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방사광 스침각입사 산란장치 제어방법

  • 기술번호 : KST2015169933
  • 담당센터 : 대구기술혁신센터
  • 전화번호 : 053-550-1450
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 방사광의 입사각도를 정밀하게 제어할 수 있고, 시료의 온도를 용이하게 조절할 수 있도록, 시료제어부와 온도조절부를 초기화하는 단계와, 상기 시료제어부의 스테핑 모터 구동부를 제어작동시켜 진공 시료챔버를 정렬하는 단계, 상기 시료제어부의 고니오미터 구동부를 제어작동시켜 시료에 대한 방사광의 입사각을 보정하는 단계, 상기 온도조절부를 제어작동하여 시료가 놓여있는 시료대의 온도를 조절하는 단계를 포함하는 방사광 스침각입사 산란장치 제어방법을 제공한다.방사광, 입사각, 산란, 주제어부, 스테핑모터구동부, 고니오미터구동부
Int. CL G01N 21/71 (2006.01.01) G01N 23/20 (2018.01.01)
CPC G01N 21/71(2013.01) G01N 21/71(2013.01) G01N 21/71(2013.01) G01N 21/71(2013.01)
출원번호/일자 1020050135194 (2005.12.30)
출원인 포항공과대학교 산학협력단, 학교법인 포항공과대학교
등록번호/일자 10-0721905-0000 (2007.05.18)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20070528) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 소멸
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2005.12.30)
심사청구항수 8

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 포항공과대학교 산학협력단 대한민국 경상북도 포항시 남구
2 학교법인 포항공과대학교 대한민국 경상북도 포항시 남구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이문호 대한민국 경상북도 포항시 남구
2 이병두 대한민국 경상북도 포항시 남구
3 윤진환 대한민국 경상북도 포항시 남구
4 진경식 대한민국 경상북도 포항시 남구
5 허규용 대한민국 경상북도 포항시 남구
6 진상우 대한민국 경상북도 포항시 남구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 유미특허법인 대한민국 서울특별시 강남구 테헤란로 ***, 서림빌딩 **층 (역삼동)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 포항공과대학교 산학협력단 대한민국 경상북도 포항시 남구
2 학교법인 포항공과대학교 대한민국 경북 포항시 남구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2005.12.30 수리 (Accepted) 1-1-2005-0783787-76
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2006.10.12 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2006.11.14 수리 (Accepted) 9-1-2006-0071826-02
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2006.12.07 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2006-0731758-81
5 의견서
Written Opinion
2007.01.22 수리 (Accepted) 1-1-2007-0062527-25
6 명세서등보정서
Amendment to Description, etc.
2007.01.22 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2007-0062529-16
7 등록결정서
Decision to grant
2007.05.08 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2007-0251478-11
8 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2007.12.28 수리 (Accepted) 4-1-2007-5195152-79
9 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.06.13 수리 (Accepted) 4-1-2013-0025573-58
10 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.02.25 수리 (Accepted) 4-1-2014-5024386-11
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.07.25 수리 (Accepted) 4-1-2019-5149263-30
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.11.20 수리 (Accepted) 4-1-2019-5243581-27
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.11.22 수리 (Accepted) 4-1-2019-5245997-53
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.11.25 수리 (Accepted) 4-1-2019-5247115-68
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
구조를 분석할 박막 시료가 장착되는 시료대와 이 시료대가 위치하는 진공 시료챔버를 포함하는 시료장착부와, 상기 시료장착부를 회전시켜 방사광의 입사각을 조절하는 고니오미터 구동부와 상기 시료장착부를 방사광에 대해 상하좌우로 이동시키기 위한 스테팅 모터 구동부를 포함하는 시료제어부, 상기 시료장착부의 승온 및 강온을 조절하는 온도조절부, 상기 시료제어부와 온도조절부에 제어 명령을 전달하고 제어명령과 제어결과를 저장 및 디스플레이하는 주제어부를 포함하는 방사광 스침각입사 산란장치의 제어방법에 있어서, 상기 시료제어부와 온도조절부를 초기화하는 단계와;상기 시료제어부와 온도조절부에 인가할 소정의 설정값 및 제어 명령을 입력하는 단계;상기 설정값과 제어명령에 따라 시료제어부의 스테핑 모터 구동부를 동작시켜 진공 시료챔버를 정렬하는 단계;상기 설정값과 제어 명령에 따라 시료제어부의 고니오미터 구동부를 동작시켜 입사각을 보정 및 조절하는 단계;상기 온도조절부로부터 시료가 놓여있는 시료대의 온도를 입력받고 상기 설정값과 제어 명령에 따라 상기 시료대의 온도를 제어하는 단계를 포함하는 방사광 스침각입사 산란장치 제어방법
2 2
제 1 항에 있어서,상기 시료대의 온도를 제어하는 단계 이후에, 상기 시료대의 위치 또는 입사각 또는 온도 제어명령과 제어결과를 저장 및 디스플레이하는 단계를 포함하는 방사광 스침각입사 산란장치 제어방법
3 3
제 1 항에 있어서, 상기 설정값과 제어 명령을 입력하는 단계는 상기 진공 시료챔버의 위치와 상기 시료대의 입사각도 및 온도에 대한 설정값 및 제어명령을 입력시키는 방사광 스침각입사 산란장치 제어방법
4 4
제 1 항에 있어서, 상기 진공 시료챔버를 정렬시키는 단계는 시료가 방사광의 중앙을 지나가게 정렬시키는 방사광 스침각입사 산란장치 제어방법
5 5
제 1 항에 있어서, 상기 입사각을 보정 및 조절하는 단계는 고니오미터를 설정값보다 큰 값으로 제어작동시키는 과정과, 설정값까지 역방향으로 제어작동시키는 과정을 포함하여, 고니오미터의 모터 역회전에 의한 입사각의 오차를 제거하도록 된 방사광 스침각입사 산란장치 제어방법
6 6
제 1 항에 있어서, 상기 입사각을 보정 및 조절하는 단계는 방사광에 대해 시료가 수평이 되었을 때를 0으로 보정하는 과정과, 입사각을 조절하는 과정을 포함하는 방사광 스침각입사 산란장치 제어방법
7 7
제 1 항에 있어서, 상기 입사각을 보정 및 조절하는 단계는 상기 진공 시료챔버를 정렬하는 단계와 동시에 이루어지는 방사광 스침각입사 산란장치 제어방법
8 8
제 1 항에 있어서, 상기 시료대의 온도는 영하 80℃ ~ 영상 1000℃ 범위로 조절되는 방사광 스침각입사 산란장치 제어방법
지정국 정보가 없습니다
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1 WO2007078085 WO 세계지적재산권기구(WIPO) FAMILY

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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 WO2007078085 WO 세계지적재산권기구(WIPO) DOCDBFAMILY
국가 R&D 정보가 없습니다.