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오믹 전극 및 이의 형성 방법

  • 기술번호 : KST2015169034
  • 담당센터 : 대구기술혁신센터
  • 전화번호 : 053-550-1450
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 발광 구조의 반도체층 상에 형성되며, 일부 입자가 상기 반도체층으로 내부 확산 되면서 금속화 반응을 일으켜 형성된 계면을 갖는 Ag 합금으로 이루어진 반사층과, 상기 반사층 상에 형성되어 상기 반사층의 외부 확산을 억제하는 보호층을 포함하는 오믹 전극 및 이의 형성 방법을 제공한다.이와 같은, 본 발명은 열처리시 Ag 입자의 일부가 반도체층과의 계면에서 금속 반응을 일으키므로 강한 접착력 및 낮은 접촉 저항을 갖는다. 또한, 열처리시 보호층이 Ag 입자의 과다한 외부 확산을 억제하므로, Ag 금속의 높은 광 반사도 특성이 그대로 유지되고 동시에 우수한 열적 안정성을 갖는다.오믹 전극, LED, 발광 소자, p형 전극, 반사막, Ag, Al.
Int. CL H01L 33/10 (2014.01) H01L 33/36 (2014.01)
CPC H01L 33/36(2013.01) H01L 33/36(2013.01) H01L 33/36(2013.01) H01L 33/36(2013.01)
출원번호/일자 1020070062468 (2007.06.25)
출원인 포항공과대학교 산학협력단, 서울바이오시스 주식회사
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2008-0065219 (2008.07.11) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보 대한민국  |   1020070002085   |   2007.01.08
법적상태 거절
심사진행상태 수리
심판사항 심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2007.06.25)
심사청구항수 11

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 포항공과대학교 산학협력단 대한민국 경상북도 포항시 남구
2 서울바이오시스 주식회사 대한민국 경기도 안산시 단원구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이종람 대한민국 경상북도 포항시 남구
2 손준호 대한민국 경북 경산시

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 남승희 대한민국 서울특별시 강남구 역삼로 ***, *층(역삼동, 청보빌딩)(아인특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2007.06.25 수리 (Accepted) 1-1-2007-0461013-73
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2007.12.28 수리 (Accepted) 4-1-2007-5195152-79
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2008.04.07 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2008.05.14 수리 (Accepted) 9-1-2008-0028576-53
5 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2008.06.12 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2008-0317784-37
6 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2008.08.12 수리 (Accepted) 1-1-2008-0575712-09
7 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2008.08.12 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2008-0575710-18
8 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2008.12.08 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2008-0618289-75
9 명세서 등 보정서(심사전치)
Amendment to Description, etc(Reexamination)
2009.02.06 보정각하 (Rejection of amendment) 7-1-2009-0005538-11
10 심사전치출원의 심사결과통지서
Notice of Result of Reexamination
2009.02.20 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2009-0078318-24
11 보정각하결정서
Decision of Rejection for Amendment
2009.02.20 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2009-0078317-89
12 심사관의견요청서
Request for Opinion of Examiner
2009.03.24 수리 (Accepted) 7-8-2009-0010056-42
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.06.13 수리 (Accepted) 4-1-2013-0025573-58
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.09.17 수리 (Accepted) 4-1-2013-5126387-92
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.02.25 수리 (Accepted) 4-1-2014-5024386-11
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.07.25 수리 (Accepted) 4-1-2014-5089977-41
17 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.09.17 수리 (Accepted) 4-1-2014-5110518-03
18 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.11.20 수리 (Accepted) 4-1-2019-5243581-27
19 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.11.22 수리 (Accepted) 4-1-2019-5245997-53
20 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.11.25 수리 (Accepted) 4-1-2019-5247115-68
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
발광 구조의 반도체층 상에 형성되는 오믹 전극에 있어서,일부 입자가 상기 반도체층으로 내부 확산 되면서 금속화 반응을 일으켜 형성된 계면을 갖는 Ag 합금으로 이루어진 반사층과,상기 반사층 상에 형성되어 상기 반사층의 외부 확산을 억제하는 보호층을 포함하는 오믹 전극
2 2
청구항 1에 있어서,상기 Ag 합금은 Ag와, Cu, Al, Ir, In, Ni, Mg, Pt 및 Pd 중 적어도 하나를 포함하는 합금 성분으로 형성되는 오믹 전극
3 3
청구항 2에 있어서,상기 Ag 합금은 합금 성분이 0
4 4
청구항 1에 있어서,상기 보호층은 Ru, Ir, Rh, Pt, W, Ta, Ti 및 Co 중 적어도 하나의 물질로 형성되는 오믹 전극
5 5
청구항 1에 있어서,상기 반사층의 두께는 50 내지 5000Å, 상기 보호층의 두께는 50 내지 1000Å로 형성되는 오믹 전극
6 6
청구항 5에 있어서,상기 반사층 및 상기 보호층의 전체 두께는 100 내지 5000Å로 형성되는 오믹 전극
7 7
발광 구조의 반도체층 상에 형성되는 오믹 전극의 형성 방법에 있어서,상기 반도체층 상에 Ag 합금으로 이루어진 반사층을 형성하는 단계;상기 반사층 상에 Ag 입자의 외부 확산을 억제하기 위한 보호층을 형성하는 단계;상기 보호층에 의해 Ag 입자의 외부 확산이 억제됨과 동시에 내부 확산된 Ag 입자의 일부가 상기 반도체층과 상기 반사층의 계면에서 금속 반응을 일으키도록 상기 반사층 및 상기 보호층을 열처리하는 단계; 를 포함하는 오믹 전극의 형성 방법
8 8
청구항 7에 있어서,상기 Ag 합금은 Ag와, Cu, Al, Ir, In, Ni, Mg, Pt 및 Pd 중 적어도 하나를 포함하는 합금 성분으로 형성되는 오믹 전극의 형성 방법
9 9
청구항 8에 있어서,상기 Ag 합금은 합금 성분이 0
10 10
청구항 7에 있어서,상기 보호층은 Ru, Ir, Rh, Pt, W, Ta, Ti 및 Co 중 적어도 하나의 금속으로 형성하는 오믹 전극의 형성 방법
11 11
청구항 7에 있어서,상기 열처리 공정은 150 내지 600도의 온도에서 실시하는 오믹 전극의 형성 방법
12 12
청구항 11에 있어서,상기 열처리 공정은 산소를 포함하는 분위기에서 실시하는 오믹 전극의 형성 방법
13 13
청구항 12에 있어서,상기 산소를 포함하는 분위기는 산소 분위기, 대기 분위기, 산소와 질소의 혼합 분위기 및 산소와 아르곤의 혼합 분위기 중 적어도 하나를 포함하는 오믹 전극의 형성 방법
지정국 정보가 없습니다
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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 WO2008084950 WO 세계지적재산권기구(WIPO) FAMILY

DOCDB 패밀리 정보

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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
DOCDB 패밀리 정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.