013-0118425 (2013.10.30) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 거절
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2012.04.20)
심사청구항수 11

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 고등기술연구원연구조합 대한민국 경기도 용인시 처인구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김상식 대한민국 서울 강남구
2 신중욱 대한민국 경기 고양시 덕양구
3 오승천 대한민국 서울 마포구
4 김성민 대한민국 경기 고양시 덕양구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인에이아이피 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 **길 **-*(역삼동, AIP빌딩)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2012.04.20 수리 (Accepted) 1-1-2012-0314120-19
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.07.03 수리 (Accepted) 4-1-2013-5092832-77
3 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2013.09.02 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0612330-83
4 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2014.03.04 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0161133-73
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.04.03 수리 (Accepted) 4-1-2014-5041626-28
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.04.03 수리 (Accepted) 4-1-2014-0054125-21
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.09.02 수리 (Accepted) 4-1-2019-5177074-19
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번호 청구항
1 1
재료 표면을 플라즈마 에칭 처리하는 시스템에 있어서,상부에 표면 처리 대상인 재료가 안착되는 접지 치구;플라즈마 에칭 처리를 위한 공정가스를 공급하는 공정가스 공급부; 및RF 에너지를 인가받아 상기 접지 치구와의 사이에 고주파 전계를 발생시킴으로써, 상기 공정가스를 플라즈마화하여 상기 재료의 표면을 플라즈마 에칭 처리하는 에칭 전극부를 포함하는 것을 특징으로 하는 상압 플라즈마 에칭 처리 시스템
2 2
제 1항에 있어서, 상기 공정가스는 헬륨(He) 및 과불화탄소(CF4)인 것을 특징으로 하는 상압 플라즈마 에칭 처리 시스템
3 3
제 1항에 있어서, 상기 공정가스 공급부는상기 공정가스의 공급을 위한 공정가스 공급원;상기 공정가스 공급원으로부터 상기 에칭 전극부로 상기 공정가스를 유도하는 공정가스 유로; 및상기 공정가스 유로에 마련되어 상기 공정가스를 혼합시키는 공정가스 혼합기를 포함하는 것을 특징으로 하는 상압 플라즈마 에칭 처리 시스템
4 4
제 1항에 있어서, 상기 에칭 전극부는 에칭 전극 몸체;상기 에칭 전극 몸체에 마련되며 RF 전원 장치에 연결되어 상압에서 유전체 장벽 방전을 일으키는 에칭 전극; 및상기 에칭 전극을 감싸는 유전체 물질을 포함하는 것을 특징으로 하는 상압 플라즈마 에칭 처리 시스템
5 5
제 1항에 있어서, 상기 재료는 유리 및 필름을 포함하는 것을 특징으로 하는 상압 플라즈마 에칭 처리 시스템
6 6
제 1항에 있어서, 상기 접지 치구는 직선왕복 이동이 가능하도록 마련되는 것을 특징으로 하는 상압 플라즈마 에칭 처리 시스템
7 7
친수성 또는 오염방지 특성을 갖춘 유리를 생산하는 방법에서, 헬륨(He) 및 과불화탄소(CF4)를 공정가스로 하는 상압 플라즈마 에칭 처리 과정이 적용된 것을 특징으로 하는 유리 생산 방법
8 8
제 7항에 있어서, 유리의 생산 단계 중 서냉 단계 이후 출하 단계 전의 단계에서 상압 플라즈마 에칭 처리 과정이 적용된 유리 생산 방법
9 9
제 7항 또는 제 8항에 있어서, 상기 유리의 생산 단계는 원료투입, 용융, 성형, 서냉, 검사, 절단 및 출하의 단계를 포함하며 서냉 단계 이후 출하 단계 전의 단계에서 상압 플라즈마 에칭 처리 과정이 적용된 유리 생산 방법
10 10
물방울 접촉각 0도 이상 10도 이하인, 친수성 및 오염방지 특성을 가진 상압 플라즈마 에칭 처리된 유리
11 11
제 10항에 있어서, 표면 조도 2㎚이상 1OO㎚이하인 상압 플라즈마 에칭 처리된 유리
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
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순번 연구부처 주관기관 연구사업 연구과제
1 국토해양부 고등기술연구원 건설기술혁신사업 대기압 플라즈마를 이용한 건축외장재 방오염 내구성 향상 기술 개발