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반구조적 블록 저밀도 패리티 검사 부호 부호화/복호 장치및 방법

  • 기술번호 : KST2015169027
  • 담당센터 : 대구기술혁신센터
  • 전화번호 : 053-550-1450
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 정보어를 입력받고, 상기 정보어를 반구조적 블록 저밀도 패리티 검사(LDPC: Low Density Parity Check) 부호로 생성시 적용할 크기에 상응하게 제1패리티 검사 행렬 혹은 제2패리티 검사 행렬에 상응하게 부호화하여 상기 정보어와 제1패리티와, 제2패리티 및 제3패리티를 포함하는 부호어를 생성하고; 상기 정보어중 미리 설정한 차수 이상의 차수를 가지는 일부분을 천공한 후; 상기 일부분을 천공한 정보어와 상기 제1패리티와, 제2패리티 및 제3패리티를 포함하는 상기 반구조적 블록 LDPC 부호를 생성한다.반구조적 블록 LDPC 부호, 높은 차수(high degree), 최소 사이클, 패리티, 정보어, 모 패리티 검사 행렬, 자 패리티 검사 행렬
Int. CL H03M 13/11 (2006.01.01) H04L 27/18 (2006.01.01) H04L 1/00 (2006.01.01)
CPC
출원번호/일자 1020050052113 (2005.06.16)
출원인 삼성전자주식회사, 포항공과대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-0739510-0000 (2007.07.09)
공개번호/일자 10-2006-0048403 (2006.05.18) 문서열기
공고번호/일자 (20070713) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보 대한민국  |   1020040044733   |   2004.06.16
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2005.06.16)
심사청구항수 53

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 삼성전자주식회사 대한민국 경기도 수원시 영통구
2 포항공과대학교 산학협력단 대한민국 경상북도 포항시 남구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 경규범 대한민국 경기도 수원시 영통구
2 명세호 대한민국 경상북도 포항시 남구
3 양경철 대한민국 경상북도 포항시 남구
4 양현구 대한민국 경상북도 포항시 남구
5 박동식 대한민국 경기도 용인시
6 정홍실 대한민국 경기도 수원시 영통구
7 김재열 대한민국 경기도 군포시 산

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 이건주 대한민국 서울 종로구 명륜동*가 ***-* 미화빌딩 이건주특허법률사무소

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 포항공과대학교 산학협력단 대한민국 경상북도 포항시 남구
2 삼성전자주식회사 대한민국 경기도 수원시 영통구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2005.06.16 수리 (Accepted) 1-1-2005-0320050-65
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2005.07.15 수리 (Accepted) 4-1-2005-5072608-11
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2005.08.02 수리 (Accepted) 4-1-2005-5079334-14
4 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2006.07.10 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
5 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2006.08.11 수리 (Accepted) 9-1-2006-0051307-59
6 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2006.09.28 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2006-0570113-76
7 의견서
Written Opinion
2006.11.28 수리 (Accepted) 1-1-2006-0880578-73
8 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.
