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적외선 이미지프로세싱을 이용한 시정계 및 시정방법

  • 기술번호 : KST2015168759
  • 담당센터 : 인천기술혁신센터
  • 전화번호 : 032-420-3580
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 대기의 혼탁도를 측정하기 위한 시정계 및 시정방법에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 대기 중에 적외선을 방출시킨 후 적외선 카메라로 대기를 촬영하여 촬영된 영상을 이미지프로세싱 기법으로 분석함으로써 시정을 측정한 시정방법과 이러한 시정방법이 구현된 시정계에 관한 것이다.본 발명의 시정계는, 대기 중에 노출되며 적외선을 방출하는 적외선 발광체; 상기 적외선 발광체에서 방출된 적외선을 감지하면서 대기를 촬영하는 적외선 카메라; 상기 적외선 카메라로 촬영된 영상데이터를 전송받아 영상데이터로부터 시정 측정을 위한 시정데이터를 추출하는 이미지프로세서; 및, 상기 적외선 발광체와 적외선 카메라가 동시에 수용되며, 대기가 자유롭게 유출입할 수 있도록 개구부가 형성된 함체;를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.또한, 본 발명의 시정방법은, (a)적외선 발광체에서 적외선을 대기로 방출시키는 단계; (b)적외선 카메라로 적외선 발광체에서 방출된 적외선을 감지하면서 대기를 촬영하여 영상데이터를 획득하는 단계; (c)획득한 영상데이터를 이미지프로세서로 전송하여 영상데이터로부터 적외선 양을 산출하는 단계; (d)상기 (a)단계 내지 (c)단계를 거쳐 맑은 날의 대기상태에 대한 적외선 양을 산출하여 기준데이터를 획득하는 단계; (e)상기 (a)단계 내지 (c)단계를 거쳐 측정하고자 하는 계측날의 대기상태에 대한 외선 양을 산출하여 계측데이터를 획득하는 단계; 그리고, (f)상기 적외선 발광체와 적외선 카메라 사이의 물리적인 거리와, 상기 기준데이터와 계측데이터의 차이와의 비율에 의해, 거리에 대한 적외선 양을 환산하여 예측데이터를 획득하는 단계;를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 한다.시정, 적외선, 이미지프로세싱
Int. CL G01J 1/52 (2006.01) G01J 1/42 (2006.01) G01N 21/00 (2006.01)
CPC G01N 21/00(2013.01) G01N 21/00(2013.01) G01N 21/00(2013.01) G01N 21/00(2013.01) G01N 21/00(2013.01) G01N 21/00(2013.01)
출원번호/일자 1020070054557 (2007.06.04)
출원인 한국건설기술연구원, 주식회사 래도, 한국전기교통 주식회사
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2008-0106744 (2008.12.09) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 거절
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2007.06.04)
심사청구항수 9

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 한국건설기술연구원 대한민국 경기도 고양시 일산서구
2 주식회사 래도 대한민국 경기도 안양시 동안구
3 한국전기교통 주식회사 대한민국 경기도 고양시 일산동구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 김종민 대한민국 경기 고양시 일산서구
2 이석기 대한민국 경기 고양시 덕양구
3 정준화 대한민국 서울 마포구
4 김철용 대한민국 경기 안양시 동안구
5 김도운 대한민국 경기 고양시 일산동구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 고영회 대한민국 서울특별시 서초구 서초중앙로 **, ****호(서초동, 서초신성미소시티)(성창특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2007.06.04 수리 (Accepted) 1-1-2007-0407717-41
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2007.12.10 수리 (Accepted) 4-1-2007-5186030-07
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2008.03.12 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2008.04.14 수리 (Accepted) 9-1-2008-0020569-57
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2008.05.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2008-0283010-97
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2008.07.28 수리 (Accepted) 1-1-2008-0542382-62
7 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2008.07.28 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2008-0542381-16
8 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2008.11.13 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2008-0575498-68
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2010.08.13 수리 (Accepted) 4-1-2010-5149851-45
