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오믹 전극 형성 방법 및 반도체 발광 소자

  • 기술번호 : KST2015169052
  • 담당센터 : 대구기술혁신센터
  • 전화번호 : 053-550-1450
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 오믹 전극 형성 방법 및 반도체 발광 소자에 관한 것으로, 기판 상에 질화물계 반도체층을 형성하는 단계와, 상기 반도체층 상에 접합층, 반사층 및 보호층을 순차로 적층하는 단계와, 열처리 공정을 실시하여 상기 접합층과 반사층 사이에 오믹 접합을 형성하고 상기 보호층에 산화막을 형성하여 오믹 전극을 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.이와 같은 본 발명은, 반사층으로 광 반사도 특성이 우수한 Ag, Al 및 이들의 합금을 사용하므로 광 이용률을 증대시킬 수 있고, 반사층의 하부에 형성된 접합층은 접촉저항을 감소시켜 고출력을 위한 대전류 인가를 가능하게 한다. 또한, 반사층의 상부에 형성된 보호층은 반사층의 외부 확산을 방지하여 열적 안정성을 증대시킬 수 있다.또한, 기존의 Au나 Pt같은 값비싼 금속을 이용하지 않으므로 제조원가를 절감시킬 수 있다.오믹 전극, LED, 발광 소자, p형 전극, 반사막
Int. CL H01L 33/36 (2010.01.01) H01L 33/40 (2010.01.01)
CPC
출원번호/일자 1020060035088 (2006.04.18)
출원인 포항공과대학교 산학협력단, 서울바이오시스 주식회사
등록번호/일자 10-0725610-0000 (2007.05.30)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20070608) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2006.04.18)
심사청구항수 15