2006.11.28 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2006-0880577-27
9 출원인변경신고서
Applicant change Notification
2007.03.28 수리 (Accepted) 1-1-2007-5028110-42
10 등록결정서
Decision to grant
2007.04.30 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2007-0235483-64
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2007.12.28 수리 (Accepted) 4-1-2007-5195152-79
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2012.06.21 수리 (Accepted) 4-1-2012-5132663-40
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.06.13 수리 (Accepted) 4-1-2013-0025573-58
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.02.25 수리 (Accepted) 4-1-2014-5024386-11
15 출원인정보변경(경정)신고서
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2019.11.20 수리 (Accepted) 4-1-2019-5243581-27
16 출원인정보변경(경정)신고서
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2019.11.22 수리 (Accepted) 4-1-2019-5245997-53
17 출원인정보변경(경정)신고서
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2019.11.25 수리 (Accepted) 4-1-2019-5247115-68
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번호 청구항
1 1
반구조적 블록 저밀도 패리티 검사(LDPC: Low Density Parity Check) 부호를 부호화하는 방법에 있어서,정보어를 입력받는 과정과,상기 정보어를 반구조적 블록 LDPC 부호로 생성시 적용할 크기에 상응하게 제1패리티 검사 행렬 혹은 제2패리티 검사 행렬에 상응하게 부호화하여 상기 정보어와 제1패리티와, 제2패리티 및 제3패리티를 포함하는 부호어를 생성하는 과정과,상기 정보어중 미리 설정한 차수 이상의 차수를 가지는 일부분을 천공하는 과정과,상기 일부분을 천공한 정보어와 상기 제1패리티와, 제2패리티 및 제3패리티를 포함하는 상기 반구조적 블록 LDPC 부호를 생성하는 과정을 포함함을 특징으로 하는 상기 방법
2 2
제1항에 있어서, 상기 반구조적 블록 LDPC 부호를 미리 설정되어 있는 변조 방식으로 변조하여 변조 심벌로 생성하는 과정과,상기 변조 심벌을 송신하는 과정을 더 포함함을 특징으로 하는 상기 방법
3 3
제1항에 있어서,상기 제2패리티 검사 행렬은 상기 제1패리티 검사 행렬의 크기를 가변시킨 패리티 검사 행렬임을 특징으로 하는 상기 방법
4 4
제3항에 있어서,상기 제1패리티 검사 행렬은 미리 설정되어 있는 부호화율과, 상기 반구조적 블록 LDPC 부호의 크기가 미리 설정된 크기를 가지도록 생성된 패리티 검사 행렬임을 특징으로 하는 상기 방법
5 5
제4항에 있어서,상기 제1패리티 검사 행렬은 미리 설정된 개수의 부분 블록들을 포함하며, 상기 부분 블록들은 미리 결정된 크기를 가짐을 특징으로 하는 상기 방법
6 6
