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AFM을 이용한 핵산의 서열 분석 방법

  • 기술번호 : KST2015169879
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요약 본 발명은 원자힘 현미경 (AFM, atomic force microscope)을 이용한 염기 서열 분석 방법에 대한 것으로, 특히 AFM용 캔틸레버의 팁에 부착된 중합효소 및 프라이머와, dNTP가 부착된 기판 상의 dNTP 사이의 물리적인 힘을 통해 핵산의 염기 서열을 분석하는 것을 특징으로 한다.
Int. CL C12Q 1/68 (2006.01) C12N 15/11 (2006.01)
CPC C12Q 1/6869(2013.01) C12Q 1/6869(2013.01)
출원번호/일자 1020130158969 (2013.12.19)
출원인 엘지전자 주식회사, 포항공과대학교 산학협력단
등록번호/일자
공개번호/일자 10-2015-0071876 (2015.06.29) 문서열기
공고번호/일자
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 공개
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2018.12.13)
심사청구항수 10

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 엘지전자 주식회사 대한민국 서울특별시 영등포구
2 포항공과대학교 산학협력단 대한민국 경상북도 포항시 남구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 심봉주 대한민국 서울 서초구
2 박준원 대한민국 경상북도 포항시 남구
3 김영규 대한민국 경상북도 포항시 남구
4 조성문 대한민국 서울 서초구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 김용인 대한민국 서울특별시 송파구 올림픽로 ** (잠실현대빌딩 *층)(특허법인(유한)케이비케이)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2013.12.19 수리 (Accepted) 1-1-2013-1163383-69
2 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.02.25 수리 (Accepted) 4-1-2014-5024386-11
3 [대리인사임]대리인(대표자)에 관한 신고서
[Resignation of Agent] Report on Agent (Representative)
2014.12.02 수리 (Accepted) 1-1-2014-1172929-33
4 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2015.05.22 수리 (Accepted) 4-1-2015-5068349-97
5 [심사청구]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2018.12.13 수리 (Accepted) 1-1-2018-1252144-13
6 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2019.02.15 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
7 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2019.05.24 수리 (Accepted) 9-1-2019-0024572-68
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.11.20 수리 (Accepted) 4-1-2019-5243581-27
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.11.22 수리 (Accepted) 4-1-2019-5245997-53
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.11.25 수리 (Accepted) 4-1-2019-5247115-68
11 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2020.01.17 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2020-0044259-57
12 거절결정서
Decision to Refuse a Patent
2020.04.29 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2020-0302528-19
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2020.05.28 수리 (Accepted) 4-1-2020-5118228-40
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번호 청구항
1 1
원자힘 현미경(AFM, atomic force microscope)의 캔틸레버 팁(cantilever tip)에 중합효소(polymerase) 및 프라이머(primer)가 각각 부착되고, 상기 중합효소 및 상기 프라이머와, 분석하고자 하는 핵산이 결합되어 핵산-중합효소 복합체(nucleic acid-polymerase complex)를 형성하는 단계; 상기 캔틸레버 팁이 기판에 고정된 dNTP 구역 통과시 발생되는 신호를 읽어 핵산의 염기 서열에 따라 상보적인 dNTP를 인식하는 단계; 상기 인식된 상보적인 dNTP를 염기 서열로 합성하는 단계;상기 중합효소가 표적 핵산의 다음 위치로 이동하는 단계; 및 상기 인식, 합성, 이동 단계를 핵산의 염기 서열 분석이 완료될 때까지 반복하는 단계를 포함하는 AFM을 이용한 핵산의 염기 서열 분석 방법
2 2
제 1 항에 있어서, 원자힘 현미경의 캔틸레버 팁에 중합효소 및 프라이머가 각각 부착되고, 상기 중합효소 및 프라이머와 분석하고자 하는 핵산이 결합되어 핵산-중합효소 복합체를 형성하는 방법은, 프라이머가 결합된 주형 핵산을 중합효소에 결합시켜 핵산-중합효소 복합체를 형성하는 단계; 및상기 복합체에서 중합효소 및 프라이머가 AFM의 캔틸레버 팁에 각각 부착되는 단계를 포함하는 것인 AFM을 이용한 표적 핵산의 염기 서열 분석 방법
3 3
제 2 항에 있어서, 주형 핵산과 분석하고자 하는 핵산이 서로 상이한 경우, 상기 부착 단계 후, 주형 핵산을 씻어내는 단계; 및 분석의 대상이 되는 핵산을 첨가하는 단계를 더욱 포함하는 것인 AFM을 이용한 표적 핵산의 염기 서열 분석 방법
4 4
제 1 항에 있어서, 상기 캔틸레버 팁에 덴드론 분자(dendron molecular)를 추가적으로 부착하여 중합효소 및 프라이머의 부착을 매개하는 것인 AFM을 이용한 표적 핵산의 염기 서열 분석 방법
5 5
제 4 항에 있어서, 상기 덴드론 분자(dendron molecular)는 3세대 덴드론 분자인 것인 AFM을 이용한 표적 핵산의 염기 서열 분석 방법
6 6
제 1 항에 있어서, 상기 기판에는 dNTP가 종류별로 구분되어 배열되어 있는 것인 AFM을 이용한 표적 핵산의 염기 서열 분석 방법
7 7
제 1 항에 있어서, 상기 기판에 덴드론 분자(dendron molecular)를 추가적으로 부착하여 dNTP의 고정을 매개하는 것인 AFM을 이용한 표적 핵산의 염기 서열 분석 방법
8 8
제 7 항에 있어서, 상기 덴드론 분자(dendron molecular)는 3세대 덴드론 분자인 것인 AFM을 이용한 표적 핵산의 염기 서열 분석 방법
9 9
제 1 항에 있어서, 상기 합성 단계는 상기 인식 단계와 동일한 공간에서 이루어지는 것인 AFM을 이용한 표적 핵산의 염기 서열 분석 방법
10 10
제 1 항에 있어서, 상기 합성 단계는, 상기 인식 단계의 기판과 분리된 단일 dNTP 용액 내에서 이루어지는 것인 AFM을 이용한 표적 핵산의 염기 서열 분석 방법
지정국 정보가 없습니다
패밀리정보가 없습니다
국가 R&D 정보가 없습니다.