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발광 다이오드 및 그 제조방법

  • 기술번호 : KST2015169148
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요약 본 발명은 발광 다이오드에 관한 것으로서, 특히 제 1 또는 제 2 도전층 상에 다수의 회절 홈을 형성하여 광결정층을 마련하고, 빛의 공진 공동을 제공하는 범위 내에서 제 1 도전층과 제 2 도전층의 두께를 최대한 얇게 설계하여 적용함으로써 마이크로 공진기를 형성하여 광추출효율이 극대화된 발광 다이오드 및 그 제조 방법에 관한 것이다. 이러한 본 발명은, 서브마운트 기판; 상기 서브마운트 기판 상에 형성되며 반사 특성을 갖는 제 1 전극; 상기 제 1 전극 상에 형성된 제 1 도전층; 상기 제 1 도전층 상에 형성된 활성층; 상기 활성층 상에 형성되며, 상부에 다수의 회절 홈으로 구성된 광결정층이 형성된 제 2 도전층; 상기 제 2 도전층 상에 형성된 제 2 전극; 에 의해 달성되며, 상기 제 1 도전층, 제 2 도전층과 활성층은 발광되는 빛의 공진 공동을 제공하는 두께를 가진다. 여기서, 상기 제 1 도전층과 제 2 도전층과 활성층의 각 두께 및, 회절홈의 주기, 폭, 깊이는 마이크로 공진기 효과와 광결정 효과의 상호작용을 고려하여 광추출효율이 극대화 되도록 형성된다.발광 다이오드, 광추출효율, 광결정, 마이크로 공진기
Int. CL H01L 33/22 (2010.01)
CPC H01L 33/22(2013.01) H01L 33/22(2013.01) H01L 33/22(2013.01) H01L 33/22(2013.01) H01L 33/22(2013.01)
출원번호/일자 1020070139290 (2007.12.27)
출원인 엘지디스플레이 주식회사, 포항공과대학교 산학협력단
등록번호/일자 10-1426288-0000 (2014.07.29)
공개번호/일자 10-2009-0071088 (2009.07.01) 문서열기
공고번호/일자 (20140806) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2012.12.27)
심사청구항수 8

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 엘지디스플레이 주식회사 대한민국 서울특별시 영등포구
2 포항공과대학교 산학협력단 대한민국 경상북도 포항시 남구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 한해욱 대한민국 경상북도 포항시 남구
2 조민수 대한민국 경북 포항시 남구
3 문기원 대한민국 경북 포항시 남구
4 윤지수 대한민국 서울특별시 광진구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 박장원 대한민국 서울특별시 강남구 강남대로 ***, *층~*층 (논현동, 비너스빌딩)(박장원특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 엘지디스플레이 주식회사 서울특별시 영등포구
2 포항공과대학교 산학협력단 경상북도 포항시 남구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2007.12.27 수리 (Accepted) 1-1-2007-0940509-64
2 [출원인변경]권리관계변경신고서
[Change of Applicant] Report on Change of Proprietary Status
2008.02.28 수리 (Accepted) 1-1-2008-0149063-49
3 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2008.04.18 수리 (Accepted) 4-1-2008-5061241-15
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2010.12.21 수리 (Accepted) 4-1-2010-5241074-12
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2011.10.04 수리 (Accepted) 4-1-2011-5199065-15
6 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2011.12.29 수리 (Accepted) 4-1-2011-5262372-95
7 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2012.12.27 수리 (Accepted) 1-1-2012-1085684-54
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.06.13 수리 (Accepted) 4-1-2013-0025573-58
9 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2013.10.07 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
10 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2013.11.14 수리 (Accepted) 9-1-2013-0096650-24
11 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2013.12.23 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2013-0887761-18