제5항에 있어서,상기 제2패리티 검사 행렬은 상기 제1패리티 검사 행렬의 부분 블록들의 크기를 가변시킨 패리티 검사 행렬임을 특징으로 하는 상기 방법
7 7
제6항에 있어서,상기 부분 블록들중 미리 설정된 부분 블록들 각각에는 미리 설정된 순열 행렬이 일대일 대응됨을 특징으로 하는 상기 방법
8 8
제7항에 있어서,상기 제2패리티 검사 행렬은 상기 제1패리티 검사 행렬의 상기 순열 행렬들의 지수와 상기 제2패리티 검사 행렬의 부분 블록들의 크기에 상응하게 상기 제2패리티 검사 행렬의 상기 순열 행렬들의 지수가 결정되어 생성된 행렬임을 특징으로 하는 상기 방법
9 9
제8항에 있어서, 상기 제2패리티 검사 행렬은 상기 제1패리티 검사 행렬의 상기 미리 설정된, L개의 순열 행렬들의 지수가 이고, 상기 제1패리티 검사 행렬의 부분 블록들의 크기가 (Ns)이고, 상기 제2패리티 검사 행렬의 순열 행렬들중 상기 L개의 순열 행렬들의 지수가 이고, 상기 제2패리티 검사 행렬의 부분 블록들의 크기가 (Ns')일 경우 하기 수학식 7의 관계를 가짐을 특징으로 하는 상기 방법
10 10
제9항에 있어서, 상기 정보어를 상기 부호어로 생성하는 과정은;상기 크기에 상응하게 상기 제1패리티 검사 행렬 혹은 제2패리티 검사 행렬을 사용할지를 결정하는 과정과,상기 결정된 패리티 검사 행렬의 상기 부분 블록들을 제1파트와 제2파트로 분류하는 과정과,상기 정보어를 상기 제1파트의 제1부분 행렬과 곱셈하여 제1신호로 생성하는 과정과,상기 정보어를 상기 제1파트의 제2부분 행렬과 곱셈하여 제2신호로 생성하는 과정과, 상기 제1신호와, 상기 제1파트의 제3부분 행렬과 제4부분 행렬의 역행렬의 행렬곱을 곱셈하여 제3신호로 생성하는 과정과,상기 제2신호와 제3신호를 가산하여 상기 제1패리티인 제4신호로 생성하는 과정과,상기 제4신호와 상기 제1파트의 제5부분 행렬을 곱셈하여 제5신호로 생성하는 과정과,상기 제2신호와 상기 제5신호를 가산하여 제6신호로 생성하는 과정과,상기 제6신호와 상기 제1파트의 제4부분 행렬의 역행렬의 행렬곱을 곱셈하여 상기 제2패리티로 생성하는 과정과, 상기 정보어를 상기 제2파트에 상응하게 부호화하여 상기 제3패리티로 생성하는 과정과,상기 정보어와, 상기 제1패리티와, 상기 제2패리티 및 제3패리티를 포함하는 상기 부호어를 생성하는 과정을 포함함을 특징으로 하는 상기 방법
11 11
제10항에 있어서,상기 제1부분 행렬 및 제2부분 행렬은 상기 결정된 패리티 검사 행렬에서 상기 정보어와 연관되는 정보 파트에 대응되는 부분 행렬들임을 특징으로 하는 상기 방법
12 12
제11항에 있어서,상기 제3부분 행렬과 제4부분 행렬은 패리티와 연관되는 제1패리티 파트에 대응되는 부분 행렬들이며, 상기 제5부분 행렬과 제6부분 행렬은 상기 패리티와 연관되는 제2패리티 파트에 대응되는 부분 행렬들임을 특징으로 하는 상기 방법
13 13
제12항에 있어서,상기 제1패리티 검사 행렬 혹은 상기 제2패리티 검사 행렬은 상기 정보어와 매핑되는 정보 파트와, 상기 정보어에 상응하는 제1패리티와, 제2패리티 및 제3패리티 각각과 매핑되는 제1패리티 파트와, 제2패리티 파트 및 제3패리티 파트를 포함하며, 상기 정보 파트는 상기 정보 파트로 분류된 부분 블록들중 팩터 그래프상의 상기 설정 차수 이상의 차수를 가지는 변수 노드들에 연결되는 정보어를 포함하는 부분 블록들을 포함하는 제3파트와, 상기 설정 차수 이상의 변수 노드들에 연결되지 않는 정보어를 포함하는 부분 블록들을 포함하는 제4파트를 포함하며, 상기 제2파트는 제5부분 행렬 및 제6부분 행렬을 포함함을 특징으로 하는 상기 방법
14 14
제13항에 있어서,상기 제5부분 행렬은 완전 하삼각 형태로 순열 행렬들이 배열된 행렬임을 특징으로 하는 상기 방법
