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사파이어(Al2O3) 기판 위에 갈륨나이트라이드(GaN) 박막을 증착시키는 박막증착단계와;상기 갈륨나이트라이드(GaN) 박막 위에 소스-드레인영역을 형성시키는 소자영역형성단계와;상기 갈륨나이트라이드(GaN) 박막 위에 산소공급률 1~15sccm 하에서 갈륨옥사이드(Ga2O3) 박막을 상기 갈륨나이트라이드(GaN) 박막에 대해 에피탁셜(epitaxial)하게 증착시켜 절연층을 형성시키는 게이트절연층형성단계와;상기 게이트절연층 위에 투명전도성 산화물 박막을 형성시키는 게이트전극형성단계;를 포함하여 구성됨을 특징으로 하는 갈륨나이트라이드 박막 위에 에피탁셜 성장된 갈륨옥사이드 투명 전계효과 트랜지스터 제조방법
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제 1항에 있어서, 상기 소자영역형성단계의 소스-드레인영역은 투명전도성 산화물로 형성시키는 것을 특징으로 하는 갈륨나이트라이드(GaN) 박막 위에 에피탁셜(epitaxial) 성장된 갈륨옥사이드(Ga2O3) 투명 전계효과 트랜지스터 제조방법
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제 2항에 있어서, 상기 투명전도성 산화물은 AZO 또는 ITO인 것을 특징으로 하는 갈륨나이트라이드 박막 위에 에피탁셜 성장된 갈륨옥사이드 투명 전계효과 트랜지스터 제조방법
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제 2항에 있어서, 게이트절연층형성단계는,펄스레이저증착법으로 갈륨옥사이드(Ga2O3)층을 증착시키는 것을 특징으로 하는 갈륨나이트라이드 박막 위에 에피탁셜 성장된 갈륨옥사이드 투명 전계효과 트랜지스터 제조방법
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제 4항에 있어서, 상기 게이트전극형성단계의 투명전도성 산화물은 AZO 또는 ITO인 것을 특징으로 하는 갈륨나이트라이드 박막 위에 에피탁셜 성장된 갈륨옥사이드 투명 전계효과 트랜지스터 제조방법
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사파이어(Al2O3) 기판 상면에 금속유기화학증착법에 의해 형성된 갈륨나이트라이드(GaN) 박막층과;상기 갈륨나이트라이드(GaN) 박막층 상면에 펄스레이저증착법 또는 교류스파터링증착법에 의해 형성된 소스-드레인영역층과;상기 갈륨나이트라이드(GaN) 박막 상면에 갈륨옥사이드(Ga2O3)를 펄스레이저증착법에 의해 산소공급률 1~15sccm 하에서 상기 갈륨나이트라이드(GaN) 박막에 대해 에피탁셜(epitaxial)하게 증착시킴에 의해 형성된 게이트절연층과;상기 게이트절연층 상면에 투명전도성 산화물을 펄스레이저증착법 또는 교류스파터링증착법에 의해 증착시킴에 의해 형성된 게이트전극;을 포함하여 구성됨을 특징으로 하는 갈륨나이트라이드 박막 위에 에피탁셜 성장된 갈륨옥사이드 투명 전계효과 트랜지스터
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제 6항에 있어서, 상기 소스-드레인영역층은 투명전도성 산화물로 형성되는 것을 특징으로 하는 갈륨나이트라이드 박막 위에 에피탁셜 성장된 갈륨옥사이드 투명 전계효과 트랜지스터
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8
제 7항에 있어서, 상기 투명전도성 산화물은 AZO 또는 ITO인 것을 특징으로 하는 갈륨나이트라이드 박막 위에 에피탁셜 성장된 갈륨옥사이드 투명 전계효과 트랜지스터
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제 7항에 있어서, 상기 게이트전극의 투명전도성 산화물은 AZO 또는 ITO인 것을 특징으로 하는 갈륨나이트라이드 박막 위에 에피탁셜 성장된 갈륨옥사이드 투명 전계효과 트랜지스터
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