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오믹 전극 및 그 형성 방법, 이를 구비하는 반도체 발광소자

  • 기술번호 : KST2015169936
  • 담당센터 : 대구기술혁신센터
  • 전화번호 : 053-550-1450
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 본 발명은 발광층으로 기능하는 질화물계 반도체층 상에 형성되며 Al 합금으로 이루어진 접촉층과, 상기 접촉층 상에 형성되고 일부 입자가 상기 반도체층으로 내방 확산되며 Ag 금속으로 이루어진 반사층 및 상기 반사층 상에 형성되어 상기 Ag 반사층의 외방 확산을 억제하는 보호층을 포함하는 오믹 전극 및 그 형성 방법, 이를 구비하는 반도체 발광 소자를 제공한다.이와 같은, 본 발명은 열처리시 계면 반응으로 인하여 반사층과 발광층이 직접 오믹 접촉을 이루므로 강한 접착력과 함께 낮은 접촉 저항을 가지며, 열처리시 접촉층과 보호층이 반사층의 외방 확산을 억제하므로, 높은 광 반사도와 함께 우수한 열적 안정성을 갖는다.오믹 전극, LED, 발광 소자, p형 전극, 반사막, Ag, Al.
Int. CL H01L 33/44 (2014.01) H01L 33/36 (2014.01)
CPC
출원번호/일자 1020060121597 (2006.12.04)
출원인 포항공과대학교 산학협력단, 서울바이오시스 주식회사
등록번호/일자 10-0845037-0000 (2008.07.02)
공개번호/일자 10-2008-0012107 (2008.02.11) 문서열기
공고번호/일자 (20080709) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보 대한민국  |   1020060072895   |   2006.08.02
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2006.12.04)
심사청구항수 11