15 15
제14항에 있어서,상기 완전 하삼각 형태로 배열된 순열 행렬들은 항등 행렬들임을 특징으로 하는 상기 방법
16 16
제15항에 있어서,상기 제3파트 및 제4파트로 분류된 부분 블록들중 미리 설정된 부분 블록들 각각에 상기 반구조적 블록 LDPC 부호의 팩터 그래프상의 최소 사이클 길이가 미리 설정된 길이가 되고, 웨이트가 불균등하도록 순열 행렬이 배열됨을 특징으로 하는 상기 방법
17 17
제16항에 있어서,상기 정보어를 반구조적 블록 LDPC 부호로 생성시 적용할 부호화율이 1/2이고, 상기 반구조적 블록 LDPC 부호의 크기가 24Ns이고, 정보어 크기가 12Ns일 경우 상기 제1패리티 검사 행렬은 하기 표 1과 같이 표현됨을 특징으로 하는 상기 방법
18 18
반구조적 블록 저밀도 패리티 검사(LDPC: Low Density Parity Check) 부호를 부호화하는 장치에 있어서,정보어를 반구조적 블록 LDPC 부호로 생성시 적용할 크기에 상응하게 제1패리티 검사 행렬 혹은 제2패리티 검사 행렬에 상응하게 부호화하여 상기 정보어와 제1패리티와, 제2패리티 및 제3패리티를 포함하는 부호어를 생성하고, 상기 정보어중 미리 설정한 차수 이상의 차수를 가지는 일부분을 천공한 후, 상기 일부분을 천공한 정보어와 상기 제1패리티와, 제2패리티 및 제3패리티를 포함하는 상기 반구조적 블록 LDPC 부호를 생성하는 반구조적 블록 LDPC 부호화기와,상기 반구조적 블록 LDPC 부호를 미리 설정되어 있는 변조 방식으로 변조하여 변조 심벌로 생성하는 변조기와,상기 변조 심벌을 송신하는 송신기 포함함을 특징으로 하는 상기 장치
19 19
제18항에 있어서,상기 제2패리티 검사 행렬은 상기 제1패리티 검사 행렬의 크기를 가변시킨 패리티 검사 행렬임을 특징으로 하는 상기 장치
20 20
제19항에 있어서,상기 제1패리티 검사 행렬은 미리 설정되어 있는 부호화율과, 상기 반구조적 블록 LDPC 부호의 크기가 미리 설정된 크기를 가지도록 생성된 패리티 검사 행렬임을 특징으로 하는 상기 장치
21 21
제20항에 있어서,상기 제1패리티 검사 행렬은 미리 설정된 개수의 부분 블록들을 포함하며, 상기 부분 블록들은 미리 결정된 크기를 가짐을 특징으로 하는 상기 장치
22 22
제21항에 있어서,상기 제2패리티 검사 행렬은 상기 제1패리티 검사 행렬의 부분 블록들의 크기를 가변시킨 패리티 검사 행렬임을 특징으로 하는 상기 장치
23 23
제22항에 있어서,상기 부분 블록들중 미리 설정된 부분 블록들 각각에는 미리 설정된 순열 행렬이 일대일 대응됨을 특징으로 하는 상기 장치
24 24
제23항에 있어서,상기 제2패리티 검사 행렬은 상기 제1패리티 검사 행렬의 상기 순열 행렬들의 지수와 상기 제2패리티 검사 행렬의 부분 블록들의 크기에 상응하게 상기 제2패리티 검사 행렬의 상기 순열 행렬들의 지수가 결정되어 생성된 행렬임을 특징으로 하는 상기 장치
25 25
제24항에 있어서, 상기 제2패리티 검사 행렬은 상기 제1패리티 검사 행렬의 상기 미리 설정된, L개의 순열 행렬들의 지수가 이고, 상기 제1패리티 검사 행렬의 부분 블록들의 크기가 (Ns)이고, 상기 제2패리티 검사 행렬의 순열 행렬들중 상기 L개의 순열 행렬들의 지수가 이고, 상기 제2패리티 검사 행렬의 부분 블록들의 크기가 (Ns')일 경우 하기 수학식 8의 관계를 가짐을 특징으로 하는 상기 장치
26 26
