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발광다이오드 및 이의 제조방법

  • 기술번호 : KST2015174783
  • 담당센터 : 광주기술혁신센터
  • 전화번호 : 062-360-4654
요약, Int. CL, CPC, 출원번호/일자, 출원인, 등록번호/일자, 공개번호/일자, 공고번호/일자, 국제출원번호/일자, 국제공개번호/일자, 우선권정보, 법적상태, 심사진행상태, 심판사항, 구분, 원출원번호/일자, 관련 출원번호, 기술이전 희망, 심사청구여부/일자, 심사청구항수의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 서지정보 표입니다.
요약 발광다이오드 및 이의 제조방법이 제공된다. 상세하게는, 기판 상에 형성된, 제1 n-GaN층, 제1 활성층, 제1 p-GaN층이 순차적으로 적층된 제1 발광구조물, 상기 제1 n-GaN층 상부의 일측에 형성된 제1 n형 전극, 상기 제1 발광구조물 상에 형성된 적어도 하나의 홀이 배치된 전류확산층, 상기 도전층의 적어도 하나의 홀이 배치된 영역에 형성된 제2 p-GaN층 및 상기 제2 p-GaN층 상에 형성된 제2 활성층, 제2 n-GaN층이 순차적으로 적층된 제2 발광구조물, 상기 제2 p-GaN층은, 상기 도전층의 적어도 하나의 홀을 통해 상기 제1 p-GaN층을 재성장시켜 형성된 것을 특징으로 하는 발광다이오드를 제공할 수 있다. 본 발명은 한 개의 발광다이오드에 두가지 이상의 파장을 가질 수 있는 복수개의 발광구조물을 배치함으로써 원하는 컬러의 광을 방출할 수 있는 고화소, 고휘도의 발광다이오드를 제공할 수 있다.
Int. CL H01L 33/08 (2010.01)
CPC
출원번호/일자 1020140034951 (2014.03.25)
출원인 광주과학기술원
등록번호/일자 10-1452801-0000 (2014.10.14)
공개번호/일자
공고번호/일자 (20141022) 문서열기
국제출원번호/일자
국제공개번호/일자
우선권정보
법적상태 등록
심사진행상태 수리
심판사항
구분 신규
원출원번호/일자
관련 출원번호
심사청구여부/일자 Y (2014.03.25)
심사청구항수 13

출원인

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번호 이름 국적 주소
1 광주과학기술원 대한민국 광주광역시 북구

발명자

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번호 이름 국적 주소
1 이동선 대한민국 광주광역시 북구
2 공득조 대한민국 광주광역시 북구
3 강창모 대한민국 광주광역시 북구
4 이준엽 대한민국 광주광역시 북구

대리인

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번호 이름 국적 주소
1 특허법인이상 대한민국 서울특별시 서초구 바우뫼로 ***(양재동, 우도빌딩 *층)

