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마이크로캔틸리버를 이용한 고분자 측정방법

  • 기술번호 : KST2015169149
  • 담당센터 : 대구기술혁신센터
  • 전화번호 : 053-550-1450
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 마이크로 캔틸리버를 이용하여 고분자물질의 상변이를 측정하는 장치로서, 보다 상세하게는 다양한 고분자물질을 캔틸리버에 코팅하고 온도에 따른 캔틸리버의 휨변화를 측정하여 고분자물질의 상변이를 측정하는 것이다. 마이크로캔틸레버 어레이를 이용한 고분자 상변이 측정장치는 한번에 다양한 고분자시료의 상변이를 나노그램단위의 적은 양으로도 매우 민감하게 측정할 수 있고 소형화가 용이하다. 매우 민감한 표면스트레스 센서인 마이크로캔틸레버를 이용한 고분자 상변이 측정장치는 일반적인 상변이 측정장치로는 측정할 수 없는 새로운 물리적 변화를 관찰할 수 있을 것으로 기대된다. 마이크로캔티리버, 고분자 상변이
Int. CL B82Y 35/00 (2011.01) G01N 25/02 (2011.01) G01N 25/00 (2011.01)
CPC G01N 25/12(2013.01) G01N 25/12(2013.01) G01N 25/12(2013.01)
출원번호/일자 1020080032892 (2008.04.08)
출원인 포항공과대학교 산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2009-0107390 (2009.10.13) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 거절
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2008.04.08)
심사청구항수 24