제25항에 있어서, 상기 반구조적 블록 LDPC 부호화기는;상기 크기에 상응하게 상기 제1패리티 검사 행렬 혹은 제2패리티 검사 행렬을 사용할지를 결정하고, 상기 정보어를 상기 부호화율에 상응하게 상기 설정 차수 이상의 차수를 가지는 일부분이 천공되도록 제어하는 제어기와,상기 정보어를 상기 결정된 패리티 검사 행렬의 상기 부분 블록들중 일부의 부분 블록들을 포함하는 제1파트의 제1부분 행렬과 곱셈하는 제1행렬 곱셈기와,상기 정보어를 상기 제1파트의 제2부분 행렬과 곱셈하는 제2행렬 곱셈기와,상기 제1행렬 곱셈기에서 출력한 신호와, 상기 제1파트의 제3부분 행렬과 제4부분 행렬의 역행렬의 행렬곱을 곱셈하는 제3행렬 곱셈기와,상기 제2행렬 곱셈기에서 출력한 신호와 제3행렬 곱셈기에서 출력한 신호를 가산하여 상기 제1패리티로 생성하는 제1가산기와,상기 제1가산기에서 출력한 신호와 상기 제1파트의 제5부분 행렬과 곱셈하는 제4행렬 곱셈기와, 상기 제2행렬 곱셈기에서 출력한 신호와 상기 제4행렬 곱셈기에서 출력한 신호를 가산하는 제2가산기와,상기 제2가산기에서 출력한 신호와 상기 제1파트의 제4부분 행렬의 역행렬의 행렬곱을 곱셈하여 제2패리티로 생성하는 제5행렬 곱셈기와,상기 정보어를 상기 결정된 패리티 검사 행렬에서 상기 제1파트의 부분 블록들을 제외한 부분 블록들을 포함하는 제2파트에 상응하게 부호화하여 상기 제3패리티로 생성하는 부호화기와, 상기 제어기의 제어에 따라 상기 정보어중 상기 설정 차수 이상의 차수를 가지는 일부분을 천공하는 천공기와,상기 일부분을 천공한 정보어와, 상기 제1패리티와, 상기 제2패리티 및 제3패리티를 상기 부호화율에 상응하게 스위칭하여 상기 반구조적 블록 LDPC 부호로 출력하는 스위치들을 포함함을 특징으로 하는 상기 장치
27 27
제26항에 있어서,상기 제1부분 행렬 및 제2부분 행렬은 상기 결정된 패리티 검사 행렬에서 상기 정보어와 연관되는 정보 파트에 대응되는 부분 행렬들임을 특징으로 하는 상기 장치
28 28
제27항에 있어서,상기 제3부분 행렬과 제4부분 행렬은 패리티와 연관되는 제1패리티 파트에 대응되는 부분 행렬들이며, 상기 제5부분 행렬과 제6부분 행렬은 상기 패리티와 연관되는 제2패리티 파트에 대응되는 부분 행렬들임을 특징으로 하는 상기 장치
29 29
제28항에 있어서,상기 제1패리티 검사 행렬 혹은 상기 제2패리티 검사 행렬은 상기 정보어와 매핑되는 정보 파트와, 상기 정보어에 상응하는 제1패리티와, 제2패리티 및 제3패리티 각각과 매핑되는 제1패리티 파트와, 제2패리티 파트 및 제3패리티 파트를 포함하며, 상기 정보 파트는 상기 정보 파트로 분류된 부분 블록들중 팩터 그래프상의 상기 설정 차수 이상의 차수를 가지는 변수 노드들에 연결되는 정보어를 포함하는 부분 블록들을 포함하는 제3파트와, 상기 설정 차수 이상의 변수 노드들에 연결되지 않는 정보어를 포함하는 부분 블록들을 포함하는 제4파트를 포함하며, 상기 제2파트는 제5부분 행렬 및 제6부분 행렬을 포함함을 특징으로 하는 상기 장치
30 30
제29항에 있어서,상기 제5부분 행렬은 완전 하삼각 형태로 순열 행렬들이 배열된 행렬임을 특징으로 하는 상기 장치
31 31
제30항에 있어서,상기 완전 하삼각 형태로 배열된 순열 행렬들은 항등 행렬들임을 특징으로 하는 상기 장치
32 32
제31항에 있어서,상기 제3파트 및 제4파트로 분류된 부분 블록들중 미리 설정된 부분 블록들 각각에 상기 반구조적 블록 LDPC 부호의 팩터 그래프상의 최소 사이클 길이가 미리 설정된 길이가 되고, 웨이트가 불균등하도록 순열 행렬이 배열됨을 특징으로 하는 상기 장치
33 33
제32항에 있어서,상기 정보어를 반구조적 블록 LDPC 부호로 생성시 적용할 부호화율이 1/2이고, 상기 반구조적 블록 LDPC 부호의 크기가 24Ns이고, 정보어 크기가 12Ns일 경우 상기 제1패리티 검사 행렬은 하기 표 2와 같이 표현됨을 특징으로 하는 상기 장치
34 34