12 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2014.02.24 수리 (Accepted) 1-1-2014-0180324-30
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.02.25 수리 (Accepted) 4-1-2014-5024386-11
14 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2014.03.24 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2014-0281651-46
15 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2014.03.24 수리 (Accepted) 1-1-2014-0281637-17
16 등록결정서
Decision to grant
2014.07.23 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0500178-24
17 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.11.20 수리 (Accepted) 4-1-2019-5243581-27
18 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.11.22 수리 (Accepted) 4-1-2019-5245997-53
19 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.11.25 수리 (Accepted) 4-1-2019-5247115-68
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
서브마운트 기판;상기 서브마운트 기판 상에 형성되며 반사 특성을 갖는 제 1 전극;상기 제 1 전극 상에 형성된 제 1 도전층;상기 제 1 도전층 상에 형성된 활성층;상기 활성층 상에 형성되며, 상부에 다수의 회절 홈으로 구성된 광결정층이 형성된 제 2 도전층;상기 제 2 도전층 상에 형성된 제 2 전극;을 포함하여 구성되며,상기 제 1 도전층,제 2 도전층, 활성층은 발광되는 빛의 공진 공동을 제공하는 두께를 가지며, 상기 제 1 도전층의 두께(d1), 제 2 도전층의 두께(d2), 활성층의 두께(d3)는 수학식(1)를 만족하며, (여기서, Φ1은 상기 제 1 전극의 반사율에 의한 위상변화이고, Φ2는 상기 광결정층의 반사에 의한 위상변화이며, λ는 상기 활성층에서 발생하는 빛의 파장이며, η는 발광 다이오드의 굴절률이며, r은 0 보다 크고 1 보다 작거나 1과 같은 범위 내에서 설정된 매개변수이고, m은 정수(0, ±1, ±2, ±3,
2 2
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3 3
삭제
4 4
삭제
5 5
제 1 항에 있어서, 상기 제 1 도전층은 p형 반도체 또는 n형 반도체 중 어느 하나이며, 상기 제 2 도전층은 p형 반도체 또는 n형 반도체 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 발광 다이오드
6 6
제 5 항에 있어서, 상기 제 1 및 제 2 도전층은 GaN을 포함하는 것을 특징으로 하는 발광 다이오드
7 7
제 1 항에 있어서, 상기 제 1 전극은 은(Ag), 알루미늄(Al) 및 그 합금 중 어느 하나로 이루어진 것을 특징으로 하는 발광 다이오드
8 8
발광 다이오드 성장용 기판을 준비하는 단계;상기 발광 다이오드 성장용 기판 상에 제 1 도전층, 활성층, 제 2 도전층을 순차적으로 형성하되, 상기 활성층과 제 2 도전층은 발광되는 빛의 공진 공동을 제공하는 두께를 갖도록 형성하는 단계;상기 제 2 도전층 상에 반사 특성을 갖는 제 2 전극을 형성하는 단계;상기 발광 다이오드 성장용 기판을 제거하고, 상기 제 2 전극의 하부에 서브마운트 기판을 형성하는 단계;발광되는 빛의 공진 공동을 제공하는 두께가 되도록 제 1 도전층을 식각하는 단계;상기 제 1 도전층의 상부에 다수의 회절 홈으로 구성된 광결정층을 형성하는 단계;상기 제 1 도전층의 상부에 제 1 전극을 형성하는 단계;를 포함하여 이루어지며, 상기 제 1 도전층의 두께(d1), 제 2 도전층의 두께(d2), 활성층의 두께(d3)는 수학식(1)를 만족하며, (여기서, Φ1은 상기 제 1 전극의 반사율에 의한 위상변화이고, Φ2는 상기 광결정층의 반사에 의한 위상변화이며, λ는 상기 활성층에서 발생하는 빛의 파장이며, η는 발광 다이오드의 굴절률이며, r은 0 보다 크고 1 보다 작거나 1과 같은 범위 내에서 설정된 매개변수이고, m은 정수(0, ±1, ±2, ±3,
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10 10
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제 8 항에 있어서, 상기 제 1 도전층은 p형 반도체 또는 n형 반도체 중 어느 하나이며, 상기 제 2 도전층은 p형 반도체 또는 n형 반도체 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 발광 다이오드의 제조방법
13 13
제 12 항에 있어서, 상기 제 1 및 제 2 도전층은 GaN을 포함하는 것을 특징으로 하는 발광 다이오드의 제조방법
14 14
제 8 항에 있어서, 상기 제 2 전극은 은(Ag), 알루미늄(Al) 및 그 합금 중 어느 하나로 형성되는 것을 특징으로 하는 발광 다이오드의 제조 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.