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 포항공과대학교 산학협력단 대한민국 경상북도 포항시 남구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 전상민 대한민국 경북 포항시 남구
2 정남철 대한민국 경북 포항시 남구
3 서혜정 대한민국 경북 포항시 남구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 박상훈 대한민국 서울특별시 영등포구 선유로 *길 **, **층 ****호 (문래동*가, 문래 sk v*센터)(새생명특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호, 서류명, 접수/발송일자, 처리상태, 접수/발송일자의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 행정처리 표입니다.
번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2008.04.08 수리 (Accepted) 1-1-2008-0254351-24
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2009.06.09 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2009.07.14 수리 (Accepted) 9-1-2009-0041072-49
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2010.01.18 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2010-0021342-10
5 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2010.03.18 수리 (Accepted) 1-1-2010-0171874-70
6 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2010.04.19 수리 (Accepted) 1-1-2010-0248281-99
7 보정요구서
Request for Amendment
2010.04.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2010-0037904-35
8 [출원서등 보정]보정서(납부자번호)
[Amendment to Patent Application, etc.] Amendment(Payer number)
2010.05.18 수리 (Accepted) 1-1-2010-0271339-88
9 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2010.05.18 수리 (Accepted) 1-1-2010-0319471-11
10 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2010.06.18 수리 (Accepted) 1-1-2010-0392094-46
11 지정기간연장관련안내서
Notification for Extension of Designated Period
2010.06.18 발송처리완료 (Completion of Transmission) 1-5-2010-0054359-05
12 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2010.07.19 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2010-0465653-59
13 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2010.07.19 수리 (Accepted) 1-1-2010-0465646-39
14 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2010.11.19 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2010-0526767-66
15 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2011.01.18 수리 (Accepted) 1-1-2011-0040764-52
16 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2011.02.21 수리 (Accepted) 1-1-2011-0122676-33
17 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2011.03.21 수리 (Accepted) 1-1-2011-0205905-74
18 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2011.03.21 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2011-0205748-02
19 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2011.09.22 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2011-0540414-28
20 [법정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Extension of Legal Period] Request for Extension of Period (Reduction, Expiry Reconsideration)
2011.10.24 수리 (Accepted) 7-1-2011-0039676-03
21 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.06.13 수리 (Accepted) 4-1-2013-0025573-58
22 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.02.25 수리 (Accepted) 4-1-2014-5024386-11
23 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.11.20 수리 (Accepted) 4-1-2019-5243581-27
24 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.11.22 수리 (Accepted) 4-1-2019-5245997-53
25 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.11.25 수리 (Accepted) 4-1-2019-5247115-68
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
마이크로캔틸리버에 고분자를 적층하고 온도를 변화시키면서 온도에 따른 굴곡특성을 측정하는 것을 특징으로 하는 유리전이온도 측정 방법
2 2
제1항에 있어서, 상기 고분자는 마이크로캔틸리버의 일면에 코팅되는 것을 특징으로 하는 유리전이온도 측정 방법
3 3
제1항에 있어서, 상기 굴곡특성은 마이크로캔틸리버의 휨 변화인 것을 특징으로 하는 유리전이온도 측정 방법
4 4
제3항에 있어서, 상기 휨 변화는 광학적 수단, 전기적 수단 또는 이들의 결합을 통해서 측정되는 것을 특징으로 하는 유리전이온도 측정방법
5 5
제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 마이크로캔틸리버의 두께는 약 0
6 6
제1항에 있어서, 상기 온도 변화속도를 조절하여 가열속도에 따른 유리전이온도 변화를 측정하는 것을 특징으로 하는 유리전이온도 측정방법
7 7
제4항에 있어서, 상기 광학적 수단은 레이저 장치인 것을 특징으로 하는 유리전이온도 측정방법
8 8
제4항에 있어서, 상기 전기적 수단은 압전효과를 이용하는 것을 특징으로 하는 유리전이온도 측정방법
9 9
제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 온도의 변화는 가열, 냉각, 또는 이들의 결합인 것을 특징으로 하는 유리전이온도 측정방법
10 10
제1항 또는 제2항에 있어서, 유리전이온도는 가열곡선에서 휨기울기의 변화를 이용해서 측정되는 것을 특징으로 하는 유리전이온도 측정방법
11 11
표면에 고분자가 적층된 하나 이상의 마이크로캔틸리버; 상기 마이크로캔틸리버의 온도조절장치; 및 마이크로캔티릴버의 굴곡특성 측정장치 를 포함하는 고분자 유리전이온도 측정장치
12 12
제11항에 있어서, 상기 고분자는 마이크로캔틸리버의 상면에 적층되는 것을 특징으로 하는 고분자 유리전이온도 측정장치
13 13
제11항에 있어서, 상기 온도조절장치는 승온 또는 냉각이 가능한 것을 특징으로 하는 고분자 유리전이온도 측정장치
14 14
제11항 내지 제13항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 굴곡특성은 마이크로캔틸리버의 휨변화인 것을 특징으로 하는 유리전이온도 측정장치
15 15
제14항에 있어서, 상기 마이크로캔틸리버는 압전형 소자인 것을 특징으로 하는 유리전이온도 측정장치
16 16
제11항 또는 제12항에서, 상기 유리전이온도는 가열시 엔탈피 이완 후, 휨 기울기 변화인 것을 특징으로 하는 유리전이온도 측정장치
17 17
캔틸리버의 고분자 상변이 측정 센서로서의 용도
18 18
제17항에 있어서, 상기 상변이 특성은 유리전이, 용융, 및 열분해인 것을 특징으로 하는 용도
19 19
캔틸리버의 일면에 고분자 박막을 형성하는 단계; 상기 고분자 박막이 형성된 캔틸리버의 온도를 변화시키는 단계; 및 캔틸리버의 온도에 따른 굴곡 특성을 측정하는 단계; 를 포함하는 고분자 상변이 측정 방법
20 20
제19항에 있어서, 상기 온도는 고분자의 유리전이온도, 용융온도, 및 열분해온도를 포함하는 고분자 상변이 측정 방법
21 21
제19항에 있어서, 상기 캔틸리버의 두께가 0
22 22
제19항 또는 제20항에 있어서, 캔틸리버의 굴곡특성은 광학적 수단, 전기적 수단 또는 이들의 결합으로 이루어지는 고분자 상변이 측정방법
23 23
제19항 또는 제20항에 있어서,상기 굴곡특성은 온도 변화에 따른 휨 변화의 기울기인 고분자 상변이 측정방법
24 24
제19항 또는 제20항에 있어서, 상기 온도 변화는 승온 또는 냉각인 고분자 상변이 측정방법
25 25
제19항 또는 제20항에 있어서, 상기 고분자 박막은 코팅 또는 증착으로 이루어지는 상변이 측정방법
26 26
고분자 박막이 도핑되는 압전형 마이크로캔틸리버와 온도 변화에 따른 휨변화를 전기신호로 변환하는 회로를 포함하는 상변이 온도 측정 센서
27 27
고분자 박막이 도핑되는 압전형 마이크로캔틸리버와 온도 변화에 따른 휨변화를 전기신호로 변환하는 회로를 포함하는 상변이 온도 측정용 칩
지정국 정보가 없습니다
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1 WO2009125886 WO 세계지적재산권기구(WIPO) FAMILY

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1 WO2009125886 WO 세계지적재산권기구(WIPO) DOCDBFAMILY
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