반구조적 블록 저밀도 패리티 검사(LDPC: Low Density Parity Check) 부호를 복호하는 방법에 있어서,신호를 수신하고, 소정 제어에 따라 상기 수신 신호에 0을 삽입하는 과정과,복호할 반구조적 블록 LDPC 부호의 크기에 상응하게 제1패리티 검사 행렬 혹은 제2패리티 검사 행렬을 사용할지를 결정하고, 상기 결정된 패리티 검사 행렬에 상응하게 상기 0 삽입된 수신 신호를 복호하여 상기 반구조적 블록 LDPC 부호로 검출하는 과정을 포함함을 특징으로 하는 상기 방법
35 35
제34항에 있어서, 상기 제2패리티 검사 행렬은 상기 제1패리티 검사 행렬의 크기를 가변시킨 패리티 검사 행렬임을 특징으로 하는 상기 방법
36 36
제35항에 있어서,상기 제1패리티 검사 행렬은 미리 설정되어 있는 부호화율과, 상기 반구조적 블록 LDPC 부호의 크기가 미리 설정된 크기를 가지도록 생성된 패리티 검사 행렬임을 특징으로 하는 상기 방법
37 37
제36항에 있어서,상기 제1패리티 검사 행렬은 미리 설정된 개수의 부분 블록들을 포함하며, 상기 부분 블록들은 미리 결정된 크기를 가짐을 특징으로 하는 상기 방법
38 38
제37항에 있어서,상기 제2패리티 검사 행렬은 상기 제1패리티 검사 행렬의 부분 블록들의 크기를 가변시킨 패리티 검사 행렬임을 특징으로 하는 상기 방법
39 39
제38항에 있어서,상기 부분 블록들중 미리 설정된 부분 블록들 각각에는 미리 설정된 순열 행렬이 일대일 대응됨을 특징으로 하는 상기 방법
40 40
제39항에 있어서,상기 제2패리티 검사 행렬은 상기 제1패리티 검사 행렬의 상기 순열 행렬들의 지수와 상기 제2패리티 검사 행렬의 부분 블록들의 크기에 상응하게 상기 제2패리티 검사 행렬의 상기 순열 행렬들의 지수가 결정되어 생성된 행렬임을 특징으로 하는 상기 방법
41 41
제40항에 있어서, 상기 제2패리티 검사 행렬은 상기 제1패리티 검사 행렬의 상기 미리 설정된, L개의 순열 행렬들의 지수가 이고, 상기 제1패리티 검사 행렬의 부분 블록들의 크기가 (Ns)이고, 상기 제2패리티 검사 행렬의 순열 행렬들중 상기 L개의 순열 행렬들의 지수가 이고, 상기 제2패리티 검사 행렬의 부분 블록들의 크기가 (Ns')일 경우 하기 수학식 9의 관계를 가짐을 특징으로 하는 상기 방법
42 42
제41항에 있어서,상기 결정된 패리티 검사 행렬에 상응하게 상기 0 삽입된 수신 신호를 복호하여 상기 반구조적 블록 LDPC 부호로 검출하는 과정은;상기 결정된 패리티 검사 행렬에 상응하게 디인터리빙 방식 및 인터리빙 방식을 결정하는 과정과, 상기 0 삽입된 수신 신호의 확률값들을 검출하는 과정과,상기 0 삽입된 수신 신호의 확률값들에서 이전 복호시 생성된 신호를 감산하여 제1신호를 생성하는 과정과,상기 제1신호를 입력하여 상기 디인터리빙 방식으로 디인터리빙하는 과정과,상기 디인터리빙된 신호를 입력하여 확률값들을 검출하는 과정과,상기 디인터리빙된 신호의 확률값들에서 상기 디인터리빙된 신호를 감산하여 제2신호를 생성하는 과정과, 상기 제2신호를 상기 인터리빙 방식으로 인터리빙하고, 상기 인터리빙된 신호를 반복 복호하여 상기 반구조적 블록 LDPC 부호를 검출하는 과정을 포함함을 특징으로 하는 상기 방법
43 43
제42항에 있어서,상기 부호화율이 1/2이고, 상기 반구조적 블록 LDPC 부호의 크기가 24Ns이고, 상기 반구조적 블록 LDPC 부호의 정보어 크기가 12Ns일 경우 상기 제1패리티 검사 행렬은 하기 표 3과 같이 표현됨을 특징으로 하는 상기 방법
44 44
가변 길이를 가지는 블록 저밀도 패리티 검사(LDPC: Low Density Parity Check) 부호를 복호하는 장치에 있어서,신호를 수신하고, 소정 제어에 따라 상기 수신 신호에 0을 삽입하는 수신기와,복호할 반구조적 블록 LDPC 부호의 크기에 상응하게 제1패리티 검사 행렬 혹은 제2패리티 검사 행렬을 사용할지를 결정하고, 상기 결정된 패리티 검사 행렬에 상응하게 상기 0 삽입된 수신 신호를 복호하여 상기 반구조적 블록 LDPC 부호로 검출하는 복호기를 포함함을 특징으로 하는 상기 장치