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 포항공과대학교 산학협력단 대한민국 경상북도 포항시 남구
2 서울바이오시스 주식회사 대한민국 경기도 안산시 단원구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이종람 대한민국 경북 포항시 남구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 남승희 대한민국 서울특별시 강남구 역삼로 ***, *층(역삼동, 청보빌딩)(아인특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 포항공과대학교 산학협력단 대한민국 경상북도 포항시 남구
2 서울바이오시스 주식회사 대한민국 경기도 안산시 단원구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2006.04.18 수리 (Accepted) 1-1-2006-0269505-30
2 출원인변경신고서
Applicant change Notification
2007.04.03 수리 (Accepted) 1-1-2007-0258998-02
3 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2007.04.09 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
4 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2007.05.10 수리 (Accepted) 9-1-2007-0026651-09
5 등록결정서
Decision to grant
2007.05.23 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2007-0280117-13
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2007.12.28 수리 (Accepted) 4-1-2007-5195152-79
7 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.06.13 수리 (Accepted) 4-1-2013-0025573-58
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.09.17 수리 (Accepted) 4-1-2013-5126387-92
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.02.25 수리 (Accepted) 4-1-2014-5024386-11
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.07.25 수리 (Accepted) 4-1-2014-5089977-41
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.09.17 수리 (Accepted) 4-1-2014-5110518-03
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.11.20 수리 (Accepted) 4-1-2019-5243581-27
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.11.22 수리 (Accepted) 4-1-2019-5245997-53
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.11.25 수리 (Accepted) 4-1-2019-5247115-68
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번호 청구항
1 1
질화물계 반도체 발광 소자의 오믹 전극 형성 방법에 있어서기판 상에 질화물계 반도체층을 형성하는 단계와;상기 반도체층 상에 접합층, 반사층 및 보호층을 순차로 적층하는 단계와;열처리 공정을 실시하여 상기 접합층과 반사층 사이에 오믹 접합을 형성하고 상기 보호층에 산화막을 형성하여 오믹 전극을 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 오믹 전극 형성 방법
2 2
청구항 1 있어서,상기 접합층은 Ni, Pt, Pd, Ir, Ru, Mo, Rh, Os, Re, W, Ta, Tl, Hf, Cr, Co, Nb, Pb 및 이들의 합금 중 적어도 어느 하나를 사용하는 것을 특징으로 하는 오믹 전극 형성 방법
3 3
청구항 1에 있어서,상기 접합층은 Cu, In, Mg, Zn, Sb, Sn, Li, Be, B, Al, Ca, Sr, Ba 및 이들의 합금 중 적어도 어느 하나를 사용하는 것을 특징으로 하는 오믹 전극 형성 방법
4 4
청구항 1에 있어서,상기 반사층은 Ag, Al 및 이들의 합금 중 적어도 어느 하나를 사용하는 것을 특징으로 하는 오믹 전극 형성 방법
5 5
청구항 1에 있어서,상기 보호층은 Mg 또는 Mg와 Al, Ag, Zr, Zn, Y, U, Tl, Ti, Sn, Si, Sc, Sb, Pu, Pb, Pr, Ni, Na, Mn 중에서 선택되는 어느 하나의 물질로 형성된 합금을 사용하는 것을 특징으로 하는 오믹 전극 형성 방법
6 6
청구항 1에 있어서,상기 열처리 공정은 200 내지 500도의 온도에서 30분 이내로 실시하는 것을 특징으로 하는 오믹 전극 형성 방법
7 7
청구항 6에 있어서,상기 열처리 공정은 산소를 포함하는 분위기에서 실시하는 것을 특징으로 하는 오믹 전극 형성 방법
8 8
청구항 7에 있어서,상기 산소를 포함하는 분위기는 산소 분위기, 산소와 질소의 혼합 분위기 및 산소와 아르곤의 혼합 분위기 중 어느 하나의 분위기인 것을 특징으로 하는 오믹 전극 형성 방법
9 9
청구항 7에 있어서,상기 산소를 포함하는 분위기의 압력은 대기압 이하인 것을 특징으로 하는 오믹 전극 형성 방법
10 10
질화물계 반도체 발광 소자에 있어서,질화물계 반도체층과,상기 반도체층 상에 순차로 적층된 접합층, 반사층 및 보호층을 포함하는 오믹 전극을 포함하며,상기 접합층과 상기 반사층은 오믹 접합을 형성하며 상기 보호층은 산화막을 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 발광 소자
11 11
청구항 10에 있어서,상기 반도체층은 순차로 적층된 n형층, 활성층, p형층을 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 발광 소자
12 12
청구항 10에 있어서,상기 접합층은 Ni, Pt, Pd, Ir, Ru, Mo, Rh, Os, Re, W, Ta, Tl, Hf, Cr, Co, Nb, Pb 및 이들의 합금 중 적어도 어느 하나를 사용하는 것을 특징으로 하는 반도체 발광 소자
13 13
청구항 10에 있어서,상기 접합층은 Cu, In, Mg, Zn, Sb, Sn, Li, Be, B, Al, Ca, Sr, Ba 및 이들의 합금 중 적어도 어느 하나를 사용하는 것을 특징으로 하는 반도체 발광 소자
14 14
청구항 10에 있어서,상기 반사층은 Ag, Al 및 이들의 합금 중 적어도 어느 하나를 사용하는 것을 특징으로 하는 반도체 발광 소자
15 15
청구항 10에 있어서,상기 보호층은 Mg 또는 Mg와 Al, Ag, Zr, Zn, Y, U, Tl, Ti, Sn, Si, Sc, Sb, Pu, Pb, Pr, Ni, Na, Mn 중에서 선택되는 어느 하나의 물질로 형성된 합금을 사용하는 것을 특징으로 하는 반도체 발광 소자
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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 JP05358429 JP 일본 FAMILY
2 JP21534830 JP 일본 FAMILY
3 US08263997 US 미국 FAMILY
4 US08921885 US 미국 FAMILY
5 US20090134418 US 미국 FAMILY
6 US20110210363 US 미국 FAMILY
7 WO2007120016 WO 세계지적재산권기구(WIPO) FAMILY

DOCDB 패밀리 정보

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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 JP2009534830 JP 일본 DOCDBFAMILY
2 JP2009534830 JP 일본 DOCDBFAMILY
3 JP2009534830 JP 일본 DOCDBFAMILY
4 JP5358429 JP 일본 DOCDBFAMILY
5 US2009134418 US 미국 DOCDBFAMILY
6 US2011210363 US 미국 DOCDBFAMILY
7 US8263997 US 미국 DOCDBFAMILY
8 US8921885 US 미국 DOCDBFAMILY
9 WO2007120016 WO 세계지적재산권기구(WIPO) DOCDBFAMILY
국가 R&D 정보가 없습니다.