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.04.09 수리 (Accepted) 4-1-2012-5074739-72
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.11.22 수리 (Accepted) 4-1-2012-5244537-44
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.01.17 수리 (Accepted) 4-1-2013-0000977-60
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.04.22 수리 (Accepted) 4-1-2014-5049765-42
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.08.21 수리 (Accepted) 4-1-2014-5100329-91
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.03.04 수리 (Accepted) 4-1-2015-5027756-61
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.08.13 수리 (Accepted) 4-1-2015-5108599-11
17 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2016.12.21 수리 (Accepted) 4-1-2016-0086445-90
18 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2016.12.22 수리 (Accepted) 4-1-2016-5191344-56
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
대기의 혼탁도를 측정하기 위한 시정계로서,대기 중에 노출되며, 적외선을 방출하는 적외선 발광체(10);상기 적외선 발광체(10)에서 방출된 적외선을 감지하면서 대기를 촬영하는 적외선 카메라(20);상기 적외선 카메라(20)로 촬영된 영상데이터를 전송받아 영상데이터로부터 시정 측정을 위한 시정데이터를 추출하는 이미지프로세서(30); 및,상기 적외선 발광체(10)와 적외선 카메라(20)가 동시에 수용되며, 대기가 자유롭게 유출입할 수 있도록 개구부(41)가 형성된 함체(40);를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 적외선 이미지프로세싱을 이용한 시정계
2 2
제1항에서,상기 함체(40) 내부의 한쪽에는 적외선 발광체(10)가 배치되며, 상기 함체 내부(40)의 반대쪽에는 상기 적외선 발광체(10)와 마주보도록 적외선 카메라(20)가 배치되는 것을 특징으로 하는 적외선 이미지프로세싱을 이용한 시정계
3 3
제1항에서,상기 함체(40) 내부 한쪽에는 적외선 발광체(10)와 적외선 카메라(20)가 나란히 배치되며, 상기 함체(40) 내부 반대쪽에는 상기 적외선 발광체(10) 및 적외선 카메라(20)와 마주보도록 거울(50)이 배치되는 것을 특징으로 하는 적외선 이미지프로세싱을 이용한 시정계
4 4
제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에서,상기 적외선 카메라(20) 또는 거울(50)에는 히터가 마련되는 것을 특징으로 하는 적외선 이미지프로세싱을 이용한 시정계
5 5
제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에서,상기 적외선 카메라(20) 또는 거울(50)에는 이물질제거장치가 마련되는 것을 특징으로 하는 적외선 이미지프로세싱을 이용한 시정계
6 6
제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에서,상기 이미지프로세서(30)는,촬영된 영상데이터를 수신하는 수신부;상기 영상데이터 속에서 촬영된 적외선 양을 산출하는 연산부; 및,상기 적외선 발광체(10)와 적외선 카메라(20) 사이의 물리적인 거리와, 상기 영상데이터로부터 산출된 적외선 양의 비율에 의해, 거리에 대한 적외선 양을 환산하는 데이터처리부;를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 적외선 이미지프로세싱을 이용한 시정계
7 7
제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에서,상기 적외선 발광체(10)는 점광원 형태로 다수개가 일정 간격으로 배치되어 기판(11)에 장착된 것임을 특징으로 하는 적외선 이미지프로세싱을 이용한 시정계
8 8
대기의 혼탁도를 측정하기 위한 시정방법으로서,(a)적외선 발광체(10)에서 적외선을 대기로 방출시키는 단계;(b)적외선 카메라(20)로 적외선 발광체(10)에서 방출된 적외선을 감지하면서 대기를 촬영하여 영상데이터를 획득하는 단계;(c)획득한 영상데이터를 이미지프로세서(30)로 전송하여 영상데이터로부터 적외선 양을 산출하는 단계;(d)상기 (a)단계 내지 (c)단계를 거쳐 맑은 날의 대기상태에 대한 적외선 양을 산출하여 기준데이터를 획득하는 단계;(e)상기 (a)단계 내지 (c)단계를 거쳐 측정하고자 하는 계측날의 대기상태에 대한 외선 양을 산출하여 계측데이터를 획득하는 단계; 그리고,(f)상기 적외선 발광체(10)와 적외선 카메라(20) 사이의 물리적인 거리와, 상기 기준데이터와 계측데이터의 차이와의 비율에 의해, 거리에 대한 적외선 양을 환산하여 예측데이터를 획득하는 단계;를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 적외선 이미지프로세싱을 이용한 시정방법
9 9
제8항에서,상기 (f)단계 후에,(g)상기 (f)단계에서 획득한 예측데이터를 거리에 따라 도시하여 출력하는 단계;가 더 포함되어 이루어진 것을 특징으로 하는 적외선 이미지프로세싱을 이용한 시정방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.