45 45
제44항에 있어서, 상기 제2패리티 검사 행렬은 상기 제1패리티 검사 행렬의 크기를 가변시킨 패리티 검사 행렬임을 특징으로 하는 상기 장치
46 46
제45항에 있어서,상기 제1패리티 검사 행렬은 미리 설정되어 있는 부호화율과, 상기 반구조적 블록 LDPC 부호의 크기가 미리 설정된 크기를 가지도록 생성된 패리티 검사 행렬임을 특징으로 하는 상기 장치
47 47
제46항에 있어서,상기 제1패리티 검사 행렬은 미리 설정된 개수의 부분 블록들을 포함하며, 상기 부분 블록들은 미리 결정된 크기를 가짐을 특징으로 하는 상기 장치
48 48
제47항에 있어서,상기 제2패리티 검사 행렬은 상기 제1패리티 검사 행렬의 부분 블록들의 크기를 가변시킨 패리티 검사 행렬임을 특징으로 하는 상기 장치
49 49
제48항에 있어서,상기 부분 블록들중 미리 설정된 부분 블록들 각각에는 미리 설정된 순열 행렬이 일대일 대응됨을 특징으로 하는 상기 장치
50 50
제49항에 있어서,상기 제2패리티 검사 행렬은 상기 제1패리티 검사 행렬의 상기 순열 행렬들의 지수와 상기 제2패리티 검사 행렬의 부분 블록들의 크기에 상응하게 상기 제2패리티 검사 행렬의 상기 순열 행렬들의 지수가 결정되어 생성된 행렬임을 특징으로 하는 상기 장치
51 51
제50항에 있어서, 상기 제2패리티 검사 행렬은 상기 제1패리티 검사 행렬의 상기 미리 설정된, L개의 순열 행렬들의 지수가 이고, 상기 제1패리티 검사 행렬의 부분 블록들의 크기가 (Ns)이고, 상기 제2패리티 검사 행렬의 순열 행렬들중 상기 L개의 순열 행렬들의 지수가 이고, 상기 제2패리티 검사 행렬의 부분 블록들의 크기가 (Ns')일 경우 하기 수학식 10의 관계를 가짐을 특징으로 하는 상기 장치
52 52
제51항에 있어서,상기 복호기는;상기 복호할 반구조적 블록 LDPC 부호의 크기에 상응하게 제1패리티 검사 행렬 혹은 제2패리티 검사 행렬을 사용할지를 결정하고, 상기 디인터리빙 방식 및 인터리빙 방식을 상기 결정된 패리티 검사 행렬에 상응하게 제어하는 제어기와,상기 결정된 패리티 검사 행렬을 구성하는 열들 각각의 웨이트에 상응하게 변수 노드들을 연결하여 수신 신호의 확률값들을 검출하여 출력하는 변수 노드 복호기와,상기 변수 노드 복호기에서 출력한 신호에서 이전 복호시 생성된 신호를 감산하여 출력하는 제1가산기와,상기 제1가산기에서 출력한 신호를 입력하여 상기 결정된 패리티 검사 행렬에 상응하게 설정된 디인터리빙 방식으로 디인터리빙하여 출력하는 디인터리버와, 상기 결정된 패리티 검사 행렬을 구성하는 행들 각각의 웨이트에 상응하게 검사 노드들을 연결하여 상기 디인터리버에서 출력한 신호의 확률값들을 검출하여 출력하는 검사 노드 복호기와,상기 검사 노드 복호기에서 출력한 신호에서 상기 디인터리버에서 출력한 신호를 감산하는 제2가산기와,상기 제2가산기에서 출력한 신호를 상기 결정된 패리티 검사 행렬에 상응하게 설정된 인터리빙 방식으로 인터리빙하여 상기 변수 노드 복호기 및 상기 제1가산기로 출력하는 인터리버를 포함함을 특징으로 하는 상기 장치
53 53
제52항에 있어서,상기 부호화율이 1/2이고, 상기 반구조적 블록 LDPC 부호의 크기가 24Ns이고, 상기 반구조적 블록 LDPC 부호의 정보어 크기가 12Ns일 경우 상기 제1패리티 검사 행렬은 하기 표 4와 같이 표현됨을 특징으로 하는 상기 장치
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