최종권리자

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번호 이름 국적 주소
1 주식회사 썬다이오드코리아 광주광역시 북구
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번호 서류명 접수/발송일자 처리상태 접수/발송번호
1 [우선심사신청]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Preferential Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2014.03.25 취하 (Withdrawal) 1-1-2014-0287706-09
2 [특허출원]특허출원서
[Patent Application] Patent Application
2014.03.25 수리 (Accepted) 1-1-2014-0287668-51
3 [우선심사신청]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Preferential Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2014.03.27 수리 (Accepted) 1-1-2014-0293430-99
4 [우선심사신청 취하]취하(포기)서
[Withdrawal of Request for Accelerated Examination] Request for Withdrawal (Abandonment)
2014.03.27 수리 (Accepted) 1-1-2014-0293394-32
5 선행기술조사의뢰 취소
Revocation of Request for Prior Art Search
2014.04.02 수리 (Accepted) 9-1-0000-0000000-00
6 [우선심사신청]심사청구(우선심사신청)서
[Request for Preferential Examination] Request for Examination (Request for Preferential Examination)
2014.05.09 수리 (Accepted) 1-1-2014-0435433-12
7 [우선심사신청]선행기술조사의뢰서
[Request for Preferential Examination] Request for Prior Art Search
2014.05.12 수리 (Accepted) 9-1-9999-9999999-89
8 [우선심사신청]선행기술조사보고서
[Request for Preferential Examination] Report of Prior Art Search
2014.06.10 수리 (Accepted) 9-1-2014-0045426-64
9 의견제출통지서
Notification of reason for refusal
2014.07.17 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0486095-14
10 [명세서등 보정]보정서
[Amendment to Description, etc.] Amendment
2014.09.04 보정승인간주 (Regarded as an acceptance of amendment) 1-1-2014-0849989-28
11 [거절이유 등 통지에 따른 의견]의견(답변, 소명)서
[Opinion according to the Notification of Reasons for Refusal] Written Opinion(Written Reply, Written Substantiation)
2014.09.04 수리 (Accepted) 1-1-2014-0849988-83
12 등록결정서
Decision to grant
2014.10.07 발송처리완료 (Completion of Transmission) 9-5-2014-0689461-72
번호, 청구항의 정보를 제공하는 이전대상기술 뷰 페이지 상세정보 > 청구항 표입니다.
번호 청구항
1 1
기판 상에 형성된 제1 n-GaN층, 제1 활성층, 제1 p-GaN층이 순차적으로 적층된 제1 발광구조물;상기 제1 발광구조물 상에 형성된 적어도 하나의 홀이 배치된 도전층; 상기 도전층의 상부에 형성되되, 상기 도전층의 적어도 하나의 홀의 위치와 대응되는 적어도 하나의 홀을 가진 절연층; 및상기 도전층 및 상기 절연층의 적어도 하나의 홀이 배치된 영역에 형성된 제2 p-GaN층 및 상기 제2 p-GaN층 상에 형성된 제2 활성층, 제2 n-GaN층이 순차적으로 적층된 제2 발광구조물을 포함하며,상기 제2 p-GaN층은, 상기 도전층 및 상기 절연층의 적어도 하나의 홀을 통해 상기 제1 p-GaN층을 재성장시켜 형성된 것이고,상기 제2 p-GaN층은 상기 도전층의 측벽 및 상기 절연층의 상면에 접촉되는 것을 특징으로 하는 발광다이오드
2 2
제1항에 있어서,상기 도전층이 상기 제2 발광구조물의 p형 콘택층(contact layer)으로 사용되는 것을 특징으로 하는 발광다이오드
3 3
제1항에 있어서,상기 발광다이오드는,제1 n-GaN층 상부의 일측에 형성된 제1 n형 전극;상기 제2 n-GaN층 상부의 일측에 형성된 제2 n형 전극; 및상기 도전층 상부의 일측에 형성된 p형 전극을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 발광다이오드
4 4
제3항에 있어서,상기 발광다이오드는,상기 도전층은 상기 p형 전극을 통해 전달되는 전류를 상기 제1 발광구조물 및 상기 제2 발광구조물로 확산시키는 전류확산층으로 사용되는 것을 특징으로 하는 발광다이오드
5 5
제3항에 있어서,상기 발광다이오드는, 상기 제1 발광구조물이 상기 제1 n형 전극과 상기 p형 전극의 연결로 구동되고, 상기 제2 발광구조물이 상기 제2 n형 전극과 상기 p형 전극의 연결로 구동되어, 상기 제1 발광구조물과 상기 제2 발광구조물의 동작제어가 독립적 또는 상호연관적으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 발광다이오드
6 6
제1항에 있어서,상기 도전층은 상기 제2 p-GaN층의 성장을 위한 마스크 패턴으로 사용되는 것을 특징으로 하는 발광다이오드
7 7
제1항에 있어서,상기 도전층은 Co, Ni, Pt, Au, Se, Re, Ir, Pb, Ag, Cr, Zn, 및 일함수가 4
8 8
삭제
9 9
삭제
10 10
삭제
11 11
기판 상에 제1 n-GaN층, 제1 활성층, 제1 p-GaN층을 순차적으로 적층하여 제1 발광구조물을 형성하는 단계;상기 제1 발광구조물 상에 적어도 하나의 홀을 가진 도전층을 형성하는 단계;상기 도전층의 적어도 하나의 홀의 위치와 대응되는 적어도 하나의 홀을 가진 절연층을 상기 도전층 상부에 형성하는 단계;상기 도전층 및 상기 절연층의 적어도 하나의 홀을 통해 제1 p-GaN층을 재성장시켜 상기 도전층 및 상기 절연층의 적어도 하나의 홀이 배치된 영역에 제2 p-GaN층을 형성하는 단계; 및상기 제2 p-GaN층 상에 제2 활성층, 제2 n-GaN층을 순차적으로 적층하여 제2 발광구조물을 형성하는 단계를 포함하는 것으로,상기 제2 p-GaN층은 상기 도전층의 측벽 및 상기 절연층의 상면에 접촉되는 것을 특징으로 하는 발광다이오드의 제조방법
12 12
제11항에 있어서,상기 발광다이오드의 제조방법은,상기 제2 발광구조물을 형성하는 단계 이후에,상기 제2 n-GaN층 상부의 일측에 제2 n형 전극을 형성하는 단계; 및상기 도전층 상부의 일측에 p형 전극을 형성하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 발광다이오드의 제조방법
13 13
제11항에 있어서,상기 제1 발광구조물 상에 적어도 하나의 홀을 가진 도전층을 형성하는 단계는,상기 제1 발광구조물 상에 도전층을 증착하는 단계; 및리소그래피 공정을 통해 상기 증착된 도전층에 적어도 하나의 홀이 배치된 패턴을 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 발광다이오드의 제조방법
14 14
제11항에 있어서,상기 도전층은 10nm 내지 1μm의 두께로 형성되는 것을 특징으로 하는 발광다이오드의 제조방법
15 15
제11항에 있어서,상기 제2 p-GaN층을 형성하는 단계는 선택적 영역 성장(Selective Area Growth, SAG)방법을 통해 수행되는 것을 특징으로 하는 발광다이오드의 제조방법
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삭제
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제11항에 있어서,상기 절연층은 SiO2, SOG(spin on glass), 또는 900℃ 이하의 온도에서 내열성을 갖는 물질 중 선택되는 어느 하나로 형성하는 것을 특징으로 하는 발광다이오드의 제조방법
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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 CN106165125 CN 중국 FAMILY
2 US09893233 US 미국 FAMILY
3 US20170133553 US 미국 FAMILY
4 WO2015147390 WO 세계지적재산권기구(WIPO) FAMILY

DOCDB 패밀리 정보

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순번 패밀리번호 국가코드 국가명 종류
1 CN106165125 CN 중국 DOCDBFAMILY
2 CN106165125 CN 중국 DOCDBFAMILY
3 US2017133553 US 미국 DOCDBFAMILY
4 US9893233 US 미국 DOCDBFAMILY
5 WO2015147390 WO 세계지적재산권기구(WIPO) DOCDBFAMILY
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