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 포항공과대학교 산학협력단 대한민국 경상북도 포항시 남구
2 서울바이오시스 주식회사 대한민국 경기도 안산시 단원구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이종람 대한민국 서울 강남구
2 이상한 대한민국 대전 대덕구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 남승희 대한민국 서울특별시 강남구 역삼로 ***, *층(역삼동, 청보빌딩)(아인특허법률사무소)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 포항공과대학교 산학협력단 대한민국 경상북도 포항시 남구
2 서울바이오시스 주식회사 대한민국 경기도 안산시 단원구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 특허출원서
Patent Application
2006.12.04 수리 (Accepted) 1-1-2006-0898508-53
2 선행기술조사의뢰서
Request for Prior Art Search
2007.08.03 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
3 선행기술조사보고서
Report of Prior Art Search
2007.09.17 수리 (Accepted) 9-1-2007-0056891-97
4 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2007.11.27 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2007-0634597-63
5 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2007.12.28 수리 (Accepted) 4-1-2007-5195152-79
6 [지정기간연장]기간연장(단축, 경과구제)신청서
[Designated Period Extension] Application of Period Extension(Reduction, Progress relief)
2008.01.28 수리 (Accepted) 1-1-2008-0069161-61
7 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2008.02.27 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2008-0145438-74
8 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2008.02.27 수리 (Accepted) 1-1-2008-0145439-19
9 [출원인변경]권리관계변경신고서
[Change of Applicant] Report on Change of Proprietary Status
2008.06.19 수리 (Accepted) 1-1-2008-0438819-50
10 등록결정서
Decision to grant
2008.06.26 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2008-0342893-92
11 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.06.13 수리 (Accepted) 4-1-2013-0025573-58
12 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2013.09.17 수리 (Accepted) 4-1-2013-5126387-92
13 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.02.25 수리 (Accepted) 4-1-2014-5024386-11
14 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.07.25 수리 (Accepted) 4-1-2014-5089977-41
15 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2014.09.17 수리 (Accepted) 4-1-2014-5110518-03
16 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.11.20 수리 (Accepted) 4-1-2019-5243581-27
17 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.11.22 수리 (Accepted) 4-1-2019-5245997-53
18 출원인정보변경(경정)신고서
Notification of change of applicant's information
2019.11.25 수리 (Accepted) 4-1-2019-5247115-68
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
발광층으로 기능하는 질화물계 반도체층 상에 형성되며 Al 합금으로 이루어진 접촉층과,상기 접촉층 상에 형성되고 일부 입자가 상기 반도체층으로 내방 확산되며 Ag 금속으로 이루어진 반사층과,상기 반사층 상에 형성되어 상기 반사층의 외방 확산을 억제하는 보호층을 포함하고,상기 접촉층으로는 Mg, Cu, In, Sn 중에서 선택되는 어느 하나의 금속 및 Al 금속을 포함하는 합금이 사용되는 것을 특징으로 하는 오믹 전극
2 2
청구항 1에 있어서,상기 접촉층의 두께는 2nm ~ 5nm, 상기 반사층의 두께는 150nm ~ 5000nm, 상기 보호층의 두께는 40nm ~ 100nm 인 것을 특징으로 하는 오믹 전극
3 3
삭제
4 4
청구항 1에 있어서,상기 보호층으로는 Ru, Ir, Rh, Pt, W, Ta, Co 중에서 선택되는 어느 하나의 금속이 사용되는 것을 특징으로 하는 오믹 전극
5 5
발광층으로 기능하는 질화물계 반도체층 상에 형성되는 오믹 전극의 형성 방법에 있어서,상기 반도체층 상에 Al 합금으로 이루어진 접촉층, Ag 금속으로 이루어진 반사층 및 상기 반사층의 외방 확산을 억제하는 보호층을 순차적으로 적층하는 단계와,상기 반사층에서 내방 확산된 일부 입자들에 의해 상기 반도체층과의 계면에 오믹 접촉이 형성되도록 상기 접촉층, 반사층 및 보호층을 포함하는 구조물에 대한 열처리 공정을 실시하는 단계를 포함하고,상기 Al 합금은 Al 금속과, Mg, Cu, In, Sn 중 어느 하나의 금속으로 형성하는 오믹 전극의 형성 방법
6 6
삭제
7 7
청구항 5에 있어서,상기 보호층으로는 Ru, Ir, Rh, Pt, W, Ta, Co 중에서 선택되는 어느 하나의 금속을 사용하는 것을 특징으로 하는 오믹 전극의 형성 방법
8 8
청구항 5에 있어서,상기 열처리 공정은 200℃ ~ 600 ℃ 의 온도에서 실시하는 것을 특징으로 하는 오믹 전극의 형성 방법
9 9
청구항 5에 있어서,상기 열처리 공정은 산소를 포함하는 분위기에서 실시하는 것을 특징으로 하는 오믹 전극의 형성 방법
10 10
청구항 5에 있어서,상기 산소를 포함하는 분위기는 산소 분위기, 대기 분위기, 산소와 질소의 혼합 분위기 및 산소와 아르곤의 혼합 분위기 중 어느 하나의 분위기인 것을 특징으로 하는 오믹 전극의 형성 방법
11 11
발광층으로 기능하는 질화물계 반도체층과,상기 반도체층 상에 형성되는 오믹 전극을 포함하고,상기 오믹 전극은,발광층으로 기능하는 질화물계 반도체층 상에 형성되며 Al 합금으로 이루어진 접촉층과, 상기 접촉층 상에 형성되고 일부 입자가 상기 반도체층으로 내방 확산되며 Ag 금속으로 이루어진 반사층 및 상기 반사층 상에 형성되어 상기 반사층의 외방 확산을 억제하는 보호층을 포함하며,상기 Al 합금은 Al 금속과, Mg, Cu, In, Sn 중 어느 하나의 금속으로 이루어진 반도체 발광 소자
12 12
청구항 11에 있어서,상기 반도체층은 순차로 적층된 n형층, 활성층, p형층을 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 발광 소자
13 13
삭제
14 14
청구항 11에 있어서,상기 보호층으로는 Ru, Ir, Rh, Pt, W, Ta, Co 중에서 선택되는 어느 하나의 금속이 사용되는 것을 특징으로 하는 반도체 발광 소자
지정국 정보가 없습니다
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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 US08093618 US 미국 FAMILY
2 US20100084682 US 미국 FAMILY
3 WO2008069429 WO 세계지적재산권기구(WIPO) FAMILY

DOCDB 패밀리 정보

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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 US2010084682 US 미국 DOCDBFAMILY
2 US8093618 US 미국 DOCDBFAMILY
국가 R&D 정보가 없습니다.